欠陥 | イプロスものづくり

PR予期せぬレーザー損傷を避けるためのレーザー損傷試験をお勧めします

当社では、レーザーオプティクスの損傷を調べることが可能。顧客に合わせてレーザーへの耐力の測定及び検査など様々な試験に対応し、損傷原因や欠陥の特定・オプティクスの寿命推定などができます。ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。【特長】 ■試行錯誤の手間の削減 ■オプティクスの寿命推定が可能 ■オプティクスの品質検査(良品、不良品の判別検査) ■研磨、コーティングの最適化 ■損傷原因や...

メーカー・取り扱い企業： CBCオプテックス株式会社

超高画素 2億5000万画素/1億2700万画素 CXPカメラ

PR超高画素カメラによる広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好…

Sony社製 CMOSセンサ(Pregius IMX661/3.6型)を搭載した、1億2700万画素のCoaXPressカメラ「VCC-127CXP6」と、Canon社製CMOSセンサ(Ll8020SAM/APS-H型)を搭載した、2億5000万画素のCoaXPressカメラ「VCC-250CXP1」。どちらも超高解像度を誇り、各種外観検査(液晶・基板・半導体ウエハ・建築物等の欠陥/異物/形状)、...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

最大2100万画素 SWIRカメラ

高画素(5M・12M・21M)SWIR帯域の撮影や各種検査用途に応用可…

最大21Mの高解像度とSWIR波長にて検査を行うことで、通常検知できない欠陥を捉え、生産の効率化に貢献します。【SWIRカメラ活用例】 ■ウエハ検査で、可視光下では見えないキズを発見。 ■基板のスルーホールを目立たせて見ることができ、穴の位置や大きさの検査を平易...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

結晶欠陥検査装置『EnVision』

非破壊/非接触！nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリン…

『En-Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。欠陥サイズ（15nm～サブミクロン）と密度（E6～E10/cm3）の両方で ...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

超高感度DLTS　バルク内欠陥・界面準位測定装置

不良及び結晶欠陥の解析に有効！幅広いクライオスタット用のインターフェイ…

『DLS-83D/1000』は、温度、周波数スキャン、C-V特性等の測定が可能なバルク内欠陥・界面準位測定装置です。「DLS-1000」は、10^8cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な測定に対応。ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易に行えます。高感...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

ED SCOPE Til　イーディースコープタイル

見えない、見にくいナノサイズの欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化する新感覚…

・目視検査が困難なウエハ内外部の欠陥を誰でも簡単に定量的に短時間で検査・評価することが可能。・特殊光学系技術と特殊画像処理技術のコラボにより欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化。・深さ（Ｚ方向）はナノレベル、視野範囲（ＸＹ方向）はマ...

メーカー・取り扱い企業：日本ピストンリング株式会社

結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

結晶欠陥分析装置 SIRM-300は、非接触、非破壊にて結晶欠陥測定が可能な光学測定器です。様々なバルク特性解析(バルク/半導体ウェハーの表面付近の酸素、金属　堆積物、空乏層、積層欠陥、スリップライン、...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

半導体部品の欠陥検出　「遠心定加速度試験装置」

高加速度試験（最大34,000rpm、100,000G）。槽内温度コン…

「遠心定加速度試験装置」は、半導体部品の構造上・機械的欠陥の検出をします。【特徴】ローター室保護のために鋼鉄製の二重リング銅やスライドドアを採用回転体のアンバランス検地に非接触の渦流センサーを採用モーターの回転数が設定値より20%を超えると...

メーカー・取り扱い企業：エア・ブラウン株式会社電子機器部

半導体欠陥検査装置産業の世界市場調査報告書2024

半導体欠陥検査装置の世界市場：メーカー、地域、タイプ、アプリケーション…

グローバル市場調査レポート出版社であるQYResearchは「世界の半導体欠陥検査装置の供給、需要、主要メーカー、2024 ～ 2030 年レポート」レポートには、世界市場、主要地域、主要国における半導体欠陥検査装置の販売量と販売収益を調査しています。同時に、半導体欠陥検査装...

