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    【書籍】先端半導体製造プロセスの動向と微細化(No.2220)

    PR【試読できます】-成膜技術、リソグラフィ、エッチング、CMP、洗浄-

    書籍名:先端半導体製造プロセスの最新動向と微細化技術 --------------------- ★ムーアの法則の限界が叫ばれる中、微細化技術の開発はどこまで続くのか!   新構造、新材料の適用が進む、先端半導体製造「前工程」の最新技術を網羅した一冊 --------------------- ■ 本書のポイント 1 ・EUVリソグラフィの最新動向とレジスト、マスク、光源の技術課題 ・これ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社技術情報協会

  • タングステンなど極細線加工製品を多数展示 製品画像

    タングステンなど極細線加工製品を多数展示

    PR【2024年6月19日(水)~21日(金)機械要素技術展出展】新製品2…

    当社は、東京ビッグサイトで開催される『機械要素技術展』に 出展いたします。 円滑な表面状態で、全長に渡り安定した線径公差(±2μm)の 「NiTiワイヤ」や、シャープな端面形状の「異形ピン」などの製品を 多数展示予定です。 【出展予定製品】 ■新製品:NiTiワイヤ(φ0.025) ■新製品:異形ピン(厚み0.0127x幅0.0381x長さ10mm) ■超極細ワイヤ(φ0.0025) ■W-M...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社トクサイ 本社

  • はんだ接合部のクラックを3次元測定「QrackDroid3D」 製品画像

    はんだ接合部のクラックを3次元測定「QrackDroid3D」

    非破壊のはんだクラック3次元測定手法!AI画像検査プラットフォームをご…

    id3D』は、はんだ接合部のクラックを非破壊で 3次元測定することができ、クラックの経時的な進展観察や寿命予測を 可能とするAI画像検査プラットフォームです。 Deep Learningの技術を用いることにより、 従来のソフトでは自動検出できなかったクラックを高精度に検出。 また、SBD、BGA実装、チップコンデンサ、チップ抵抗等、 様々な部品に対してもX線CTデータを用いて測...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成も対応】 製品画像

    X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成も対応】

    より良い観察の提案が可能!高い透過力と解像度を併せ持つX線CTを導入

    ままでも多くの有益なデータを得たい、直接目視できない モジュール内部の出来栄えを確認したい、信頼性試験による劣化調査を行いたい、 といった要望が高まっています。 ”クオルテック 名古屋品質技術センター”では、高い透過力と解像度を併せ持つ X線CT「FF35」を導入。より良い観察の提案が可能です。 【特長】 ■内部構図を立体的に把握でき、任意箇所の断面画像を得られる ■二つのX...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • プリント基板の各種評価 製品画像

    プリント基板の各種評価

    プリント基板の品質の確認、検証に。

    各種電子機器等に使用する基板(リジッド基板・FPC)について、 株式会社クオルテックで培った技術を駆使し信頼度の高い評価を行い、基板品質の確認/検証を行います。 【表面処理の品質検査】 ■はんだ付けパッド評価  ・はんだ濡れ性  ・はんだ付け性  ・めっき厚測定  ・ソフトエッ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

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