OGP マルチセンサー三次元測定機　スマートスコープシリーズ

PR画像処理・接触式・レーザーの3つの測定センサーで、「多用途」にして「高…

・多様なアプリケーションに対応する複数センサの併用と選択 ・測定スピードと繰り返し精度を向上 ・20機種以上の豊富なラインナップ 創立75年以上に渡り、非接触三次元測定機を全世界市場に提供してきた米国ＯＧＰのベストセラー機です。 プログラム作成はマウス操作中心のため、初心者でも直感的に操作をすることができます。 画像測定をベースとして、接触式測定（タッチプローブ）、レーザー測...

メーカー・取り扱い企業： ＹＫＴ株式会社

オイル劣化の診断装置　オイル診断計ODS / WIO

PRオイルの状態をリアルタイムで監視し、機械・設備のトラブルを防ぐ予知保全…

機械設備に重要なオイルは、酸化・異物(コンタミ)・水分の混入等により機能の低下や機械の故障へと繋がるため、設備保全が重要となります。 保全方法には３つのカテゴリーがあり、オイル診断計ODS/WIOは「予知保全」として、オイル劣化による設備トラブルを未然に防ぎ、 設備の長寿命化やランニングコスト削減等の効果が期待される製品です。 [カテゴリー] ・不具合が発生してから対策する「事後保全」 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＭＫＴタイセー

コスト解析サービス

ICのコストを解析します

ICのX線画像を撮影し、コスト解析をいたします。コストダウンを検討されているお客様はぜひご検討ください。...ICのX線画像を撮影し、コスト解析をいたします。コストダウンを検討されているお客様はぜひご検討ください。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ロジック･リサーチ

ＩS製品シリーズ　【事例】半導体の構造解析

故障部位の｢平面研磨｣及び｢断面研磨｣を行い、原因の特定を行いました。

PKGの実装前の観察画像に対し、基板実装後に内部の様子に変化が生じたため、観察画像の結果より、故障部位の｢平面研磨｣及び｢断面研磨｣を行い、原因の特定を行いました。同モードの不良がいくつかある場合には、平面研磨・断面研磨と両方からの解析及び観察ができます。変化した部位に空洞が発生していることから、電子部品と基板間には半田ボールで接続後、アンダーフィルを流し込み密着性を上げました。この白い部分には｢...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社池上精機

【CMP用テストウエハ】Ecu ブランケットウェハ

画像はCuブランケットウェハの例です！

アドバンスマテリアルズテクノロジーでは、 テスト用ウェハの中でも特に、成膜・CMP・洗浄・エッチング・TSVの 研究開発に必要な先端の技術を盛り込んだウェハを供給しています。 画像はCuブランケットウェハの例です。 7KA、15KAで成膜した時のCross SEMのウェハです。 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。...【サービスについて】 当社では、...

メーカー・取り扱い企業： アドバンスマテリアルズテクノロジー株式会社

【分析事例】STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した解析

像シミュレーションを併用した結晶形の評価

高分解能HAADF-STEM像は、結晶の原子配列を反映した画像であることから、種々の結晶方位に対応したSTEM像をシミュレーションすることにより、多結晶体中の結晶粒間の相対方位や観察像の正確な理解に役立ちます。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石中の結晶粒について、EBSD法で得た結晶方位の情報からSTEM像をシミュレーションし、実際の高分解能HAADF-STEM像と比較した事例を紹介します...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

EDS（エネルギー分散型Ｘ線分光法）による元素分析のご紹介

SEMでの高倍率観察中に試料の特定箇所をピンポイントで評価できるため、…

電子顕微鏡（SEM）にて画像観察する際、電子線を物質に照射すると蛍光X線が発生します。 その中には元素固有の情報を持った特性Ｘ線が含まれています。 これを半導体検出器のようなエネルギー分散型検出器にて検出し、そのエネルギーと強度を測定すると、 物質を構成する元素を定性的に解析することが出来ます。 【特長】 ■定量分析が可能（バルク材料など） ■多元素同時測定が可能で分析時間が短...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

【パターンウェハ】CD 50nm STI Pattern

200mm 300mm にて対応可能！　対応膜種はご希望によりご相談く…

アドバンスマテリアルズテクノロジーでは、 テスト用ウェハの中でも特に、成膜・CMP・洗浄・エッチング・TSVの 研究開発に必要な先端の技術を盛り込んだウェハを供給しています。 画像は、HDP、SiN on Si の例になります。 200mm 300mm にて対応可能です。 ※MITマスク使用 対応膜種はご希望によりご相談ください。 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくは...