メーカー・取り扱い企業： QY Research株式会社 QY Research

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

シリコンウェハーの結晶欠陥が高速測定可能。...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

2500万画素、150fpsの高速カメラ

2500万画素、150fpsの高速フレームレートの小型CoaXPres…

ルシャッタ方式、CMOSセンサ ■センササイズ1.1インチでCマウント対応 ■CXP-12×4、CXP-12×1 ■映像出力DIN端子 ■FA用途に必要な機能を搭載　外部トリガ、ROI、欠陥画素補正、シェーディング補正、ビニング（モノクロのみ）、黒レベル補正、ガンマ補正など ■ヒートシンク有/無を選択可能...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

2100万画素 CoaXPress-over-Fiberカメラ

最大425fpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPres…

t)、342fps(10bit)、250fps(12bit) レンズマウント：TFL-IIマウント外形寸法：80×80×140mm その他特徴：外部トリガ、ROI、水平反転、2×2ビニング、欠陥画素補正、シェーディング補正、ゲイン、ガンマ補正その他詳細については弊社営業部までお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

2100万画素 CoaXPress-over-Fiberカメラ

最大100Gbpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPre…

fps(10bit)、250fps(12bit) (TBD) レンズマウント：TFL-IIマウント外形寸法：80×80×150mm その他特徴：外部トリガ、ROI、水平反転、2×2ビニング、欠陥画素補正、シェーディング補正、ゲイン、ガンマ補正その他詳細については弊社営業部までお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

超高画素 2億5000万画素/1億2700万画素 CXPカメラ

超高画素カメラによる広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好…

サ(Ll8020SAM/APS-H型)を搭載した、2億5000万画素のCoaXPressカメラ「VCC-250CXP1」。どちらも超高解像度を誇り、各種外観検査(液晶・基板・半導体ウエハ・建築物等の欠陥/異物/形状)、ライン検査、計測、研究/解析、医療、アーカイブ、顕微鏡などの超高精度な撮像用途に好適です。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

測定装置『SemiScope PLIS-TEC』

拡張欠陥も測定可能！スペクトル線分析ができるSemiScope

『SemiScope PLIS-TEC』は、PLによる結晶欠陥の研究において画期的な測定装置です。 PLイメージング画像で選択した線分において、その線分を1000点に分割した各スペクトルを同時に測定することができます。また、線分をスペクト...

メーカー・取り扱い企業：株式会社フォトンデザイン

半導体チップのキズと不良チップを解消する革新的な性能評価手法

未来を切り拓く、革新的な半導体製造技術！キズと不良をゼロにする究極の性…

チップの欠陥改善に役立つオルテのコレットチップの質に応じた適切な材質の選定、設計により、持ち帰りエラーや引っかき傷を完全になくすことを実現！貴社の製造機器に合わせたカスタマイズや設計でのご依頼も...

メーカー・取り扱い企業：有限会社オルテコーポレーション本社

Prestige エッチング加工製品、半導体外観検査装置カタログ

半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程で一度に行うことが可能。…

半導体の各製造工程、成膜、レジスト塗布、リソグラフィー、エッチング、CMPなど、ウェア上の各ダイに均一な製造工程を行いたいもの。しかし、現実には異物混入、パターン欠陥や膜厚などのばらつきにより、ウェハー上にムラが発生します。その各工程に自動化した検査装置を入れることにより、各工程の半導体工程作業の微調整を可能にします。また、半導体のウェハーのみならず...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

VCC-SXCXP3M/R/NIR・VCC-2CXP2M

【SXGA/2M】小型・軽量・低価格！CoaxPressインターフェー…

VCC-2CXP2M)で85fpsでの出力が可能。（CXP3 時） ★FA用途に必要な機能を搭載グローバルトリガ―シャッター動作、ROI機能により対象画像領域を選択可能、サブサンプリング、欠陥画素補正、シェーディング補正、PoCXP 等 ★コストインパクトを訴求したモデル...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

