• 高い技術力によるスイッチング電源用高周波トランス 製品画像

    高い技術力によるスイッチング電源用高周波トランス

    PRカスタム品で自動化による低コストを実現!

    「スイッチング電源用トランス」とは、半導体デバイスとともに スイッチング電源の性能を左右する重要な電子デバイスであり、その性能が電源の高性能化に与える影響は非常に大きいです。 そのトランスの性能を左右するのが、そこに使われている磁性材料で 一般的にはフェライト(鉄粉)磁性材料といわれるものです。 スイッチング電源用トランスは小型化、低コスト化の特長から インバーターエアコンやDVDプレーヤー、...

    メーカー・取り扱い企業: 大阪高波株式会社

  • 衝突緩衝体『発泡ウレタン バッファ』 ※特長紹介資料進呈 製品画像

    衝突緩衝体『発泡ウレタン バッファ』 ※特長紹介資料進呈

    PR圧縮ひずみ70%までの変形に追従。繰り返しの衝突に耐え、振動等の低減に…

    衝突緩衝体『発泡ウレタン バッファ』は、 様々な衝突物の緩衝に役立つ製品です。 ウレタン部の直径や高さを変えることで、 荷重容量や変位吸収性能などの幅広いご要望に対応でき、 現場ニーズに合う緩衝装置としてお使いいただけます。 【特長】 ■軽量で設置や取り扱いが簡単 ■減衰性能があり、衝突物への押返力・振動を低減 ■繰り返される衝突に対応 ■ウレタン部は円柱だけでなく、角柱...

    メーカー・取り扱い企業: オーツケミカル株式会社

  • 半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』 製品画像

    半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』

    端子や外観寸法検査、異物・キズ等の欠陥検査に適した高精度検査ユニット

    す。 弊社検査機だけでなく、ハンドラメーカ様への搭載実績も多数あります。 〇寸法検査機能の特徴 JEITA規格に準拠した半導体 IC寸法検査に対応した検査機能を、標準搭載しています。 【特長】 ■対象製品:表面実装型 ICパッケージ(BGA、CSP、QFP、SOP、QFN、LGA) 、イメージセンサ、センサ製品 等 ■2D寸法項目:全長/全幅、ピッチ、位置度 等 ■3D寸法項目:...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • チップ自動外観検査装置『CI200D/CI300D』 製品画像

    チップ自動外観検査装置『CI200D/CI300D』

    ダイシングフレームモデル!10msec/イメージの高速取り込みにより高…

    する装置です。 ダイシングフレーム上の個片化されたチップを自動認識し、個片毎に 高精度な欠陥検査を実施。 結果に基づき、良品・不良品の判定をし、マップデータとして出力します。 【特長】 ■ダイシングフレーム上の個片化されたチップを自動認識 ■個片毎に高精度な欠陥検査を実施 ■結果に基づき、良品・不良品の判定をし、マップデータとして出力 ■製品に現れる様々な欠陥モードを捉...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • プレス加工品欠陥検査装置『PK2800』 製品画像

    プレス加工品欠陥検査装置『PK2800』

    プレス加工ワークを高精度欠陥検査で自動選別!金型交換サイクルを数値で管…

    打ち抜き時に発生する傷、破断を高精度に 計測し、OK/NG判定します。 カスタマイズ対応で、検査プラス"バリ除去・油洗浄・箱への整列収納"等 ユニット接続で一貫処理も実現します。 【特長】 ■複雑な加工形状ワークに沿った検査も可能 ■法線制御計測(X,Y,θ 3軸制御) ■金型交換サイクルを数値で管理 ■カスタマイズも対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • パワーデバイス用チップ外観検査装置『CI4000』 製品画像

    パワーデバイス用チップ外観検査装置『CI4000』

    狙った欠陥を確実にキャッチ!パワーデバイス用チップの欠陥検査を高精度で…

    複数枚撮像で 様々な欠陥モードに適した検査画像を取り込みます。 また、側面検査ではXYθズレによる焦点ズレをワーク毎に補正し、 ジャストフォーカスで微細な欠陥を確実に検出します。 【特長】 ■全6面の微細欠陥を自動検査 ■最大25Mpixカメラによる高分解能・高解像度検査 ■オリジナルシームレス・7チャンネル マルチアングル照明 ■Min10msec/画像取込→検査モード毎...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • リードフレーム&ダイボンドチップ自動外観検査装置『FV100L』 製品画像

    リードフレーム&ダイボンドチップ自動外観検査装置『FV100L』

    クリーン仕様!リードフレーム・ダイボンドチップの自動外観検査を実現!