メーカー・取り扱い企業： アドバンスマテリアルズテクノロジー株式会社

クロニクス株式会社　会社案内

海外とのインターフェイスとして日々活動！お客様が満足されるようにいつも…

当社は、欧米の先端半導体とその製品を輸入販売する商社です。 製品の検査、不良解析も自社で行えるシステムでお客様に貢献。 SFAソフトを導入してお客様に迅速に対応しています。 外国メーカーとお客様を技術的につなぐ役割を果たすため、 海外メーカー訪問もお客様と共に実施する事を実現しています。 【事業内容】 ■外国系半導体・電子部品の輸入販売 ■LED電球、LED蛍光灯、LED...

メーカー・取り扱い企業： クロニクス株式会社

過酷な環境へAIを実装、産業用AIチップを利用した解決策

AIを実装する環境でお悩みではありませんか？産業用途に適したAIチップ…

■AIチップとは■ AIチップとは、AIの演算処理を高速化するための半導体です。 画像処理やAI処理において、学習用はGPUでほぼ標準化されつつあります。一方で、学習用と推論用とではスペックも異なり、推論用ではGPU以外にもFPGAやASICで実現が可能です。 特にエッジ向けの推論用は、IoTと共に現場でAIを処理するデバイスに実装されるため「演算処理のパフォーマンス」だけではなく、「小...

メーカー・取り扱い企業： アナログ・テック株式会社

【パターンウェハ】MIT STI CMP wafer

200mm 300mm にて対応可能！　対応膜種はご希望によりご相談く…

アドバンスマテリアルズテクノロジーでは、 テスト用ウェハの中でも特に、成膜・CMP・洗浄・エッチング・TSVの 研究開発に必要な先端の技術を盛り込んだウェハを供給しています。 画像はHDP、SiN on Si の例です。 200mm 300mm にて対応可能です。 ※MITマスク使用 対応膜種はご希望によりご相談ください。 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合...

メーカー・取り扱い企業： アドバンスマテリアルズテクノロジー株式会社

【パターンウェハ】3D ILD Pattern

CMP研究・開発用途に大変有用！　対応膜種はご希望によりご相談ください…

アドバンスマテリアルズテクノロジーでは、 テスト用ウェハの中でも特に、成膜・CMP・洗浄・エッチング・TSVの 研究開発に必要な先端の技術を盛り込んだウェハを供給しています。 画像は、HDP、SiN on Si の例になります。 200mm、300mmにて対応可能です。 対応膜種はご希望によりご相談ください。 高段差のパターンもご用意があります。 CMP研究・開発用途に大変有...

メーカー・取り扱い企業： アドバンスマテリアルズテクノロジー株式会社

【CMP用テストウエハ】3D ILD Pattern wafer

CMP研究・開発用途に大変有用！　高段差のパターンも用意あり

アドバンスマテリアルズテクノロジーでは、 テスト用ウェハの中でも特に、成膜・CMP・洗浄・エッチング・TSVの 研究開発に必要な先端の技術を盛り込んだウェハを供給しています。 画像はHDP、SiN on Si の例です。 200mm 300mm にて対応可能です。 対応膜種はご希望によりご相談ください。 高段差のパターンもご用意があり、 CMP研究・開発用途に大変有用です。 ...

メーカー・取り扱い企業： アドバンスマテリアルズテクノロジー株式会社

【CMP用テストウエハ】MIT STI CMP wafer

200mm 300mm にて対応可能！　対応膜種はご希望によりご相談く…

アドバンスマテリアルズテクノロジーでは、 テスト用ウェハの中でも特に、成膜・CMP・洗浄・エッチング・TSVの 研究開発に必要な先端の技術を盛り込んだウェハを供給しています。 画像はHDP、SiN on Si の例です。 200mm 300mm にて対応可能です。 ※MITマスク使用 対応膜種はご希望によりご相談ください。 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合...

メーカー・取り扱い企業： アドバンスマテリアルズテクノロジー株式会社