ハイパースペクトルカメラ Hyspex Classic

PR可視から近赤外（～2500nm)に対応。高感度・低ノイズでリモートセン…

HySpexシリーズのハイパースペクトルカメラはフィールド・ラボ・航空システムのアプリケーションにご使用いただくことが可能です。 ■高いS/N比 ■高い空間解像度、フレームレート ■可視、近赤外の波長範囲に対応した製品ラインナップ （400～1000nm/930～2500nm/960～2500nm) ■撮影条件に応じた豊富なアクセサリー 　航空機用、ラボ用、フィールド用システムでの...

メーカー・取り扱い企業： ケイエルブイ株式会社

シリコン（Si）粉末

PRSi純度2N～4N、粒度分布50nm～3mmに対応。ニーズに合わせカス…

当社は、用途に応じた純度や粒度分布のカスタマイズに対応可能な 『シリコン（Si）粉末』を提供しています。 Si純度は2N（Si＞99.0％）、3N（Si＞99.9％）、4N（Si＞99.99％）、 粒度分布は微粉末（100nm～）、粉末（1.0μm～）、粒体（1～3mm）に対応。 プラズマアーク合成により50nmまでの微粉化を実現した『超微粉末』もあり、 超微粉末はSi純度2Nに...

メーカー・取り扱い企業： 日本NER株式会社

【DSC】温度変調DSC法の紹介(高分子材料の評価)

温度変調DSCはIS法による比熱測定で、困難とされていた高温領域での比…

温度変調DSCは、通常のDSCでは得られない多くの情報が得られ、以下が可能となります ・上記のように可逆成分と不可逆成分の比較による熱履歴等の判別 ・JIS法による比熱測定では困難とされていた、1000℃付近以上の高温領域での比熱測定 ・室温以下の低温領域での比熱測定 その他、緩和現象の解析に用いる...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料DL可：AFM】走査型プローブ顕微鏡おける事例集

構造解析/弾性率測定/導電性測定などAFM走査型プローブ顕微鏡による分…

弾性測定DMA)、AFM(弾性率マッピング) による多面的解析 　・結果：小麦でんぷん粒、グルテン(蛋白質)の構造、 成分及び弾性率を把握 ■真空中AFM導電性測定 　・特長： 　 -大気の影響を低減した測定が可能（真空中測定） 　 -形状及び導電性を同時にマッピング表示可能 　 -測定エリア：最高レベ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社