• LED照明メーカーだからわかる画像処理現場の解決法 製品画像

    LED照明メーカーだからわかる画像処理現場の解決法

    PRLED照明メーカーだからわかる画像処理現場の解決法!熟知したスタッフが…

    株式会社レイマックは、パシフィコ横浜で開催される、国内外の画像処理機器・ センシング技術が一堂に会する「画像センシング展2024」に出展いたします。 当社のブースでは、新しい検査照明はもちろん、照明メーカーだからこそ わかる画像処理現場の解決法を展示予定。皆様の画像処理現場でのお悩み事や 解決したいことに、好適の方法をご提案いたします。 ぜひ、レイマックのブースに足を運んでくださ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社レイマック 本社

  • 人工気象器のLED化<当社のLEDを選ぶお客様の理由> 製品画像

    人工気象器のLED化<当社のLEDを選ぶお客様の理由>

    PRコンセント付きのセット!下のコンセントに挿して、上の段に置くだけで設置…

    人工気候室に当社のLEDを選ぶお客様の理由についてご紹介いたします。 当社の特注ランプを使うことによって、麦類、稲類、薬草類、果物類に ピッタリな波長に変更するうえ、PPFD値は100ぐらい上がります。 電費半分人工気候室で植物育成照明の提案もたくさん事績がありますので、 ご興味の方は是非問い合わせしてみてください。 【主な理由】 ■コスト面 ■波長とPPFD値 ■簡単...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社電費半分 本社、埼玉営業所

  • 半導体電気特性評価テラヘルツ分光装置・テラヘルツエリプソメーター 製品画像

    半導体電気特性評価テラヘルツ分光装置・テラヘルツエリプソメーター

    複素誘電率(複素屈折率)の周波数依存性を計測可能な唯一の装置です。

    テラヘルツエリプソメーターとは、光と電磁波の強化周波数である1THz,波長300μm前後の帯域で従来赤外線やミリ波と呼ばれ、この波長域の入射による反射楕円偏光の解析で、半導体の様々な電気的特性を算出する装置です。テラヘルツ波は透過性と物質の同定能力を備え、電波より短波長で...

    メーカー・取り扱い企業: 西華デジタルイメージ株式会社

  • 紫外線探傷灯(非破壊検査)LEDブラックライト UV-45L・S 製品画像

    紫外線探傷灯(非破壊検査)LEDブラックライト UV-45L・S

    安定期のないブラックライト!

    電源  AC100V10%(50/60Hz) 消費電力  5W ランプ寿命(平均)  約2000時間 波長 ピーク波長  375nm 紫外線強度(初期平均) (点灯20分後計測)  距離100mm 4,800μw/cm2  距離150mm 2,300μw/cm2  距離200mm 1...

    メーカー・取り扱い企業: メイコー株式会社

  • レーザー超音波受信装置 QUARTET 製品画像

    レーザー超音波受信装置 QUARTET

    レーザー超音波受信装置、非接触、非破壊で対象物の厚さや内部欠陥が測定可…

    ・検出帯域(下限):1MHz(100kHz対応可。ご相談ください) ・ファイバー:マルチモード、長さはオーダー時に指定(標準は5m) ・サンプル上のスポット径:50μm~1,5mm(レーザー波長や焦点距離による) ・焦点距離:70mm - 数メートル ・集光レンズ:2インチ(1インチ相談可) ・受信用レーザー:500mW/1W/1.5Wのいずれか(内蔵)、1.5Wより高出力の場合、外...

    メーカー・取り扱い企業: タレスジャパン株式会社

  • 近赤外線 ラインカメラ (InGaAs) 「Lynxシリーズ」 製品画像

    近赤外線 ラインカメラ (InGaAs) 「Lynxシリーズ」

    高解像度 (1×512/1024/2048画素), 高速ラインカメラ …

    ーズ」は、InGaAsセンサーを搭載した高速タイプの近赤外線ラインカメラです。コンパクトで高解像度・高感度なLynxシリーズは、マシンビジョンに高品質な近赤外イメージを提供します。 また、検出波長0.9(0.5)~1.7μmの様々な近赤外線InGaAsカメラ(研究用冷却モデル、非冷却モデル、超低ノイズモデル、ラインカメラモデル等)や、検出波長1.0~2.35μmの近赤外線T2SLカメラも取り...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アド・サイエンス

  • フラットフィルム欠点検査措置 製品画像

    フラットフィルム欠点検査措置

    一つの波長だけでは見えずらい欠点も完全に検知可能なフラットフィルム欠点…

    nk社製(ドイツ)の『フラットフィルム欠点検査措置』を 取り扱っております。 明視・暗視光源の高速スイッチング技術にて最大5チャンネルにて同一欠点を 別光源からみた画像で取得ができ、一つの波長だけでは見えずらい欠点も 完全に検知可能。 これにより、高い欠点分類能力を達成する事ができ、Critical Defect、 Marginal、Negligibleの判別もできます。 ...

    メーカー・取り扱い企業: CBC株式会社

  • 結晶欠陥検出装置 ラマン測定装置・歪シリコン測定装置 製品画像

    結晶欠陥検出装置 ラマン測定装置・歪シリコン測定装置

    高性能顕微サンプル室を装備しており,高精度ラマン分光測定を実現

    ラマン測定装置とは、物質に光を照射した際に、物質の散乱光に入射光とは異なる波長の光(ラマン錯乱:RamanScattering)を測定し、その分光情報を基に結晶化の程度や結晶格子の歪み、シリコン基板の応力測定を、顕微サンプル室を標準装備することで高精度な測定を実現しています。...

