結晶 | イプロスものづくり

PRサブミクロンから塊状まで幅広くカスタマイズ可能なSiOパウダー。LiB…

当社は、リチウムイオン電池（LiB）負極材料などとして活用可能な『一酸化ケイ素（SiO）』を提供しています。粉末状（1～100μm）、粒状（1～5mm）、塊状（50～200mm）に対応し、サブミクロンレベルまでカスタマイズ可能です。 1μmの粉末でSiO純度99.8％、5μmの粉末でSiO純度99.9％などの製品事例があります。【特長】 ■製造方法：結晶化学気相成長法 ...

メーカー・取り扱い企業：日本NER株式会社

EBSD法によるCu結晶解析

Cu板における圧縮前後での変化を観察！圧縮前後の結晶粒径の半化を比較で…

EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。 Cu板における圧縮前後での...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【EBSDによる結晶解析】アルミ溶接部（スポット溶接）

溶接部は大きな結晶粒が多く分布していることが確認できた解析例をご紹介！

て、アルミの溶接断面を断面方向から分析を行いましたので、ご紹介いたします。アルミケースにアルミ板をスポット溶接したサンプルについて、溶接部の断面を作製し、EBSD分析を実施。結晶粒サイズの分布では、母材部に比べ、溶接部は大きな結晶粒が多く分布していることが確認できました。【解析概要】 ■結晶粒の可視化・母材部に比べ、溶接部は結晶粒の形状や大きさが異なること...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

EBSD解析

結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能！EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターンの結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を解析する手法です。金属やセラミック等の結晶質のものは、立方体等の結晶格子...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

EPMA分析における7つの分光結晶

"波長分散型X線分光器（WDS）の測定原理"や"22Tiの測定例"など…

EPMAには、7つの分光結晶があり、目的とする元素の波長に合わせて分光器を選択することで、エネルギー分解能や検出感度が良く、微量成分の定量分析やマップ分析等で優れた結果を得ることが出来ます。当資料では、"波長分...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

EBSD法による解析例

EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹…

EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。例えば、SEM中で試料を大...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

カーボン材料のラマン分析

ラマンスペクトルを測定！カーボン材料の構造や結晶性に関する情報を得る事…

されています。当社では、ラマン分析によりカーボン材料の構造の違いを評価。 CB、活性炭ではグラファイトに比べGバンドのピークがブロードになり、半値幅が大きくなりました。これは、結晶子サイズが異なる事を示しており、グラファイトはCB、活性炭より結晶子サイズが大きい事が分かります。【カーボン材料によるラマンスペクトルの違い】 ■グラファイトは1580cm-1付近のG...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【イメージングFT-IRによる有機多層膜の分析】アルミ

マイクロATR結晶を密着！赤外線の全反射により表面付近の分析を⾏う⼿法…

ジングから、アルミ・ラミネート・フィルムといった有機多層膜の断面解析を行うことができます。 ATR法（Attenuated Total Reflection）は、分析対象物にマイクロATR結晶を密着させ、赤外線の全反射により表面付近の分析を行う手法です。対象物に当てる結晶の屈折率の影響で、見かけの空間分解能が高くなり、より小さな異物の分析が可能となります。【ATR...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

FE-SEM観察（Alワイヤボンディング部結晶粒観察）

⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像！表⾯情報に敏感なインレンズSE検出…

【適応対象】 ■ICパッケージ、実装・接合部品、実装基板、LSIデバイス、LCD薄膜、　⾦属表⾯状態、結晶粒の観察・分析など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【EBSDの事例】2つの黄銅材を比較

結晶構造の違いをもとに、2つの試料の差異を可視化！EBSD分析の事例を…

ル分析を行ったところ、黄銅は主としてCu(銅)とZn(亜鉛) から成り、両試料の元素組成は比較的似通っているように見えました。また、EBSD分析を行い相マップを確認した結果、試料1の⼀部に結晶構造の異なるβ相が見られました。【事例概要】＜元素分析による2つの黄銅材の比較＞ ■分析方法：SEM-EDXによる分析 ■結果　・スペクトル分析を行ったところ、黄銅は主として...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

パワー半導体の解析サービス

故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

【故障箇所特定から拡散層評価や結晶構造などの物理解析まで対応】 ■裏面発光/ OBIRCH解析による故障箇所特定 ■故障箇所への高精度位置特定、FIB加工 ■不良箇所のFIB/LV-SEM観察、EBIC解析による拡散層形状評価...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

WPAによる製品／素材の歪、複屈折評価

素材の配向、歪、複屈折を評価することで、内部応力、歪状態を把握できます…

さい。【特長】 ■内部応力、歪状態を把握することが可能 ■材料の歪、複屈折の評価を分子の視点で解明 ■複数の手法でマトリックスに解析し、不具合、理論を解明　・ラマン分光（定性/歪/結晶性）、XRD（X線回折）、AFM/SEM/TEM 　（結晶構造観察）、DSC（結晶化度）など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

