SR-SCOPE DMP30 電気抵抗式膜厚測定器

PR裏面や内層材の影響を受けずに銅の膜厚を測定

【SR-SCOPE DMP30】は、プリント回路基板上の銅の厚さを迅速かつ高精度に非破壊で、基板裏面にある銅層の影響を受けずに測定することができる電気抵抗式の膜厚測定器。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、プリント基板表面の銅の膜厚測定に好適。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護するソフトバンパー、強化ガラスの液晶ディスプレ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

【加工事例】白色干渉顕微鏡による加工面の測定

PRmm単位を超える広い面内測定範囲！多結晶セラミックスとSiC単結晶の測…

当社で新たに導入した、白色干渉顕微鏡による加工面の測定事例をご紹介します。 白色干渉顕微鏡は、光の干渉現象を利用して「表面形状」を計測、解析する 顕微鏡。測定対象材質を問わず、3D計測で面粗さ・線粗さに対応します。 多結晶セラミックスのワイヤースライス面からポリシング面の測定では、 スライス面Sa 0.8446 μm、ラッピング面Sa 0.2506 μm、ポリシング面 Sa 0....

メーカー・取り扱い企業： 株式会社新興製作所

半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長

パワーサイクル試験における半導体チップ温度測定にあたり、どのような方法…

体チップ温度)が一定の温度変化を繰り返した際の熱ストレスに対し、 その耐久性を確認する試験です。 パワーサイクル試験では半導体に通電することで加熱。試験では、 半導体チップの温度(Tj)を測定する必要があります。 Tjの測定は、PN接合に電流を流したときの電圧が温度によって変化する 特性を利用。Tjを測定する具体的方法にはいくつか有りますが、試験対象 となるデバイスや試験条件に...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長

試験を実施するにあたりどの方法で測定するのかを選択することが重要な要素…

半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長について説明します。 パワーサイクル試験は、デバイスへの通電電流による発熱により Tj(半導体チップ温度)が一定の温度変化を繰り返した際の 熱ストレスに対し、その耐久性を確認...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

断面研磨

研究開発・品質保証のスピードアップに貢献！手間を惜しまないこだわりが、…

ドやダイヤモンドナイフの鋭利な刃物を用いて材料から薄片を直接切り出す手法 ■高精度精密研磨：正確に試料を固定でき、角度補正、荷重コントロール、研磨盤の回転方向や速度等の幅広い設定が可能 ＜観察・測定＞ ■金属顕微鏡から走査電子顕微鏡まで、クラック・ボイドからウィスカやマイグレーションまで幅広く対応 ■プリント基板を中心に様々な試料を対象とした測定・測長も実施 ＜半導体パッケージの開封とI...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

【事例紹介】質量分析計前処理を用いた定性分析、定量分析

オートサンプラを用いるため、分析試料量の再現性が高く、精度の良い定量分…

打ち）前処理を用いた 定性分析、定量分析を行った事例をご紹介します。 試料中の目的成分を薬液で抽出し、その薬液を分析することで試料中の 目的成分を分析（定性・定量）。濃度を変えた既知試料を測定し、その検出強度と 濃度から検量線を作成して、未知試料の濃度測定が可能となります。 改良前後では、質量分析結果からワックス系成分と推定される成分と添加成分1に 差異がありました。改良後では...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

ガスクロマトグラフ質量分析計（GC/MS）の原理と特長

固体・液体・気体に関わらず、物質に含有される有機化合物の定性及び定量分…

マトグラフィ」は、クロマトグラフィの一種であり、 気化しやすい化合物の同定・定量に用いられる機器分析の手法です。 試料から放出されたガス成分をカラムを用いて分離し、分離した成分毎に 質量を測定することで物質の同定を行うことが可能。 試料の状態に関わらず、物質に含有される有機化合物の分析が可能です。 【特長】 ■ガスの分離を行うガスクロマトグラフに、質量分析計を付属することで...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

アバランシェ試験/連続アバランシェ試験

パワー半導体の定格限界での信頼性評価や、定格オーバー条件でパワー半導体…

当社で行う『アバランシェ試験/連続アバランシェ試験』をご紹介いたします。 Tj(接合温度)をリアルタイムに測定しながら、エンジンルームなど 実使用に近い環境下で挙動を確認可能。 また、独自開発した水冷制御システムを用いて、試験中に発生する熱を 冷却しながら、連続で試験を行うことにより、アバランシェ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

食品中のアレルゲン分析

信頼性の高い結果を迅速に報告！表示が義務化された7品目等、アレルゲン物…

【検査内容】 ■ELISA（エライザ）法による定量検査 ・反応させた後に吸光度を測定し、特定原材料由来のタンパク質の含有量を確認 ・10μg／gの濃度を基準として陽性・陰性の検査を行う ・検査対象：小麦、卵、牛乳、そば、落花生、甲殻類 ■PCR法による確認検査 ・食品中のD...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

パワーサイクル試験：空冷システム

恒温槽を使用することで、より強い付加を加える事が可能！信頼性試験をご紹…

j温度制御事例 について画像付きでご紹介しておりますので、ぜひご覧ください。 【パワーサイクル試験原理】 ■試験期間の短縮や高い信頼性の確認ができる ■試験品のチップ温度をリアルタイムで測定しながら試験を行う ■任意の温度を設定して印加ON/OFFができる ■時間での設定や両者の組合せも可能 ■恒温槽を使用することで、さらに強制的な冷却が行えるため、 　より強い付加を加える事が...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

オスミウムコータ設備の紹介とその観察例

試料の上面、側面などや、複雑な試料にも奥深く均一にコーティング可能！

処理として、金属オスミウム（Os）の極薄膜 コーティングを行います。 熱ダメージもなく、nm単位の膜厚を高い再現性で成膜可能。 また、試料表面に膜由来の形状が現れず、表面形状観察やEBSD測定への 前処理に用いることができます。 繊維構造を有するサンプルの表面観察では、オスミウムコートでは、複雑な 構造でもチャージアップなく観察できました。 　　　 【特長】 ■チャージア...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

オスミウムコータ(導電被膜形成)設備の紹介とその観察例

熱ダメージもなく、nm単位の膜厚を高い再現性で成膜できる！

例について 解説いたします。 試料表面の導電被膜形成処理として、金属オスミウム(Os)の 極薄膜コーティングを行います。 また、試料表面に膜由来の形状が現れず、表面形状観察やEBSD測定への 前処理に用いることが可能です。 【特長】 ■チャージアップのない極薄膜の形成 ■再現性の高い膜厚制御 ■粒状性のない膜 ■熱ダメージのない成膜 ※詳しくは関連リンクをご覧...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック