【資料】道路照明柱のアンカーボルトへの適用

PR保全コスト低減・人手不足解消！橋梁などで実績のある犠牲陽極防食方式と被…

当資料では、「RFIDゆるみ検知機能付き犠牲陽極防食システム」について ご紹介しております。 システムの概要や従来技術との比較、特長などについて図・表・写真を 用いて詳しく掲載。 また、導入効果についても掲載しておりますので是非ご一読ください。 【掲載内容】 ■システムの概要 ■新技術開発の背景 ■高速道路等の鋼構造物の損傷調査例 ■従来技術と新技術の比較 ■新技術...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社内村

電子機器の受託開発・設計（ハードウェア、FPGA、ソフトウェア）

PR画像技研は、幅広くお客様の開発をお手伝いします。（一貫した開発から部分…

●ハードウェア・ファームウェア・ソフトウェアのすべてにわたって、幅広くお客様の開発をお手伝いします。 ●画像の処理、圧縮、高速伝送、認識などで豊富な経験を持っています。 ●FPGAを使用したハードウェア処理により、高速処理、リアルタイム処理を実現します。...●ハードウェア 仕様書の作成から回路図、部品リストの作成、基板アートワーク、生基板作成、部品手配、実装、評価、調整までお引き受けします...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社画像技研

EBSD解析

結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能！EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

成されていると考えられおり、当解析法では、それがどのような方向を 向いているのか(結晶方位)を解析。 IQマップ(イメージクオリティーマップ)をはじめ、IPFマップ、GRODマップ、 極点図など、様々なマップを使用します。 【特長】 ■EBSD法は、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を解析する手法 ■(株)TSLソリューションズOIM7.0結晶方位解析装置を使用 ■結晶格子...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】シリコンウエハ

測定したシリコンウエハは単結晶！IPFマップ、極点図、逆極点図は比較的…

Fマップを取得。 測定範囲内は、{001}面を表す赤色を示し、また、粒界が見られないこと から単結晶であることが確認できます。 測定したシリコンウエハは単結晶であるため、IPFマップ、極点図、 逆極点図は比較的シンプルな結果になりました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

劣化破断したカニカンの分析と超微小硬度測定

超微小硬度測定を行った事例をご紹介！写真や図を用いて分かりやすく解説！

について、断面から観察 及び元素分析、超微小硬度測定を行った事例をご紹介しています。 "超微小硬度計による硬度比較"をはじめ"破断部の面分析結果と超微小硬度 (低荷重)の関係"などを写真や図を用いて分かりやすく掲載。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■破損したカニカンの観察 ■超微小硬度計による硬度比較 ■破断部の面分析結果と超微小硬度(低荷重)の関係 ※...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBSD法による解析例

EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹…

【金ワイヤーボンド接合部　解析例】 ■逆極点図方位マップ(Inverse Pole Figure:IPFマップ) ■逆極点図を基にした結晶方位マップ ■Grain Reference Orientation Deviation:GRODマッ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】液晶材料とその分析技術

分子構造から解析する、アイテスの技術力を図や表とともにわかりやすく解説…

て一例をご紹介しています。 液晶高分子（LCP）をはじめ、IRによる構造解析やラマンによる構造解析、 GC-MS分析による低分子液晶（for LCD）のTICデータ、および検出物質などを 図や表とともに掲載。 量子レベルでの分析解析には、層の厚い技術集団「アイテス」へ、 是非ご相談ください。 【掲載内容（抜粋）】 ■液晶高分子（LCP） ■LCP（全芳香族ポリアミド）...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

太陽光パネル保守・メンテナンスに　ソラメンテ　校正および機器点検

校正・機器点検サービスのご案内です。

サービス特長 ●校正 直流電圧と抵抗（インピーダンス）の値が適正値内であるかを調べます。 試験後に、校正証明書・検査成績書・トレーサビリティ体系図を発行します。 ※弊社が実施する校正の種類は「一般校正」になります。 ※推奨する校正周期は１年です。 ※校正時に機器に異常が見つかった場合、調整費用が別途必要です。 ●点検 メーカー点...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EPMA分析における7つの分光結晶

"波長分散型X線分光器（WDS）の測定原理"や"22Tiの測定例"など…

分解能や検出感度が良く、微量成分の定量分析や マップ分析等で優れた結果を得ることが出来ます。 当資料では、"波長分散型X線分光器（WDS）の測定原理"をはじめ、 "22Tiの測定例"などを図を用いて詳しく掲載。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■波長分散型X線分光器（WDS） ■測定例 22Ti ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

Cuワイヤボンディングの接合界面について

Cuワイヤボンディングの特長や断面作製法の選択などについてご紹介してい…

ンディングの 接合界面について解説しています。 目的とワイヤ接合をはじめ、Cuワイヤボンディングの特長や 接合中央部のCu-Al化合物と微小ボイド、Cu-Al化合物の成長（拡散）などを 図や写真と共に詳しく掲載しています。 【掲載内容（抜粋）】 ■目的とワイヤ接合 ■試料及び方法 ■手順、流れ ■Cuワイヤボンディングの特長 ■断面作製法の選択 ※詳しくはPDF...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】太陽電池の不具合と解析事例

様々なアプローチにより不具合解析・分析を行った事例を掲載しています！

ルの不具合の紹介と、その解析に当たって 様々な断面加工を行い、観察・分析を行った事例を劣化要因とともに 掲載しています。 「太陽電池の基本構造」をはじめ「非破壊解析と破壊解析」について 図や写真を用いてご紹介。 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■はじめに ■太陽電池の基本構造 ■非破壊解析と破壊解析 ■種々の不具合モード ■結言 ※詳しくはPDF資料...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【X線透視・CT検査装置】チップ抵抗の観察事例

立体的に観察ができるため解析に有効なCT観察！チップ抵抗の観察事例をご…

チップ抵抗は、セラミックスの表面に薄膜状の金属膜(抵抗体)が形成された構造で、 X線像で見られるL字状の線は抵抗値を調整するために施されたトリミング痕です。 CT観察では、所望の断層図を見れて立体的に観察できるため、解析に有効。 X線観察やCT観察で不具合箇所が見つかれば、断面観察や元素分析を行い、 原因を調査します。 【チップ抵抗の観察事例】 ■CT観察 ・所...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】Cuワイヤボンディングの接合界面について

各種ワイヤボンディングや結果及び考察などを詳しく解説しています！

当資料は、半導体パッケージにおけるCuワイヤボンディングの 接合界面について掲載しています。 試料及び方法をはじめ、各種ワイヤボンディングや結果及び考察などを 図や写真と共に詳しく解説しています。 【掲載内容】 ■緒言 ■試料及び方法 ■各種ワイヤボンディング ■結果及び考察 ■結言 ■参考文献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、...

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