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PR低損失化、高耐圧化、小型化の面で優位性を持つ、GeO2半導体の製膜事業…
株式会社クオルテック(本社:大阪府堺市、以下「クオルテック」)は、 「滋賀県立テクノファクトリー」内に、新規半導体材料を使用した パワー半導体の製膜における研究開発拠点を開所しました。 開所式にはクオルテックが本研究開発に関して資本業務提携し、 「琵琶湖半導体構想(案)」を推進する立命館大学発ベンチャー、 Patentix株式会社(本社:滋賀県草津市)も出席し、開所式を行いました。 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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PRオリジナル半導体メーカー認定。正規販売代理店および製造メーカーとして、…
当社は、70社を超える半導体メーカーから認定を受けており、 正規販売代理店として製品の提供を行い、製造メーカーとして製品の継続供給も行っております。 東芝、ams OSRAM、京都セミコンダクターなど様々なメーカーの オプトエレクトロニクス製品を豊富に在庫保有しており、 安定した継続供給を実現する体制を整えています。 【特長】 ■フォトカプラ、可視光LEDなど幅広い製品の在庫を保有 ■複数のパ...
メーカー・取り扱い企業: Rochester Electronics, Ltd.
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厚み測定-光学センサ『CHRocodile 2LR ver2』
非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用…
LR』と異なる新ディテクタを採用し、約2倍の厚み測定範囲、かつより高精度に測定できるようになりました。インラインでも適用可能で、CHRocodile 2LRは多くのお客様へ実績があります。Si等の半導体ウェハー厚み測定をはじめ、フイルム、樹脂、ガラス、太陽電池等の厚み測定も可能です。干渉膜厚最大16層まで対応しています。 【特長】 ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応 豊富...
メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社
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光学式エリアスキャナ「Flying Spot Scanner」
振動の影響を受けずに高速エリアスキャン。オンライン、オフライン、品質管…
【半導体アプリケーション】 ■高速BGA計測 ■高速基板検査 ■高速ウェハー厚み計測 ■高速反り計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社
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小型光学式厚み/距離測定用センサ『CHRocodile C』
コスト重視におすすめな安価なタイプ。厚み測定、距離測定用センサ。ウエハ…
■高分解能(サブミクロン Zは最小8nm~) ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、 装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意 ■多業界で豊富な実績 半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。...
メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社
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インライン検査に。70,000ポイント/秒のスキャンに対応。膜厚も測定…
当社では、最大直径80mmの3D形状測定が高速で行える 超高速光学スキャナー『Flying Spot Scanner(FSS)』と、 専用センサを組み合わせたシステムを提供しています。 平坦度、厚み、形状、縦と横の層と部品配置などを 高精度かつスピーディーに測定可能。 センサも幅広く取り揃えており、 要求される測定範囲や精度に合わせて選択できます。 【FSSの特長】 ■...
メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社
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3次元測定 - ラインセンサ『CHRocodile CLS』
サブミクロン精度で高速・広範囲を3次元形状測定。エッジや斜面にも対応で…
° エッジや急斜面に対応可能 ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、 コンパクトなユニット、装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意 ■多業界で豊富な実績 半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。...
メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社
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エリアスキャンセンサー『Flying Spot Scanner』
XYステージ不要!分光干渉原理による厚みと距離(変位)測定が可能!ウエ…
【アプリケーション】 ■家電(スマートフォン) ・等角のコーティングの厚み ・トポグラフィー ■半導体 ・高速BGA計測 ・高速基板検査 ・高速ウェハー厚み計測 ・高速反り計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社
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