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61件 - メーカー・取り扱い企業
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57件 - カタログ
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PR予期せぬレーザー損傷を避けるためのレーザー損傷試験をお勧めします
当社では、レーザーオプティクスの損傷を調べることが可能。 顧客に合わせてレーザーへの耐力の測定及び検査など様々な試験に対応し、 損傷原因や欠陥の特定・オプティクスの寿命推定などができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■試行錯誤の手間の削減 ■オプティクスの寿命推定が可能 ■オプティクスの品質検査(良品、不良品の判別検査) ■研磨、コーティングの最適化 ■損傷原因や...
メーカー・取り扱い企業： CBCオプテックス株式会社
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PR非破壊による内部の欠陥・状態観察が可能！ X線CTによる受託計測・解析…
進和メトロロジーセンターでは、 カールツァイス社 計測X線CT ZEISS METROTOMを所有し、受託計測業務を実施しております。 これまでの受託実績を踏まえて お客様のご要望にお応えしていきます。 検査内容 〇内部欠陥解析 〇CAD比較 〇寸法測定/幾何公差評価 〇繊維配向観察 〇肉厚測定 ○接合状態の観察 【受託依頼 フロー】 1） お問合せ（IPROS, ホームページ、Eメール...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社進和 戦略営業推進室
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非破壊/非接触！nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリン…
『En-Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の 結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。 欠陥サイズ（15nm～サブミクロン）と密度（E6～E10/cm3）の両方で ...
メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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不良及び結晶欠陥の解析に有効！幅広いクライオスタット用のインターフェイ…
『DLS-83D/1000』は、温度、周波数スキャン、C-V特性等の測定が可能な バルク内欠陥・界面準位測定装置です。 「DLS-1000」は、10^8cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な 測定に対応。ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易に行えます。 高感...
メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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見えない、見にくいナノサイズの欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化する新感覚…
・目視検査が困難なウエハ内外部の欠陥を誰でも簡単に定量的に短時間で検査・評価することが可能。 ・特殊光学系技術と特殊画像処理技術のコラボにより欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化。 ・深さ（Ｚ方向）はナノレベル、視野範囲（ＸＹ方向）はマ...
メーカー・取り扱い企業： 日本ピストンリング株式会社
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結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)
結晶欠陥分析装置 SIRM-300は、非接触、非破壊にて結晶欠陥測定が可能な光学測定器です。 様々なバルク特性解析(バルク/半導体ウェハーの表面付近の酸素、金属 堆積物、空乏層、積層欠陥、スリップライン、...
メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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高加速度試験（最大34,000rpm、100,000G）。槽内温度コン…
「遠心定加速度試験装置」は、半導体部品の構造上・機械的欠陥の検出をします。 【特徴】 ローター室保護のために鋼鉄製の二重リング銅やスライドドアを採用 回転体のアンバランス検地に非接触の渦流センサーを採用 モーターの回転数が設定値より20%を超えると...
メーカー・取り扱い企業： エア・ブラウン株式会社 電子機器部
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半導体欠陥検査装置の世界市場：メーカー、地域、タイプ、アプリケーション…
グローバル市場調査レポート出版社であるQYResearchは「世界の半導体欠陥検査装置の供給、需要、主要メーカー、2024 ～ 2030 年レポート」レポートには、世界市場、主要地域、主要国における半導体欠陥検査装置の販売量と販売収益を調査しています。同時に、半導体欠陥検査装...
メーカー・取り扱い企業： QY Research株式会社 QY Research
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結晶欠陥測定装置 (光散乱断層撮影式)
シリコンウェハーの結晶欠陥が高速測定可能。...
メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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拡張欠陥も測定可能！スペクトル線分析ができるSemiScope
『SemiScope PLIS-TEC』は、PLによる結晶欠陥の研究において 画期的な測定装置です。 PLイメージング画像で選択した線分において、その線分を1000点に分割した 各スペクトルを同時に測定することができます。 また、線分をスペクト...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社フォトンデザイン
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半導体チップのキズと不良チップを解消する革新的な性能評価手法
未来を切り拓く、革新的な半導体製造技術！キズと不良をゼロにする究極の性…
チップの欠陥改善に役立つオルテのコレット チップの質に応じた適切な材質の選定、設計により、持ち帰りエラーや引っかき傷を完全になくすことを実現！ 貴社の製造機器に合わせたカスタマイズや設計でのご依頼も...
メーカー・取り扱い企業： 有限会社オルテコーポレーション 本社
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Prestige エッチング加工製品、半導体外観検査装置カタログ
半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程で一度に行うことが可能。…
半導体の各製造工程、成膜、レジスト塗布、リソグラフィー、エッチング、CMPなど、ウェア上の各ダイに均一な製造工程を行いたいもの。 しかし、現実には異物混入、パターン欠陥や膜厚などのばらつきにより、ウェハー上にムラが発生します。 その各工程に自動化した検査装置を入れることにより、各工程の半導体工程作業の微調整を可能にします。 また、半導体のウェハーのみならず...
メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 日本法人
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高画素(5M・12M・21M)SWIR帯域の撮影や各種検査用途に応用可…
最大21Mの高解像度とSWIR波長にて検査を行うことで、通常検知できない欠陥を捉え、生産の効率化に貢献します。 【SWIRカメラ活用例】 ■ウエハ検査で、可視光下では見えないキズを発見。 ■基板のスルーホールを目立たせて見ることができ、穴の位置や大きさの検査を平易...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス
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先進のプリント基板用リペア装置もご用意！最小修正線幅5umの乾燥・焼成…
『フォトマスク・リペア装置』は、黒欠陥をレーザー加工による修正及び 白欠陥に修正材料塗布による修正を目的とした乾燥・焼成制御システムです。 前工程の検査装置の座標位置のデータを受信し、欠陥座標位置に近い所に 移動。最小修正線幅...
メーカー・取り扱い企業： A-Tech System Co., Ltd.
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超高温熱処理と優れた温度均一性の実現により、ブール・インゴット、ウエハ…
ワイドバンドギャップ半導体デバイスの歩留まりを向上するためには、応力に起因する欠陥や転位を最小限に抑える必要があります。その手法の一つとして、半導体結晶の超高温熱処理があります。c.CRYSCOO HTA高温アニール炉は、ワイドバンドギャップ半導体のバルク結晶からデバイスまでのバ...
メーカー・取り扱い企業： 伯東株式会社 本社
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実装前にチップの全数外観検査を行うことで後工程のロス低減＆歩留まり向上…
個片ベアチップの外観品質検査を行い、良品/不良品に分類する装置です。 検出事例・・・エッジクラック、欠け、傷、異物付着、変色等 標準搭載されたマルチアングル照明を使い、製品に現れる様々な欠陥モードを捉える照明条件が設定可能。 半導体ベアチップ製造メーカ様・受託メーカ様の出荷前検査に最適な装置です。 対象製品例）パワーデバイス、IC、イメージセンサ、各種センサ用ウエーハチップ ...
メーカー・取り扱い企業： 日精株式会社 本社
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ＦＰＤのセルパネル欠陥に対し、ＩＴＯパターンをカットして修正可能。
＜PDP−ITO膜パターン修正レーザー装置＞ ■概要 PDPセルリペア装置は、点灯検査後のセルパネル欠陥に対し、ガラス越しにITOパターンをカットし、輝点を原点にし、パネルの修正を全自動にて行います。 下地の誘電体等々の材料、またパターンに影響はありません。 ■特長 １．本装置は、大型ステー...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社清和光学製作所
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圧力容器 保守・保全サービス（メンテナンス）
皆様の大切な設備・機器保全のため出頭します！もしくは引き取って…
日本製鋼所M&E株式会社 営業本部