• 光散乱パーティクルセンサ『9000-30CHシリーズ』 製品画像

    光散乱パーティクルセンサ『9000-30CHシリーズ』

    PR高濃度対応、最大30の粒径分布測定。最小可測粒径0.3umから10.0…

    光散乱パーティクルセンサ『9000シリーズ』は、最小0.3μmの微粒子から測定、エアロゾルの個数濃度や、粒径分布、短時間で生じる変動・変化量などの情報が得られます。In-Situ、リアルタイムの光散乱方式の利点を生かして、大気環境、室内環境、暴露実験などで、威力を発揮します。もちろん高清浄度での測定までこの1台で対応します。粒径範囲は0.3mから10.0umにこだわらず、例えば0.3umから2.5...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パーティクルプラス

  • 約2秒の素早い検査が可能!タップ穴自動検査装置「Bee-1」 製品画像

    約2秒の素早い検査が可能!タップ穴自動検査装置「Bee-1」

    PRねじゲージで何度もすべてを手回しする作業とおさらば!自動で全数検査が可…

    ねじゲージで何度もすべての穴を手回しするのは大変です。そこで、自動でタップ穴検査ができる「Bee-1」が活躍します。 自動で全数検査、検査漏れゼロ、ひと穴を約2秒で検査できる為、検査時間を大幅に短縮できます。 スタートボタンを押すだけで、あとはメモリされた座標のタップ穴を自動で検査します。 測定テーブルはお客様の仕様に合わせたカスタマイズが可能です。 【Bee-1とは】 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社三機 Creative Lab

  • ウェハ膜厚・表面粗さ測定機 SemDex A32, M1, M2 製品画像

    ウェハ膜厚・表面粗さ測定機 SemDex A32, M1, M2

    完全自動化!マルチセンサ技術を備えた高速ウエハ計測・選別システムをご紹…

    『SemDex A32』は、ウェハ単層及び多層厚さ・反り・歪み・粗さの 完全自動化・高精度測定機です。 基板層の厚さ・TTV・積層ウエハの全体厚さ・ウエハ反り・歪み・平坦性は、 単一の測定ランにおいてsub-μm精度で測定可能で、nmレベルまでの表面粗さ、 更にTSV・RST、およびミニバンプのパラメータも同様に測定することができます。 その他に、半導体計測の幅広い用途に対応する...

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    メーカー・取り扱い企業: 伊藤忠マシンテクノス株式会社

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    兼松PWS株式会社 事業紹介

    半導体・液晶・電子部品製造における技術コンサルタントならお任せ下さい!

    兼松PWS株式会社は、主に半導体製造・検査装置の開発、設計、製造、 販売を行っている会社です。 主な製品として、装置付帯ユニット&パーツ「ウエハプローブ・カード」 「研磨フィルム」「Post CMP Blush」などを取り扱っております。 その他にも各種省力機器の設計製造や自社製機器および輸入半導体製造・ 検査装置の据付、保守などの技術サービスもご提供しております。 ご要望の際...

    メーカー・取り扱い企業: 兼松PWS株式会社

  • ヤマトマテリアル株式会社  事業紹介 製品画像

    ヤマトマテリアル株式会社 事業紹介

    消費者の動向から地球環境を考えたビジネス!企画・開発・提案力を重視!

    ヤマトマテリアル株式会社は、主に「容器・包装」「生産システム」 「エレクトロニクス関連商品」の各事業分野をフィールドとする 専門商社です。 半導体・エレクトロ二クス分野の検査・梱包から生産設備までの企画販売 を行う新素材事業本部。 【事業内容】 ■新素材事業本部 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...【取扱製品】 〔前工程〕 ■バレル型プラ...

    メーカー・取り扱い企業: ヤマトマテリアル株式会社

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