〇特集〇小型・高速・長距離伝送が可能な高画素カメラシリーズ

基板・外観検査装置などのFA用途に最適。小型・高画素・低価格で高速フレ…

XP6。 ★長距離伝送100ｍ ★映像出力BNCコネクター。 ★ケーブル1本で高速フレームレート・長距離伝送が可能。(電源供給：PoCXP） ★FA用途に必要な機能を搭載外部トリガー、ROI機能、欠陥画素補正 PoCXP対応等機能搭載 ●モノクロ(M)・カラーモデル(R)をラインナップ　5CXP3はNIRモデルもございます...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

乾燥・焼成制御システム『フォトマスク・リペア装置』

先進のプリント基板用リペア装置もご用意！最小修正線幅5umの乾燥・焼成…

『フォトマスク・リペア装置』は、黒欠陥をレーザー加工による修正及び白欠陥に修正材料塗布による修正を目的とした乾燥・焼成制御システムです。前工程の検査装置の座標位置のデータを受信し、欠陥座標位置に近い所に移動。最小修正線幅...

メーカー・取り扱い企業： A-Tech System Co., Ltd.

セントロサーム　超高温バルクアニール炉

超高温熱処理と優れた温度均一性の実現により、ブール・インゴット、ウエハ…

ワイドバンドギャップ半導体デバイスの歩留まりを向上するためには、応力に起因する欠陥や転位を最小限に抑える必要があります。その手法の一つとして、半導体結晶の超高温熱処理があります。c.CRYSCOO HTA高温アニール炉は、ワイドバンドギャップ半導体のバルク結晶からデバイスまでのバ...

メーカー・取り扱い企業：伯東株式会社本社

パワーモジュール用ベアチップ外観検査装置『CIシリーズ』

実装前にチップの全数外観検査を行うことで後工程のロス低減＆歩留まり向上…

個片ベアチップの外観品質検査を行い、良品/不良品に分類する装置です。検出事例・・・エッジクラック、欠け、傷、異物付着、変色等標準搭載されたマルチアングル照明を使い、製品に現れる様々な欠陥モードを捉える照明条件が設定可能。半導体ベアチップ製造メーカ様・受託メーカ様の出荷前検査に最適な装置です。対象製品例）パワーデバイス、IC、イメージセンサ、各種センサ用ウエーハチップ ...

メーカー・取り扱い企業：日精株式会社本社

全自動レーザーリペア装置

ＦＰＤのセルパネル欠陥に対し、ＩＴＯパターンをカットして修正可能。

＜PDP−ITO膜パターン修正レーザー装置＞ ■概要 PDPセルリペア装置は、点灯検査後のセルパネル欠陥に対し、ガラス越しにITOパターンをカットし、輝点を原点にし、パネルの修正を全自動にて行います。下地の誘電体等々の材料、またパターンに影響はありません。 ■特長１．本装置は、大型ステー...

メーカー・取り扱い企業：株式会社清和光学製作所

ASMPT社製 AOI検査装置　Skyhawkシリーズ

自動光学検査可能装置を取り扱っております

イヤーボンディング後のワイヤー高さやボールなど　最大33項目の検査が可能・先進の2Dおよび3Dオールインワンビジョンシステムを搭載・2つの独立した検査システムを備えたデュアルヘッド・欠陥のあるダイのリジェクトや欠陥のあるワイヤーをカットする機能付　き・ディープラーニング及びAI機能・オートフォーカス機能〇その他ASMPT製取扱い装置・マルチレーザーダイシング...

メーカー・取り扱い企業：兼松ＰＷＳ株式会社

「低価格版」ウエハ・チップ外観検査装置

ウエハ工程、ダイシング工程で発生する外観欠陥を、高速かつ高精度で検査が…

WF-A2000」は、高画素カラーカメラを搭載することにより、優れた検出能力を持ち、ウエハやダイシング後にチップの外観を高速で検査できる外観検査装置です。ウエハ工程、ダイシング工程で発生する外観欠陥を、高速かつ高精度で検査が可能で、多様なパターンのチップの検査が可能です。【特長】 ■多様なパターンのチップ検査が可能です。 ■不良項目毎に画像処理によって特徴を捉え、不良の分類分けを行...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ヒューブレイン