    欠陥を確実にキャッチします。また、4M~25Mpixカメラから選択可能。 高分解能検査に対応します。 さらに、クリーンファンによるダウンフローで、装置内の環境を 清浄に保ちます。 【特長】 ■理想的な照明環境の構築 ■高速取込み&複数枚画像撮像 ■高分解能検査対応 ■データ出力仕様 ■不良品へのバッドマーキングも可能(オプション) ※詳しくはPDF資料をご覧いただく...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • セラミックス基板自動外観検査装置『FV203CR』 製品画像

    セラミックス基板自動外観検査装置『FV203CR』

    表面及び裏面の両面検査に対応!高速照明切替と高速画像取込みで高速検査を…

    査を行う装置です。 セラミックス基板が収納されたマガジンやトレイ等をセットする事で、 セラミックス基板表/裏面の外観検査を行い、検査結果に基づいて 良品/不良品に選別を行います。 【特長】 ■高密度3D検査により「膨れ」「凹み」欠陥を検出 ■マルチアングル照明を用いて最適な照明環境を実現 ■高速照明切替と高速画像取込みで高速検査を実現 ■表面及び裏面の両面検査に対応 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • 積層セラミックス用グリーンシート3D外観検査装置『FV53C』 製品画像

    積層セラミックス用グリーンシート3D外観検査装置『FV53C』

    グリーンシートに印刷された電極パターン不良を3Dスキャンで高精度に検出…

    ターンの太り、細り、シミ、異物不良を検出します。 またパターンの位置度検査が可能であり、グリーンシートの積層管理にご使用いただけます。 積層品質向上、歩留まり向上にぜひご検討ください。 【特長】 ■パターン高さやパターンの凹凸検査(高精細3D検査) ■微細な欠陥やパターンの寸法検査(高精細2D検査) ■グリーンシート毎のパターン位置度管理 ■積層デバイスの歩留り向上に貢献します ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • ROM書き後の品質保証に最適 IC外観検査装置『LI700E』 製品画像

    ROM書き後の品質保証に最適 IC外観検査装置『LI700E』

    余分な空トレイ不要で自動外観検査が可能! 基本機能に特化し、省スペース…

    『LI700E』は、ICパッケージの端子平坦度、端子曲がり等の規定寸法検査、及び異物付着等の欠陥検査を行い、良品と不良品に分類収納します。 【特長】 ■受入検査/ロム書き後の品質保証に最適 ■検査項目はJEITA規定寸法測定方法に準拠 ■小型・省スペース&作業は全て前面から ■余分な空トレイ不要で人手を介さない自動検査 ※詳...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • ICパッケージ自動外観検査装置『LI700E』 製品画像

    ICパッケージ自動外観検査装置『LI700E』

    省スペースで検査の自動化を実現!高精度2次元&3次元寸法計測が可能な検…

    の端子曲がり等の寸法検査、及びキズ・異物等の欠 陥検査を実施する外観検査装置です。 省スペースで検査の自動化を実現。製品下面より、モールド面や端子面の検査を 実施し良否判定/選別をします。 【特長】 ■高精度2次元&3次元寸法計測 ■欠陥検査 ■小型・省スペース ■自動ヘルスチェック機能 ■トレーサビリティデータ管理への対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • 新型ICパッケージ自動外観検査装置『LI930』 製品画像

    新型ICパッケージ自動外観検査装置『LI930』

    LI900W後継機として車載ICパッケージ対応高機能モデルをリリース

    の外観不良を高精度に検査します ・全6面(上面・下面・側面)欠陥検査に対応可能なフルスペックモデルです ・車載用途など高い出荷品質が求められるICパッケージの外観検査に全てお応えします 【特長】 ■各種表面実装型パッケージのJEITA規定寸法測定法に準拠した検査 ■マルチアングル照明を切替えるマルチイメージ検査により欠陥を確実に検出 ■コンパクトな筐体で設置面積を小さく抑える事が可...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • パワーモジュール用ベアチップ外観検査装置『CIシリーズ』 製品画像

    パワーモジュール用ベアチップ外観検査装置『CIシリーズ』

    実装前にチップの全数外観検査を行うことで後工程のロス低減&歩留まり向上…

    『CIシリーズ』は、チップトレイに収納された個片ベアチップの外観品質検査を行い、 良品/不良品に分類する装置です。 検出事例・・・エッジクラック、欠け、傷、異物付着、変色等 <特長> ■マルチアングル照明により多様な欠陥にアジャスト   ■小型・省スペース設計&作業は全てフロント面から ■イントレイ検査でベアチップへの接触をミニマム化 ■画像情報の高次元統計解析による...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • 高精度3D&2D検査ユニット『VM-A』 製品画像

    高精度3D&2D検査ユニット『VM-A』

    【サンプル評価可能!】コンパクト&スリムで様々な設備へ搭載も容易!3D…

    高精度な2D/3D検査を、1台で高速に行える検査ユニットです。 JEITAで規格されている半導体 ICパッケージの「端子寸法」検査及び2D/3D検査が必要な部品検査に幅広く対応します。 【特長】 ■高速・高精度な3D検査に対応します。  3Dの寸法検査や高さのある欠陥検出も対応可能 ■2D検査に対応する様々なアルゴリズムがあります。 ■複数画像撮像を高速処理することで、様々な条件...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • 6インチ以下各種材料の大量スライスに『SW630DS』 製品画像

    6インチ以下各種材料の大量スライスに『SW630DS』

    ダウンカット工法と業界最狭軸間による高精度・高速加工を実現!

    安定稼働を両立しました。 加工室への3面アプローチが可能で作業性も抜群です。 ワークセットや段取り時間を削減できます。 材料に合わせて固定砥粒加工モデルもご用意しております。 【特長】 ■業界最狭軸間によりワイヤ挙動を抑えて、高精度加工を実現 ■業界最少8個のVローラにより消耗品コスト削減 ■3面アプローチによる作業性UPで段取り時間削減 ■独自の張力制御技術を搭載し、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

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