- 製品・サービス
2件 - メーカー・取り扱い企業
企業
2148件 - カタログ
15511件
-
-
PR【初心者でも簡単】太陽光パネルの再利用の可否を瞬時に選別!リユース利用…
『リユースチェッカーRUC-100』は、電気の専門知識がない方でも 太陽光パネルの電気的な不良品を判定できるようにすることを目的とした、 簡易の診断機器です。 5つの測定項目を総合的に自動判断し、液晶ディスプレイに○☓判定で 表示することで、容易に選別判定が可能。 測定項目はパネル毎に機器内蔵メモリーに保存できるほか、CSVデータは 出力可能です。 【特長】 ■液晶ディ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
-
-
PR裏面や内層材の影響を受けずに銅の膜厚を測定
【SR-SCOPE DMP30】は、プリント回路基板上の銅の厚さを迅速かつ高精度に非破壊で、基板裏面にある銅層の影響を受けずに測定することができる電気抵抗式の膜厚測定器。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、プリント基板表面の銅の膜厚測定に好適。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護するソフトバンパー、強化ガラスの液晶ディスプレ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ
-
-
InfraTec社製 ハイエンドサーモグラフィ ImageIR
超高感度冷却式検出器(InSb/MCT)採用・3M(1920x1536…
研究開発用途や、高速回転体の解析、電子部品発熱解析、非破壊検査、その他多彩なアプリケーションで活躍します。 QVGAから3M(1920 x 1536)のHD画素タイプまで豊富なラインナップから各種測定用途にあったモデルを選択可能で、高速同期撮影による高速微小温度差の解析に最適です。オプションレンズも各種取り揃えており、ご希望の視野、倍率に対応します。標準機能であるウインドウイング機能での高速撮影...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイ・アール・システム
-
-
半導体プロセス中の対象ウエハの放射率をリアルタイムに測定し補正を行うた…
半導体プロセス中のウエハ温度のモニタリングは非常に重要なプロセス・パラメータですが、今まで適切な測定方法が確立できていないために、温度以外のパラメータでプロセス状況を推測してきました。 ウエハ放射率にはロット内でばらつきがあるにも関わらず、一般の放射温度計では測定対象物の放射率をユーザーが適...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイ・アール・システム
- 表示件数
- 60件
- < 前へ
- 1
- 次へ >
※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。
PR
-
汎用型差圧式エアリークテスタ|FLA-0201 series
【新発売】様々な測定環境にフレキシブルに対応できる汎用型エアリ…
株式会社フクダ -
【事例集】レーザー干渉式リニア変位センサによるQA&QC
ナノメートル精度で変位・変形・振動を計測。超高真空・高磁場対応…
株式会社日本レーザー -
EMI(エミッション)トータル試験システム MR2300
手近なところでノイズ対策!EMIは事前試験で効率アップ。
マイクロニクス株式会社 -
管路曲り測定装置 孔曲り測定 削孔曲り測定 レンタルOK
アンカー工事、地盤改良工事等のボーリング孔の曲り測定や埋設管(…
根本企画工業株式会社 -
X線検査受託サービス【大型製品に対応】Nadcap認定を取得
ギガキャストなど大型製品のX線検査に対応!
TANIDA株式会社 かほく本社工場 -
79GHzミリ波レーダー方式 非接触型振動センサー
悪環境(高温等)でも影響なし!40KHzまでの広帯域・高振動周…
サクラテック株式会社 -
広帯域振動計測・判定システム
超音波領域の振動に対応し、多彩な判定機能を標準装備した振動計測…
株式会社アローセブン -
紹介資料『測定業務によくある問題の改善例3選』
測定データの入力・管理業務における課題と解決策を紹介。ヒューマ…
株式会社アサカ理研 -
Enovasense Field Sensor
高速な不透明膜の厚みマッピング、内部欠陥のエリア検出が可能なレ…
プレシテック・ジャパン株式会社 -
金属からCFRPに置きかえが進む理由とは?
各種業界から注目されているCFRP(炭素繊維強化プラスチック)…
TIPcomposite株式会社