【X線CT：受託計測】非破壊内部検査　

PR非破壊による内部の欠陥・状態観察が可能！ X線CTによる受託計測・解析…

進和メトロロジーセンターでは、 カールツァイス社　計測X線CT ZEISS METROTOMを所有し、受託計測業務を実施しております。 これまでの受託実績を踏まえて お客様のご要望にお応えしていきます。 検査内容 〇内部欠陥解析 〇CAD比較 〇寸法測定/幾何公差評価 〇繊維配向観察 〇肉厚測定 ○接合状態の観察　 【受託依頼　フロー】 1）　お問合せ（IPROS, ホームページ、Eメール...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社進和 戦略営業推進室

レーザー損傷閾値(LIDT)測定の代理店始めました！

PR予期せぬレーザー損傷を避けるためのレーザー損傷試験をお勧めします

当社では、レーザーオプティクスの損傷を調べることが可能。 顧客に合わせてレーザーへの耐力の測定及び検査など様々な試験に対応し、 損傷原因や欠陥の特定・オプティクスの寿命推定などができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■試行錯誤の手間の削減 ■オプティクスの寿命推定が可能 ■オプティクスの品質検査(良品、不良品の判別検査) ■研磨、コーティングの最適化 ■損傷原因や...

メーカー・取り扱い企業： CBCオプテックス株式会社

IC高精度外観検査装置『LI900W』

半導体ICパッケージ検査のオールラウンダー　車載製品 実績NO.1

EITA規格に基づいた寸法検査が搭載されています。 　2D検査：全長、全幅、パッケージ中心、ピッチ、位置度、端子径　等 　3D検査：コプラナリティ、スタンドオフ、反り、全高　等 〇高精度欠陥検査 　高画素カメラ・マルチアングル照明を搭載し、表・裏・側面の高精細な欠陥検査を実現します。 【検出欠陥モード】 　異物付着、キズ、カケ、剥離、端子欠損、マーク不良　等 〇その他特徴 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社

SiSi　ウエハーソリューション

リークが小さく、高品質で、ワープも小さく、低い欠陥密度！費用対効果が高…

半導体デバイスを製造するお客様には、Silicon-Silicon張り合わせ ウエハーを従来の厚エピや反転エピなど、パワーデバイスや PiNダイオード用に従来つかわれていたような材料にとって代わる、 費用対効果が高い材料として提供いたします。 直接ウエハーをボンディングする技術を使うと、様々な単結晶シリコンを 含むシリコン基板を作ることができます。 これらの抵抗レンジは1mΩ-...

メーカー・取り扱い企業： アイスモス・テクノロジー・ジャパン株式会社

半導体加工

試作・量産承ります！極小、極細チップに対応するトレイ詰めや外観検査など…

株式会社ニチワ工業が行っている半導体加工についてご紹介いたします。 「ICウェハの裏面加工」では、インフィード方式により仕上げ厚みを 安定させることが可能。各種シリコンウェハ向け砥石を取り揃えており、 ご要望に合わせた研削ができます。 この他にも「ICチップのトレイ詰め」や、「ICチップの外観検査」なども 承っております。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【加工内...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ニチワ工業

世界のX線CMOSカメラ市場調査レポート

X線CMOSカメラ市場は、2023－2035年の予測期間中に11％のC…

X線CMOSカメラ市場は、2022年に190億米ドルの市場価値から、2035年までに約400億米ドルに達すると推定されます。X 線 CMOS カメラは、相補型金属酸化膜半導体 (CMOS) 技術を使用して、X 線を利用して物体の画像を取得する画像装置です。肉眼では無視できる粒子を検出するために、産業、セキュリティ、医療分野で利用されています。研究開発活動への投資の急増が市場の成長を促進する主要な要...

メーカー・取り扱い企業： SDKI Inc.

【フォトマスク】0.5μmまでのパターンを作りたい

様々な現場で使われるフォトマスク。お客様のニーズに合わせた好適な製品を…

【フォトマスク仕様】 ＜マスクタイプ：レチクル、ワーキング・マスク＞ ■露光方法：レーザー描画 ■最小線幅：0.5µm～ ■線幅精度：±0.05µm～ ■位置精度：±0.05µm～ ■欠陥検査規格：0.5µm以上 0個～ ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 日本フイルコン株式会社