SiC半導体評価装置「SemiScope」

フォトルミネッセンス(PL)イメージング法を用いたSiC半導体評価装置

るPLイメージング装置です。試料を移動させながらイメージング測定を行うタイリング機能を用いることで、約33億画素の解像度で6インチウェハ全面のPL画像を得ることができます。 SiCウェハの結晶欠陥を可視化。非接触・非破壊検査がPLイメージング法で短時間測定可能です。【特徴】 ○SiC半導体評価装置 ○SiCウェハの結晶欠陥を可視化 ○非接触、非破壊検査 ○PLイメージング法の...

メーカー・取り扱い企業：株式会社フォトンデザイン

熱処理加工技術『HIP処理』

20年以上の実績とノウハウがある真空熱処理サービスです。

の圧力と1000℃以上の温度との相乗効果を利用して加圧処理する、先端技術です。高温と高い等方向加圧を利用することで高付加価値製品を実現いたします。近年では、金属積層造形品の内部欠陥を除去する方法としても注目されています。【HIP営業品目】 ■鋳造欠陥、焼結欠陥の除去 ■大型、複雑形状品の処理が可能 ■焼結 ■同種、異種材の拡散接合 ※詳しくはお気軽にお問...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東都冶金本社工場

書籍『レジスト材料の基礎とプロセス最適化』

半導体、ディスプレイ、プリント基板等で欠かせないフォトレジスト材料に…

本書では、フォトレジスト技術に関する幅広い分野をカバーし、実用書としても有意義な内容を構成しています。具体的には、フォトレジスト材料、プロセス、評価・解析、処理装置までを幅広く網羅し、パターン欠陥などの歩留まり改善やトラブル対策に必須な技術も含まれており、フォトレジスト材料を扱う技術者の一助となるように構成されております。【本書の特徴】 ➢ 半導体、ディスプレイ、プリント基板等で欠...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーエムシー・リサーチ

モジュール検査装置　CM2030（カメラモジュール）

CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、…

対応することが可能。昨今RF関係の半導体など、ICパッケージの中に複数の半導体ダイを内蔵した製品が多く、それらの半導体チップ内部のサブストレート基板のワイヤーボンディングの検査、キズ、欠けなどの欠陥検査までさまざまな欠陥を検査することが可能な製品です。...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

外観検査装置　Prestige V

８インチWafer専用に開発したPrestige IIのコストダウンモ…

度仕様7μm、高スループット仕様38μmの画素分解能を用意、幅広い検査に対応 ● 照明にRGB 3色LEDを採用、パターンに応じた最適照明 ● カメラアングルを評価時に設定、装置を小型化 ● 欠陥検査とムラ検査が同時処理 ● 6/8インチ対応...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

自動テーピング装置　AT468

半導体、ダイ、パッケージソーター。チューブ、トレイ、テーピング/リール…

● チューブ、JEDECトレー、ボールフィーダー、テーピング/リール対応 ● 対応パッケージ：SOIC,QFN、TSSOP、MEMS等 ● 検査項目　〇銅などがむき出しになっているリード欠陥　〇マーキング、外観欠陥検査　〇 2台のカメラによる５面、２D/3Dリード、パッド検査　〇表裏外観検査　〇装置内８か所のテストサイト...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

自動テーピング装置　Hexa EVO+

Hexa EVO+は半導体ICのパッケージの表裏側面を検査し、テーピン…

Hexa EVO+は半導体ICのパッケージの表裏側面やボールアレイ、リードなどの３Dの外観欠陥も検査し、自動梱包するダイ、ICソータ、ハンドラ外観検査装置になります。多様な検査項目と様々なパッケージに対応することが可能です。【特長】 ● 100mm以下のパッケージの外観検査 ...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

高精密光学フィルター成膜用マグネトロンスパッタ装置

「FHR.Star.600-EOSS」は、精密な光学フィルター成膜用と…

広い多層膜の成膜など、高品位な光学薄膜成膜に特化した装置です。特徴 ■傑出した光学多層膜の再現性 ■優れた膜厚均一性 ■シリンダー型カソードとスパッタアップとの組み合わせによる　膜質の改善と欠陥の無い成膜 ■In-situモニタリングによる、成膜状態の連続監視 ■完全に自動化されたプロセス制御　 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：ティー・ケイ・エス株式会社

【展示会出展】レンズ研磨機と平面形状測定装置のご紹介

さまざまな光学面にも対応可能なレンズ研磨機や、平面形状を裏面の影響を受…

磨のラインナップ ■OptoFlat：平面形状測定用反射・透過波面測定　低コヒーレンス干渉計 ■【新登場】非球面金型検査装置：金型のDLC膜抜け・ドロップレットを自動検出 ■ガラスレンズプリフォーム欠陥検査装置：レンズPFの欠陥を自動で検出沢山の皆様の御来場をお待ちしておりますので、ぜひ弊社ブースへお立ち寄りください。 ※関連リンクよりお申し込みください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社マブチ・エスアンドティー

研磨装置　フラットパネルディスプレイ　ポイント研磨

突起の形状を認識し研磨中心位置を補正、確実に突起修正を行います。

カラーフィルター突起修正装置は、カラーフィルター上の突起欠陥の修正を行います。本機の持つ突起高さ計測システムにより、許容高さまで突起をポイント研磨修正を行います。検査装置を接続して自動化も可能です。その場合は、突起データに基づき、突起確認を行い、突起の形状を...

メーカー・取り扱い企業：株式会社サンシン

X線TV検査装置『SFXシリーズ』

高倍率・高解像度・高濃度分解能を実現！コンパクトなX線TV検査装置

超微小焦点X線源と、高感度軟X線I.I.カメラとのカップリングにより、高倍率・高解像度・高濃度分解能を実現したコンパクトな検査装置です。 BGAやCSP、電子デバイス等の試料内部の微小欠陥や、プラスチックパッケージのボイド、クラック等をリアルタイムで、より鮮明に描画する能力を備えております。高倍率は開放管タイプ、高濃度分解能は封入管タイプと、試料と目的に合わせてお選び...

メーカー・取り扱い企業：ソフテックス株式会社営業本部

X線検査装置『アドオン型CTユニット』

画像再合成時間が約10秒！標準型X線装置内部に組込可能な3次元CTユニ…

『アドオン型CTユニット』は、標準型X線装置内部に組み込み可能な 3次元CTユニットです。 CT画像の再合成とレンダリングソフト（3次元表現）を一体化、欠陥など3次元立体画像として表示できます。フォーカシング機能により、回転軸キャリブレーションが不要です。【特長】 ■演算処理高速化・画像高品質化を実現 ■画像再合成が約10秒＜500×5...

メーカー・取り扱い企業：ソフテックス株式会社営業本部

スパッタリング装置『Star.500-EOSS(R)』

光学用の多層膜を高均一かつ再現性に優れた成膜を行う事を目的に開発！

板加熱機構も組み込みできます。【特長とメリット】 ■傑出した光学多層膜の再現性 ■優れた膜厚均一性 ■シリンダー型スパッタカソードとスパッタアップとの組み合わせによる　膜質の改善と欠陥の無い成膜 ■円筒型ターゲットによる長寿命ターゲットライフと　成膜レート変動の最小化 ■完全に自動化されたプロセス制御　 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください...

メーカー・取り扱い企業：ティー・ケイ・エス株式会社

BS-60610BDS ボンバード蒸着源

ハイレート対応、厚膜成膜、大型装置対応

ハイレート対応、厚膜成膜、大型装置対応等の特長が得られます。〇特長・ライナー大容量化。・ハイレート化・大型装置対応。・厚膜対応。赤外用途への対応も可能・レート安定化・低ダメージ・低欠陥・低吸収 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：アズサイエンス株式会社松本本社