    メーカー・取り扱い企業: 西華デジタルイメージ株式会社

  • UV-LED Light ZB-365J【ブラックライト】 製品画像

    UV-LED Light ZB-365J【ブラックライト】

    小型・軽量・高出力で凹凸の見易い携帯型UV-LEDライト。【ブラックラ…

    ●電源:18650 Li-ionバッテリー(保護回路付き) 1本 ●光源:紫外線中心波長365(±5)nm (at 25℃) UV-LED使用 ●紫外線強度:約400~19,990以上μW/cm2以上 (満充電時:距離381mm:中心) ヘッド部を回転させることにより照射範囲及び紫...

    メーカー・取り扱い企業: 栄進化学株式会社

  • 太陽電池 PL イメージングユニット POPLI-3C 製品画像

    太陽電池 PL イメージングユニット POPLI-3C

    太陽電池6インチセル対応PL励起用光源。EL画像検査装置PVXシリーズ…

    太陽電池は光を吸収して発電しますが、一部は発光という現象で放出しています。この光を撮像する方法をPL観測といいます。 POPLIは、バンドギャップに基づく発光波長域を観測します。もし、欠陥があれば、発生したキャリアがトラップされるため、正常領域に比べて発光輝度が下がり、その輝度差から異常部位を判定することができます。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【1億画素・中判】冷却CMOSカメラ『BH-66M』 製品画像

    【1億画素・中判】冷却CMOSカメラ『BH-66M』

    1億画素の中判CMOSセンサ搭載!超高解像度冷却CMOSカメラ!

    【仕様】 ★通信方式  カメラリンクグラバボード ★対応波長領域  350nm~1000nm ★A/Dコンバーター  16bit(65536階調)/ 12bit(4096階調) ★画素数  1億画素 ★有効ピクセルサイズ  1160...

    メーカー・取り扱い企業: ビットラン株式会社

  • 外観検査・内部検査に好適な近赤外線照射装置 LA-100IR 製品画像

    外観検査・内部検査に好適な近赤外線照射装置 LA-100IR

    波長800〜1100nm対応 IR透過撮影に最適な近赤外線照射装置

    ハロゲンランプの近赤外線だけを 照射する近赤外線装置 【特徴】 ○近赤外線反射ミラー付ハロゲンランプと  IR80フィルター(800nm以上透過)を内蔵  可視光を出さずに近赤外線(800〜1100nm)を照射 ○定格入力電圧:AC100V〜120V/200V〜240V ○定格入力周波数:50/60Hz ○消費電力:130W ○ランプ形式  JCR12V100W10H...

    メーカー・取り扱い企業: ハヤシレピック株式会社 第1事業部

  • 周波数チューナブルテラヘルツ光源 製品画像

    周波数チューナブルテラヘルツ光源

    最大2.7THzまでのテラヘルツ周波数をチューナブルで利用可能!欲しい…

    ● TeraScan 780   1.8 THz (2.0 THz、典型値) ● TeraScan 1550   1.2 THz (波長チューニング拡張オプションを用いた際は最大2.7 THz) ● DLC Smart (デジタル制御コントローラ) ● 専用THz-Tx, Rxアンテナ付属 ● 専用制御ソフトウェア (日本語O...

    メーカー・取り扱い企業: トプティカフォトニクス株式会社 営業部

  • ウェーハ表面欠陥検査装置『Laser Explorer』 製品画像

    ウェーハ表面欠陥検査装置『Laser Explorer』

    透明ウェーハも高速検査!高出力レーザーが微小な傷・パーティクルを検出!

    象素材  :Si、SiC、GaN、LT、サファイア等 対象サイズ :2、4、6、8インチ (その他、別途ご相談) 検査時間  :約90秒/枚(4インチ、10μmピッチ、搬送時間含む) レーザー波長:405nm 検査ピッチ :5~30μm 結果出力  :マップ、種類別グラフ、リスト、サイズ分類 機器寸法  :W 1800×D 990×H 1490(mm) ※詳しくはカタログをご覧下...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装

  • レーザー傷検査装置『穴ライザー 外径タイプ』 製品画像

    レーザー傷検査装置『穴ライザー 外径タイプ』

    レーザー光で円筒形状の外壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

    【基本仕様】 型式:SG-LSRA 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:φ20~30mm 回転数:15,000rpm 有効測定長:~L40mm サンプリング周...

    メーカー・取り扱い企業: ANALYZER株式会社

  • 監視・検査向け高感度InGaAS近赤外カメラ Owlシリーズ 製品画像

    監視・検査向け高感度InGaAS近赤外カメラ Owlシリーズ

    感度波長400~1700nmのSWIRカメラ。超高感度SCD社製検出器…

    SCD社製InGaAs検出器を使用(一部機種を除く)し、可視から感度を有する幅広いアプリケーションに対応可能なRaptor Photonics社製SWIRカメラです。画素数は640x512、1280x1024から選択可能。読み出しノイズ18e-の機種や最大300Hzのフレームレートで撮影可能な機種など、各種ラインナップからご用途にあったものをお選びいただけます。 コンパクトな設計で低消費電力も実...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイ・アール・システム

  • FA/マシンビジョンフィルター 製品画像

    FA/マシンビジョンフィルター

    光源とカメラの特性に合わせた適切なフィルターを提供。 白黒/カラー両…

    大きな入射角による波長シフトを抑えた「Stable Edge」を採用、LEDや半導体レーザーなどの光源とカメラの特性に合わせたクリアな画像を得られます。 高い透過率を保持しながら、従来の干渉フィルターに比べてより丈夫で...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エムスクェア 東京営業所

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