【高コスパ】キャパシタンスゲージ/コールドカソードピラニゲージ

PR各種真空システム搭載に好適な真空計

■『キャパシタンスゲージ』は、高精度で安定した絶対圧力を測定できる温度補正型の隔膜真空計です。 　　優れたゼロ点の安定性、低温度依存性、優れた対振動性が特長です。 ■『コールドカソードピラニゲージ』は、堅牢なコールドカソードゲージ(冷陰極電離真空計)とピラニゲージを組み合わせ、 　　大気圧から高真空まで広い圧力測定範囲を持つコンビネーションゲージです。 ※詳しくはPDF資料をご覧い...

メーカー・取り扱い企業： キヤノンアネルバ株式会社 栗木本社

毎秒25,000サンプリング・ 高信頼性の荷重測定器

PR最大5つの公差ウィンドウ設置でき、視覚的にもわかりやすいOK/NG判定…

仲精機株式会社で取り扱う、荷重測定器『FORCE STAR（フォースター）』をご紹介いたします。 荷重判定・ストローク判定ができ、25,000回／秒のサンプリングを行います。 また、液晶画面にてグラフ表示が可能。対応のロードセルと接続するだけで自動的に校正を実行します。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【特長】 ■荷重判定 ■ストローク判定 ■25,000回...

メーカー・取り扱い企業： 仲精機株式会社

フーリエ変換-赤外分光法(FT-IR)による有機物分析

50μm程度(目安としては肉眼で確認可能な)大きさであれば、概ねサンプ…

R)を照射すると、物質固有の官能基の分子振動により 特定の波数領域で光が吸収されます。 広帯域のIR光を連続的に試料に照射しスペクトルを得ることにより、 物質材料を特定することが可能です。測定対象物質は主に 赤外吸収を伴う有機物質と一部の無機物質となります。 【特長】 ■試料サイズは数十μmから測定可能 ■厚みはサブミクロン～10μm程度までが対象 ■透過測定及び反射測定が...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

ガスクロマトグラフ質量分析計 前処理を用いた定性分析、定量分析

材料に併せてカスタマイズ！様々な前処理を併用することで、幅広く分析可能

当社では、試料中の目的成分を薬液で抽出し、その薬液を分析することで 試料中の目的成分の分析(定性・定量)をします。 濃度を変えた既知試料を測定し、その検出強度と濃度から検量線を 作成して、未知試料の濃度測定が可能となります。 オートサンプラを用いるため、分析試料量の再現性が高く、 定量分析時の精度が良いです。 【特長】 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

X線光電子分光法を用いた分析手法

絶縁物の測定が可能！金属・半導体・高分子等さまざまな材料の研究開発や不…

「X線光電子分光法」は、試料表面の元素分析・化学状態分析を行う手法です。 絶縁物の測定が可能なため、金属・半導体・高分子・セラミック・ ガラス等さまざまな材料に適用可能。 表面分析の中でも多用されている手法の一つであり、材料の研究開発や 不良解析に利用されています。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

【資料】信頼性試験-接続信頼性とマイグレーション試験

接続信頼性試験法やマイグレーション試験などを、写真や図表を用いて詳しく…

続信頼性とマイグレーション試験について ご紹介しております。 冷熱衝撃試験結果では、スノーホール全体をはじめ、クラック発生部、 コーナー部の写真を掲載。 ホットオイル試験／導通抵抗値測定では、試験方法や試験結果なども ご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■接続信頼性試験法 ■冷熱衝撃試験結果 ■冷熱サイクル試験後断面観察(500サイクル) ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

食品中のアレルゲン分析

信頼性の高い結果を迅速に報告！表示が義務化された7品目等、アレルゲン物…

【検査内容】 ■ELISA（エライザ）法による定量検査 ・反応させた後に吸光度を測定し、特定原材料由来のタンパク質の含有量を確認 ・10μg／gの濃度を基準として陽性・陰性の検査を行う ・検査対象：小麦、卵、牛乳、そば、落花生、甲殻類 ■PCR法による確認検査 ・食品中のD...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

サンプルを高精度に観察する先進のソリューション・サービス

サンプルを高精度に観察！ウェブ会議での対応も可能ですので、お問い合わせ…

位置での状態確認が可能 ■プラズマFIB ・Xeを用い、高速かつ大面積の加工が可能 ・FE-SEM、EDSを搭載 ■EBSD ・高感度、低ノイズでの観察、わずか数分での高速動作が可能 ・測定生データのご提供可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

【資料】半導体デバイスの電気的破壊試験と故障解析

IGBTに対してEOS破壊とESD破壊による故障再現実験を実施！解析手…

特性」では図表と共にご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■本発表の目的 ■サンプルについて ■解析手順 ■EOS破壊サンプルの作製 ■外観と電気的特性の測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック