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X線検査受託サービス【大型製品に対応】Nadcap認定を取得
PRギガキャストなど大型製品のX線検査に対応!
KILTではX線CTと透過X線の異なるタイプのX線装置を保有しており、 様々な材質やサイズの製品のX線検査に対応しています。 最新鋭のX線CTシステム「FF85」は、 国内最大クラスの出力を誇る600kVミニフォーカスX線管と 高精細なX線撮影に最適な225kVマイクロフォーカスX線管を搭載、 また、ラインセンサとフラットパネルの2つの検出器を搭載しており、 あらゆる対象物のCTスキャンを行って...
メーカー・取り扱い企業: TANIDA株式会社 かほく本社工場
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PR高精度・高機能と高い信頼性のすべてを兼ね備えたハイスペック超音波流量計
超音波流量計は、配管の外側に検出器を設置するだけなので、配管の加工を必要としません。 そのため工事費が大幅に削減できるほか、工事に要する時間を大幅に短縮できます。また、配管外側から検出するため、圧力損失が無く、流体非接触なので純水や薬品等の計測にも適しています。...ISTT-D9000の主な特長 ●対話式キーパッドで設定が簡単 ●小型・軽量で設置も容易に行える ●逆方向マイナス積算も...
メーカー・取り扱い企業: ハイテック株式会社
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様々なタイプのエネルギー分析器及び光電子顕微鏡をご用意しております
静電半球型エネルギー分析器、高電圧静電型エネルギー分析器、スピン電子検出器、同軸型エネルギー分析器、角度分解エネルギー分析器、光電子顕微鏡、光電子顕微鏡用オプションなどをラインナップ。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...
メーカー・取り扱い企業: シエンタ オミクロン株式会社
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サイエンス用InGaAS冷却式近赤外カメラNinoxシリーズ
世界最高レベルの高感度・低ノイズの天文観測用SWIRカメラ。
超高感度SCD社製検出器を採用し、-15℃の冷却で低暗電流と長時間の露出が可能な高感度・低ノイズのサイエンス用途向けSWIRカメラ。画素数は640x512、1280x1024から選択可能。 -80℃冷却により更なる低読...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイ・アール・システム
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蛍光寿命測定装置を要望に合わせてカスタマイズ
SPC : Time Correlated Single Photon Counting(時間相関単一光子計数法)を採用し、ナノ秒からマイクロ秒までの蛍光寿命測定が可能です。 高感度分光用CCD検出器や高性能分光器を組み合わせることで、PLスペクトル測定やPLE測定に対応。 また、ラマン測定などを組み合わせた複合化も対応可能です。評価の幅を広げられます。 既存の装置の流用や段階的なシステム...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東京インスツルメンツ
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FE電子銃でさらに美しく!フロアモデルに迫る高分解能を卓上SEMで実現
【仕様】 ■電子銃:FE電子銃 ■倍率:最大2,000,000倍 ■光学ナビゲーション:カラー、27~160倍 ■反射電子検出器:標準搭載 ■二次電子検出器:オプション ■元素分析機能:オプション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: ジャスコインタナショナル株式会社 第二事業部
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分子間相互作用解析と明視野イメージングの融合システム!
してセンサー表面上に貼り付けた細胞に光を照射し、 下部のカメラにて明視野画像を撮影 ■同時に、SPR装置としてSPR光源からセンサーに対して全反射角で レーザー光を照射し、反射光をSPR検出器で検出 ■SPR検出器は、スキャンするように得られたSPRシグナルの変化をピクセル単位で測定し、 センサーグラムとして記録 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下...
メーカー・取り扱い企業: キコーテック株式会社
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かんたん操作でコンパクト・壊れにくい!低コストな“All-in-one…
ステージ・防風シールド・防振機構が一体化 ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載、場所決め用サイドビュー観察 ■ニーズに応じて測定モードの追加搭載が可能 ■シンプルなカンチレバー交換:レーザや検出器の調整不要 ■設置後すぐに測定可能:USBケーブルを接続しソフトウエアを立ち上げるだけ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 日本カンタム・デザイン株式会社
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故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール
大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■低ノイズZ検出器を備えた正確なAFM形状イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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表面とナノ構造を測定する機能!ミリメートルから原子レベルまでをカバーし…
できるSEMドアを用いて 簡単に実行可能 ■標準のAFMカンチレバーをすべて使用できるため、機能は無制限 ■すべての一般的なAFMの動作モードをサポート ■カンチレバー交換時のレーザー/検出器の自動アライメント ■既存のAuriga SEMを簡単なドア交換でBRR機能に更新可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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約25kgの小型軽量設計!免震機構、高性能小型グリーンレーザ搭載の顕微…
マン装置と同等のラマンスペクトルが得られる コストパフォーマンスの高い製品です。 【特長】 ■小型軽量・低価格で高性能 ■免震機構付き顕微システム ■小型分光器・高性能電子冷却CCD検出器を搭載した明るい光学系 ■高性能小型グリーンレーザ搭載(メカニカルインターロック機構付き) ■レーザ光の水平照射、偏光測定に対応(オプション) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトサイエンス
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欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…
ムの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングストロームの表面粗さ測定 ■真の非接触モードによるコスト削減 ■低ノイズZ検出器による正確なAFMトポグラフィー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡
品なら、ユーザーはより多くの時間と、より優れたデータを基盤に 革新的な研究に集中することができます。 【特長】 ■クロストーク除去によるボーイングの無い正確なXYスキャン ■低ノイズZ検出器を使った正確なAFMトポグラフィー ■真のノンコンタクト(TM)モードによる最高クラスのチップ寿命、分解能 およびサンプルの保護 ■半導体/ポリマー/電池材料や炭素系材料などさまざまな材料...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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【日本版カタログ進呈中】低コスト・高機能・短納期が可能な新製品!当社が…
な直交XYスキャンができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■拡張性の高いAFMソリューション ■ボーイングのないフラットな直交XYスキャン ■低ノイズZ検出器 ■True Non Contactモードによるチップの寿命、 サンプルの保存、繰り返し精度の向上 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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