【展示会出展】SONY製センサ採用　InGaAsカメラシリーズ

PR400～1700nmの近赤外線領域に高い感度を有するInGaAs(イン…

2021年6月より大幅なプライスダウンを実現！ UVC・カメラリンク接続タイプも新登場！大好評販売中です！ 【用途】 ◆シリコンウェハー観察 ◆製品パッケージなどの欠陥検査 ◆樹脂透過による内部の検査 ◆水分の検出 ◆美術品の検査 ◆異種材料の識別 ◆近赤外線ビームの観察、検査 ◆太陽光パネルのEL発光検査 【特長】 ◆高画素タイプの130万画素(1280×1024)タ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アートレイ

超高画素 2億5000万画素/1億2700万画素 CXPカメラ

PR超高画素カメラによる広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好…

Sony社製 CMOSセンサ(Pregius IMX661/3.6型)を搭載した、1億2700万画素のCoaXPressカメラ「VCC-127CXP6」と、Canon社製CMOSセンサ(Ll8020SAM/APS-H型)を搭載した、2億5000万画素のCoaXPressカメラ「VCC-250CXP1」。どちらも超高解像度を誇り、各種外観検査(液晶・基板・半導体ウエハ・建築物等の欠陥/異物/形状)、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

太陽電池EL画像測定装置　PVX330

太陽電池の潜在欠陥を鮮明に写しだす業界実質標準、EL 画像 検査装置P…

太陽電池の潜在欠陥を検出する装置「PVXシリーズ」に、高機能低価格モデルのPVX330が加わりました。 EL画像測定装置としての基本機能を重視しながら、光学系に2400万画素の高精細カメラを搭載し、業界初のオー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

太陽光発電設備の不具合調査

太陽電池モジュールや太陽光発電設備でのお困りごとの解決策を、故障検出の…

不具合が発生している太陽光パネルに対して、不良内容の調査および原因の分析解析を行います。 パネルの状態をELや電気測定等の非破壊試験（第１段階）で調査し、故障箇所を切り出す破壊試験（第２段階）にて欠陥構造や原因物質を明らかにします。 ※調査分析は、基本的に弊社へ対象パネルを送っていただいての作業となります。 ※第１段階の調査のみ、ご希望に応じて、現地作業でも対応いたします。 株式会社ア...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

顕微EL/PLイメージング装置　PVX1000+POPLI-μ

太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

きます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

太陽電池　PL イメージングユニット　POPLI-3C

太陽電池6インチセル対応PL励起用光源。EL画像検査装置PVXシリーズ…

太陽電池は光を吸収して発電しますが、一部は発光という現象で放出しています。この光を撮像する方法をPL観測といいます。 POPLIは、バンドギャップに基づく発光波長域を観測します。もし、欠陥があれば、発生したキャリアがトラップされるため、正常領域に比べて発光輝度が下がり、その輝度差から異常部位を判定することができます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

太陽電池EL画像測定装置　PVX330

太陽電池の潜在欠陥を鮮明に写しだす業界実質標準、EL 画像 検査装置P…

太陽電池の潜在欠陥を検出する装置「PVXシリーズ」に、高機能低価格モデルのPVX330が加わりました。 EL画像測定装置としての基本機能を重視しながら、光学系に2400万画素の高精細カメラを搭載し、業界初のオー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

顕微EL/PLイメージング装置　PVX1000+POPLI-μ

太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

きます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

太陽電池　PL イメージングユニット　POPLI-3C

太陽電池6インチセル対応PL励起用光源。EL画像検査装置PVXシリーズ…

太陽電池は光を吸収して発電しますが、一部は発光という現象で放出しています。この光を撮像する方法をPL観測といいます。 POPLIは、バンドギャップに基づく発光波長域を観測します。もし、欠陥があれば、発生したキャリアがトラップされるため、正常領域に比べて発光輝度が下がり、その輝度差から異常部位を判定することができます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス