Enovasense Field Sensor

PR高速な不透明膜の厚みマッピング、内部欠陥のエリア検出が可能なレーザーフ…

フランスのEnovasense社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 本新製品は、従来のシングルポイントセンサと異なり、約１１万点を同時に測定できるエリアセンサです。 不透明体の厚みマッピングだけでなく、表面層下の欠陥、欠け、剥がれの有無を検知できます。 ■特長 　・非接触で下記が測定できます。 　　　☆不透明体の厚みマッピング...

メーカー・取り扱い企業： プレシテック・ジャパン株式会社

超高画素 2億5000万画素/1億2700万画素 CXPカメラ

PR超高画素カメラによる広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好…

Sony社製 CMOSセンサ(Pregius IMX661/3.6型)を搭載した、1億2700万画素のCoaXPressカメラ「VCC-127CXP6」と、Canon社製CMOSセンサ(Ll8020SAM/APS-H型)を搭載した、2億5000万画素のCoaXPressカメラ「VCC-250CXP1」。どちらも超高解像度を誇り、各種外観検査(液晶・基板・半導体ウエハ・建築物等の欠陥/異物/形状)、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

ハンドヘルドテスタ『MIZ-21C』

パワフルな渦電流探傷をその手に！広い運用形態に柔軟に適応するハンドヘル…

スを感じることなく広範囲を素早く 検査することを手助けします。 【特長】 ■幅広いアプリケーションに向けた設計 ■頑丈な密閉筐体 ■時間とコストの節約が可能 ■より広範囲に対応 ■欠陥検出能の向上 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テクノ電子 本社

半導体マクロ検査装置（iFocus)

半導体ウェハー検査機器、検査用カメラを２台使用し、タクトタイムを1/2…

更なしで使用することが可能。 ★２台のカメラを同時に使用することにより検査工程のタクトタイムが半減。 ★３D検査によりWLCSPパッケージなどに使用されるバンプのコプラナリティを検査。 ★自動欠陥レビュー機能 ★Waferのミスアライメントを自動補正...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人