BS-60310BDS ボンバード蒸着源

ダメージレス蒸着

、電子衝撃 (ボンバード) によりライナーを加熱します。蒸着材料には直接電子ビームを当てません。〇特長・間接加熱方式・成膜中の反射電子ダメージとX線ダメージなし・スプラッシュが抑制され、低欠陥成膜可能・分解・組成ずれなし・光学吸収が少ない。・安定成膜可能 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：アズサイエンス株式会社松本本社

【研究・開発向け分析前加工機械】超精密研磨装置『PERET』

未経験者でも簡単にできる精密研磨装置！難しい高精度な前処理が誰でもでき…

みを解決するような製品になっています。斜め研磨により、1回の研磨面から広い範囲を対象にSEMやXPSでの深さ方向の観察・分析が可能になります。また、浮彫研磨により研磨面内の広いエリア内の欠陥や材質違いの分布などを精密に観察・分析することができます。【特長】 ■nm削ることで発生する化学変質を起こさない ■浮彫研磨、斜め研磨、樹脂の変質無し研磨 ■高分解能10nm単位の研磨...

メーカー・取り扱い企業：株式会社パルメソ

万能ダイヤモンド研磨機『ND-10』

あらゆる研磨方向に対応可能な万能ダイヤモンド研磨機！単結晶ダイヤモンド…

使用して面修正 ■ABICOスコープ（機上検査）　・ABICOスコープ（オプション）により、機械上で工具の形状検査が可能　・最大3000倍で観察できる顕微鏡システムで0.3マイクロレベルの欠陥判別可能　・被研削工具を取り外さなくても硬度な機上品質検査ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アビコ技術研究所

【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価

STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜…

を反映したコントラスト像）が取得できます。加えて以下の特長もあります。・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察・観察対象が結晶質であるかの判断・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得本事例では「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」を紹介しています。本事例は問題なしの結果でしたが、異常検出も可能です。ぜひPDF資料をご一...

メーカー・取り扱い企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社

ハンドヘルドテスタ『MIZ-21C』

パワフルな渦電流探傷をその手に！広い運用形態に柔軟に適応するハンドヘル…

スを感じることなく広範囲を素早く検査することを手助けします。【特長】 ■幅広いアプリケーションに向けた設計 ■頑丈な密閉筐体 ■時間とコストの節約が可能 ■より広範囲に対応 ■欠陥検出能の向上 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社テクノ電子本社

半導体マクロ検査装置（iFocus)

半導体ウェハー検査機器、検査用カメラを２台使用し、タクトタイムを1/2…

更なしで使用することが可能。 ★２台のカメラを同時に使用することにより検査工程のタクトタイムが半減。 ★３D検査によりWLCSPパッケージなどに使用されるバンプのコプラナリティを検査。 ★自動欠陥レビュー機能 ★Waferのミスアライメントを自動補正...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

【事例集】新研磨装置『PERET』ソリューション

受託分析をする際により微細で、詳細な分析結果欲しいと思った経験ありませ…

料は、新研磨装置『PERET』による分析事例を掲載しています。断面情報を表面から観察する“斜め研磨”による、｢樹脂上金属メッキの界面分析事例｣をはじめ、表面または直下に存在する材料違いや欠陥等を強調浮き彫りする“浮彫研磨”による｢CFRP材の内部構造分析事例｣など、多数ご紹介しています。【掲載事例】 ■斜め研磨　・樹脂上金属メッキの界面分析事例　・自動車ボディ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社パルメソ

新開発システム『UPS式新型切断機＋ビレット両端面研削機』

もう、不経済な鋸切断機は不要！是非一度、当システムの利用をご検討くださ…

束します。【特長】＜UPS式新型超精密高速拘束切断機＞ ■シャー式切断機に比べ、非常に高精度、高品質のビレットを生産可能＜ビレット両端面研削機＞ ■シャー切断で発生したビレットの欠陥を完全に解消 ■鋸切断機のような材料ロスは発生しない ■非常に合理的、経済的でベルト交換作業は3分以内に完了 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社万陽

【フォトマスク】0.5μmまでのパターンを作りたい

様々な現場で使われるフォトマスク。お客様のニーズに合わせた好適な製品を…

【フォトマスク仕様】＜マスクタイプ：レチクル、ワーキング・マスク＞ ■露光方法：レーザー描画 ■最小線幅：0.5µm～ ■線幅精度：±0.05µm～ ■位置精度：±0.05µm～ ■欠陥検査規格：0.5µm以上 0個～ ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：日本フイルコン株式会社

不織布パッド『Suba(TM)』

様々な用途にバランスよく対応する不織布ベースの研磨パッド

次研磨用として優れた性能を発揮します。また、エッジ研磨やノッチ研磨にも使用可能で、それぞれのプロセスに応じた幅広い製品ラインナップを持っております。【特長】 ■高研磨レート ■低欠陥性 ■高平坦性 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：ニッタ・デュポン株式会社

フォトマスク用CD-SEM『Zシリーズ』

ナノパターンの高速・高精度計測が可能なフォトマスク用CD-SEM

【特長】 ■収差補正技術をさらに改良し、高SNRイメージを取得 ■低真空技術によるチャージフリーSEM画像を取得、高精度計測が可能 ■多彩なアプリケーション（多点計測・輪郭抽出・2D測定・欠陥レビュー・3D表示） ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ホロン

ガラス基板のケミカルエッチング加工サービス

エッチング液は全て、ノウハウによる社内ブレンド！

液体レジストを有する為ガラスを酸で溶かして、様々な形状に加工可能なガラス基板のケミカルエッチング加工を行っております。仕上り面は滑らかで機械加工で発生する「マイクロクラック」等の欠陥は発生し難く、高い強度が得られます。【特長】 ■ガラスに対してダメージが少ない ■狭いエリア及び薄いガラスの加工が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わ...

メーカー・取り扱い企業：武蔵野ファインガラス株式会社

赤外線顕微鏡　「ＩＲ−1300」

傷や異物の寸法計測も可能！シリコンチップの内部観察に適しています！

デバイスの界面検査を鮮明な画像で表示する赤外線透過顕微鏡システムです！！～特徴～ ●反射/透過照明での不鮮明画像をエンハンサソフトで鮮明な画像を入手。 ●デバイス界面のボイド・傷・異物の欠陥画像観察、保存が可能。 ●画面上での寸法計測、面積計測が可能。 ※詳細はカタログをダウンロードして下さい。 ...

メーカー・取り扱い企業：ディスク・テック株式会社本社

表面処理　アモルファスクロムめっき「クロアモール」

硬度がなんと硬質クロムめっきの約2倍(Hｖ1800)！世界初のアモルフ…

に軟化し600℃ではHv200ほどの硬さしかない硬質クロムめっきと比較し、600℃でもHv1000を保ちます！ ■耐摩耗性表面にある硬い酸化皮膜により摩耗しにくい！ ■耐食性クラック等の欠陥がない！（約5μｍまでのクロアモール皮膜） ■耐薬品性塩酸に対して通常のクロムめっきの3～6倍！ ※詳しくはカタログをダウンロードか詳細についてはお問い合わせください。 ...

メーカー・取り扱い企業：オテック株式会社

ウエハ　開発サービス

ELO(epitaxial lateral overgrowth)にも…

成長に対応できるウエハを開発しております。高周波デバイスをはじめ、パワーデバイス、照明など様々な用途にご利用頂けます。ご要望の際はお気軽にご連絡ください。【特長】 ■低欠陥密度 ■表面平坦性 ■4inch以上の大面積化が可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社パウデック

LVH等の孔検査に最適な光学式外観検査装置　『MIYABI 7』

スルーホールやレーザービア（LVH）検査に多くの実績あり。長年の知見と…

◆スルーホールやレーザービア（LVH）をパターンと同時に全穴検査 ◆あらゆる基板を高精度に検査する新開発の照明系 ◆パッド・ラインを個別に条件設定、欠陥検出精度を向上 ◆フロントソフトウェアセットアップ時間短縮(約15分)...

