• 「画像処理外観検査」導入の小冊子 ※技術資料&提案事例2冊進呈中 製品画像

    「画像処理外観検査」導入の小冊子 ※技術資料&提案事例2冊進呈中

    PR今さら聞けない画像処理検査装置の仕組みや導入にあたっての注意点などをま…

    人の目の代わりにカメラを使用し、解析や処理を行う画像処理外観検査! 自動化によるメリットや導入にあたってのポイントなどをまとめた必読の技術資料です。 また、多くの業種で導入実績をもつエーディーディーの強みや導入までの解説書も合わせてダウンロードいただけます。  【画像処理外観検査導入への入門書(検査システムの仕組みから様々な導入スタイルの紹介)】 ■画像処理外観検査を導入する意味と仕組...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エーディーディー

  • 金属からCFRPに置きかえが進む理由とは? 製品画像

    金属からCFRPに置きかえが進む理由とは?

    PR各種業界から注目されているCFRP(炭素繊維強化プラスチック)。なにが…

    【CFRPを使用する主なメリット】 ■軽量で比強度に優れているため、製造ラインの省力化を実現。エネルギーコスト低減によりCO2排出量の削減も可能。 ■振動減衰性に優れ、搬送装置において高速化かつ高精度により生産性が向上する。 ■熱膨張率が低く、高温下でも機能的特性の低下が少ない。 ■X線透過性に優れているため、少ない照射量・被曝量で鮮明な画像が撮影可能。 例えば搬送装置用アームでは、生産性が最大...

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    メーカー・取り扱い企業: TIPcomposite株式会社

  • コスト解析サービス 製品画像

    コスト解析サービス

    ICのコストを解析します

    ICのX線画像を撮影し、コスト解析をいたします。コストダウンを検討されているお客様はぜひご検討ください。...ICのX線画像を撮影し、コスト解析をいたします。コストダウンを検討されているお客様はぜひご検討ください。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ロジック・リサーチ

  • IS製品シリーズ 【事例】半導体の構造解析 製品画像

    IS製品シリーズ 【事例】半導体の構造解析

    故障部位の「平面研磨」及び「断面研磨」を行い、原因の特定を行いました。

    PKGの実装前の観察画像に対し、基板実装後に内部の様子に変化が生じたため、観察画像の結果より、故障部位の「平面研磨」及び「断面研磨」を行い、原因の特定を行いました。同モードの不良がいくつかある場合には、平面研磨・断面研磨と両方からの解析及び観察ができます。変化した部位に空洞が発生していることから、電子部品と基板間には半田ボールで接続後、アンダーフィルを流し込み密着性を上げました。この白い部分には「...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社池上精機

  • 【CMP用テストウエハ】Ecu ブランケットウェハ 製品画像

    【CMP用テストウエハ】Ecu ブランケットウェハ

    画像はCuブランケットウェハの例です!

    アドバンスマテリアルズテクノロジーでは、 テスト用ウェハの中でも特に、成膜・CMP・洗浄・エッチング・TSVの 研究開発に必要な先端の技術を盛り込んだウェハを供給しています。 画像はCuブランケットウェハの例です。 7KA、15KAで成膜した時のCross SEMのウェハです。 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。...【サービスについて】 当社では、...

    メーカー・取り扱い企業: アドバンスマテリアルズテクノロジー株式会社

  • 【分析事例】STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した解析 製品画像

    【分析事例】STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した解析

    像シミュレーションを併用した結晶形の評価

    高分解能HAADF-STEM像は、結晶の原子配列を反映した画像であることから、種々の結晶方位に対応したSTEM像をシミュレーションすることにより、多結晶体中の結晶粒間の相対方位や観察像の正確な理解に役立ちます。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石中の結晶粒について、EBSD法で得た結晶方位の情報からSTEM像をシミュレーションし、実際の高分解能HAADF-STEM像と比較した事例を紹介します...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • EDS(エネルギー分散型X線分光法)による元素分析のご紹介 製品画像

    EDS(エネルギー分散型X線分光法)による元素分析のご紹介

    SEMでの高倍率観察中に試料の特定箇所をピンポイントで評価できるため、…

    電子顕微鏡(SEM)にて画像観察する際、電子線を物質に照射すると蛍光X線が発生します。 その中には元素固有の情報を持った特性X線が含まれています。 これを半導体検出器のようなエネルギー分散型検出器にて検出し、そのエネルギーと強度を測定すると、 物質を構成する元素を定性的に解析することが出来ます。 【特長】 ■定量分析が可能(バルク材料など) ■多元素同時測定が可能で分析時間が短...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【パターンウェハ】CD 50nm STI Pattern 製品画像

    【パターンウェハ】CD 50nm STI Pattern

    200mm 300mm にて対応可能! 対応膜種はご希望によりご相談く…

    アドバンスマテリアルズテクノロジーでは、 テスト用ウェハの中でも特に、成膜・CMP・洗浄・エッチング・TSVの 研究開発に必要な先端の技術を盛り込んだウェハを供給しています。 画像は、HDP、SiN on Si の例になります。 200mm 300mm にて対応可能です。 ※MITマスク使用 対応膜種はご希望によりご相談ください。 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくは...

    メーカー・取り扱い企業: アドバンスマテリアルズテクノロジー株式会社

  • クロニクス株式会社 会社案内 製品画像

    クロニクス株式会社 会社案内

    海外とのインターフェイスとして日々活動!お客様が満足されるようにいつも…

    当社は、欧米の先端半導体とその製品を輸入販売する商社です。 製品の検査、不良解析も自社で行えるシステムでお客様に貢献。 SFAソフトを導入してお客様に迅速に対応しています。 外国メーカーとお客様を技術的につなぐ役割を果たすため、 海外メーカー訪問もお客様と共に実施する事を実現しています。 【事業内容】 ■外国系半導体・電子部品の輸入販売 ■LED電球、LED蛍光灯、LED...

    メーカー・取り扱い企業: クロニクス株式会社

  • 過酷な環境へAIを実装、産業用AIチップを利用した解決策 製品画像

    過酷な環境へAIを実装、産業用AIチップを利用した解決策

    AIを実装する環境でお悩みではありませんか?産業用途に適したAIチップ…

    ■AIチップとは■ AIチップとは、AIの演算処理を高速化するための半導体です。 画像処理やAI処理において、学習用はGPUでほぼ標準化されつつあります。一方で、学習用と推論用とではスペックも異なり、推論用ではGPU以外にもFPGAやASICで実現が可能です。 特にエッジ向けの推論用は、IoTと共に現場でAIを処理するデバイスに実装されるため「演算処理のパフォーマンス」だけではなく、「小...

    メーカー・取り扱い企業: アナログ・テック株式会社

  • 【パターンウェハ】MIT STI CMP wafer  製品画像

    【パターンウェハ】MIT STI CMP wafer

    200mm 300mm にて対応可能! 対応膜種はご希望によりご相談く…

    アドバンスマテリアルズテクノロジーでは、 テスト用ウェハの中でも特に、成膜・CMP・洗浄・エッチング・TSVの 研究開発に必要な先端の技術を盛り込んだウェハを供給しています。 画像はHDP、SiN on Si の例です。 200mm 300mm にて対応可能です。 ※MITマスク使用 対応膜種はご希望によりご相談ください。 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合...

    メーカー・取り扱い企業: アドバンスマテリアルズテクノロジー株式会社

  • 【パターンウェハ】3D ILD Pattern 製品画像

    【パターンウェハ】3D ILD Pattern

    CMP研究・開発用途に大変有用! 対応膜種はご希望によりご相談ください…

    アドバンスマテリアルズテクノロジーでは、 テスト用ウェハの中でも特に、成膜・CMP・洗浄・エッチング・TSVの 研究開発に必要な先端の技術を盛り込んだウェハを供給しています。 画像は、HDP、SiN on Si の例になります。 200mm、300mmにて対応可能です。 対応膜種はご希望によりご相談ください。 高段差のパターンもご用意があります。 CMP研究・開発用途に大変有...

    メーカー・取り扱い企業: アドバンスマテリアルズテクノロジー株式会社

  • 【CMP用テストウエハ】3D ILD Pattern wafer 製品画像

    【CMP用テストウエハ】3D ILD Pattern wafer

    CMP研究・開発用途に大変有用! 高段差のパターンも用意あり

    アドバンスマテリアルズテクノロジーでは、 テスト用ウェハの中でも特に、成膜・CMP・洗浄・エッチング・TSVの 研究開発に必要な先端の技術を盛り込んだウェハを供給しています。 画像はHDP、SiN on Si の例です。 200mm 300mm にて対応可能です。 対応膜種はご希望によりご相談ください。 高段差のパターンもご用意があり、 CMP研究・開発用途に大変有用です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: アドバンスマテリアルズテクノロジー株式会社

  • 【CMP用テストウエハ】MIT STI CMP wafer  製品画像

    【CMP用テストウエハ】MIT STI CMP wafer

    200mm 300mm にて対応可能! 対応膜種はご希望によりご相談く…

    アドバンスマテリアルズテクノロジーでは、 テスト用ウェハの中でも特に、成膜・CMP・洗浄・エッチング・TSVの 研究開発に必要な先端の技術を盛り込んだウェハを供給しています。 画像はHDP、SiN on Si の例です。 200mm 300mm にて対応可能です。 ※MITマスク使用 対応膜種はご希望によりご相談ください。 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合...

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