メーカー・取り扱い企業：株式会社SCREEN PEソリューションズ本社

【放射線利用事業】イオンビーム利用サービス

加速器を保有し、イオンビームを活用したさまざまなサービスを展開！

【特長】＜IIS 半導体ウエハへのイオン照射＞ ■サイリスタ、ダイオード、パワートランジスタなどのウエハにイオン照射を行い、　局所的に欠陥層やドナー層を生成することによって電気特性を向上させる＜NRT 中性子ラジオグラフィ撮影＞ ■X線やガンマ線の代わりに中性子線を用いた放射線透過試験法で、　X線撮影では困難な、樹脂や火...

メーカー・取り扱い企業：住重アテックス株式会社

半導体加工

試作・量産承ります！極小、極細チップに対応するトレイ詰めや外観検査など…

・マークでの不良チップ認識だけでなく、プローバーデータ等を読み込み、不良チップの識別も可能・チップは、トレイに詰めるだけではなく、別のテープに貼り付けることも可能 ■ICチップの外観検査・欠陥チップの様々な出力が可能・イントレイ外観装置による24H稼動・外観検査認定オペレータによるリードタイム短縮 ■ICウェハのダイシング加工・様々なスクライブ幅に対応・アルミパッドの腐...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ニチワ工業

ナノ・ソルテック株式会社　事業紹介

お客様の立場に立って、優れた製品、サービスを適正な価格で提供します。

→輸送搬入据付 ○遊休設備買取 →不要な遊休設備の買取りまたは委託販売 ○KLA保守部品販売 →部品販売：新古品(未使用品)や中古整備パーツでコスト削減が可能 →保守サービス ○表面欠陥検査ソリューション →中古装置を利用した安価でタイムリーな装置サポート体制を提供 ○段差測定装置 →高品質の中古段差測定装置を新品価格の半額以下で提供 ○検査装置レンタル →短期使用をご希...

メーカー・取り扱い企業：ナノ・ソルテック株式会社

ステンレスの表面改質「SPP処理」

SUS316Lの表面に緻密な酸化クロム皮膜を形成！HF、HClに対して…

「SPP=Super Passivation Process」は、ステンレスの表面改質により、最表層に欠陥のない緻密なCr2O3膜を形成します。フッ酸や塩酸などのハロゲンガスに対して優れた耐腐食性能が得られ、真空特性も向上。ステンレスの表面を改質することにより、今までのステンレスの常識と...

メーカー・取り扱い企業：株式会社コンタミネーション・コントロール・サービス

鋳物の補修研磨

補修研磨までがワンストップ！補修箇所が全く判別できないような研磨が可能

青銅、黄銅鋳物は、巣や不純物が表面に出ます。機能的には問題ありませんが、見た目が悪く、最終工程にメッキが入る場合には接着不良の原因にもなります。そこで、欠陥部分を取り除き、同種の金属を埋めて補修を行います。補修の時、本体側と溶接側は金属が異なるため、鏡面研磨をすると凹んでしまいますが、当社では後工程のメッキを施しても、補修箇所が全く判別 ...

メーカー・取り扱い企業：有限会社タカシマ技研

ED SCOPE　イーディースコープ

見えない、見にくいナノサイズの欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化する新感覚…

・目視検査が困難なウエハ内外部の欠陥を誰でも簡単に定量的に短時間で検査・評価することが可能。・特殊光学系技術と特殊画像処理技術のコラボにより欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化。・深さ（Ｚ方向）はナノレベル、視野範囲（ＸＹ方向）はマ...

メーカー・取り扱い企業：日本ピストンリング株式会社

PV-Cell外観検査システム

独自の技術により、多結晶の模様をキャンセルして微細な欠陥を検出可能！

PV-Cell外観検査システムは、PVセルを高画素のカラーカメラを使って撮像し、不良品を検出してNG信号を出します。独自の技術により、多結晶の模様をキャンセルして微細な欠陥を検出する事が可能です。印刷パターン、Crack、欠け、寸法などの検査が可能で、インライン検査にも対応可能です。用途に応じて高画素2次元カメラとラインセンサーを選択して使用します。また、自社開発の検...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ヒューブレイン