ウィスカ評価

検査員が逃さず観察！信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能で…

鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生する金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。当社では、信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です。基板中のどの部品、どのピンにウィスカが発生しているか検査員が逃...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

TEMによる電子部品・材料の解析

TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…

TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の解析を行う事ができます。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察

SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに…

EMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察を行っております。 FIBを用いた特定箇所の断面作製、LV-SEM/EBICによる拡散層の形状観察、さらにTEMによる配線構造、結晶構造までのスルー解析が SiCパワーデバイスでも対応できます。「LV-SEM拡散層観察」では、PN接合の内蔵電位に影響を受けた二次電子（SE2）をInlens検出器で検出。 FI...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

形状記憶合金の変態温度測定

物質が温度変化にともない相変態を起こすとき、熱エネルギー変化が起こりま…

■ニッケルチタン系形状記憶合金では、Ti/Ni比が変態温度に影響を及ぼす事が　知られており、Ni量が多くなると変態温度は下がるとされている ■AとBの変態温度の差は、製造時の処理の差により結晶状態に差が　出ている可能性が考えられる ■DSCは形状記憶合金の様に、相変態に伴う熱エネルギーの出入りを捉える事が可能 ■Ni：A49.2、B49.5、C55.5 ■Ti：A50.8、B5...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

EPMAによる状態分析

標準スペクトルと比較することで結合状態を推定！EPMAによる状態分析を…

EPMAによる状態分析では、酸化物やケイ酸塩の化学結合状態（イオン価、結晶構造、配位数）の異なりから、特性X線ピーク波長に変化（シフトや波形）が生じることを利用し、標準スペクトルと比較することで結合状態を推定します。 2種類の銅酸化物の識別において、黒色CuOと...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析

顕微ラマンを用いることにより微細な範囲(1μm～)の結晶化度評価が可能…

株式会社アイテスでは、分析解析・信頼性評価サービス「顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析」を行っております。顕微ラマン分光光度計によって得られるスペクトルから、ピークの半値幅の違いにより、微細な範囲で樹脂材料の結晶化度を求めることが可能。 PETボトル飲み口か...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

SiCデバイスの裏面発光解析

SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対…

では、海外製SiC MOSFETをESDにより、 G-（D,S）間リークを作製、発光解析にて、リーク箇所を示す多数の発光を検出。発光箇所をTEM観察したところ、SiO2膜の破壊、SiC結晶にダメージが認められました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

顕微ラマンによる金属腐食の分析

金属酸化物などの無機化合物の分析も可能です！

鉄の腐食過程は腐食の進み具合により種々の化合物が混在しており、同じ鉄の酸化物、水酸化物でも、価数や結晶構造の差異によってスペクトルが異なります。ラマン分析により、ミクロンオーダーの微細な範囲での鉄の酸化状態が確認が可能です。【分析内容】 ■鉄表面に発生した錆の分析・FeOOHと...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

DSC（示差走査熱量分析）の測定事例

DSCで熱特性を⽐較！種類の判別、ポリマー分⼦鎖の状態から材料特性に与…

ポリエチレン（PE）はその側鎖分岐の長さや数によって、幾つかの種類があり材料特性が異なります。結晶性高分子であるポリエチレンの融解ピークから、 DSCにて融点及び結晶化度を測定しポリエチレンの種類ごとに比較しました。長い側鎖が多く分子鎖が密になり難いLDPEは、融点が低く結晶化度も...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

信頼性保証サービスのご紹介

JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じ、様々なエレクトロニクス製…

■マイクロフォーカスX線透過観察 ■超音波顕微鏡観察 ■ESD評価試験 ■CDM評価試験 ■万能引張評価試験 ■断面（研磨）観察サービス（環境試験前後の評価も可能です） ■太陽電池（結晶シリコン/アモルファスシリコン/化合物/有機薄膜など）EL発光現象 ■発熱観察...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】ウィスカ観察

信頼性試験から観察、3次元測長まで支援！輸送リスクを排除したウィスカ評…

鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生する金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。当社では、深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープによりウィスカを観察するとともに、3次元測長を行い、ウィスカ成長を評価します。 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】ビニルポリマー（樹脂材料）のIR分析

ポリスチレン、塩化ビニル（塩ビ）などのIR分析を行った結果をご紹介！

ビニルポリマーには多くの種類があり、その側鎖の分子構造によってさまざまな特性を発現。また、その側鎖の結合配置（立体異性体）により、結晶性に差が生じます。当資料では、ビニルポリマーの中でも代表的な、ポリエチレン、ポリプロピレン､ポリスチレン、塩化ビニル（塩ビ）のIR分析を行った結果をご紹介。アイテスは、微妙な...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】EPMA分析例その2

EPMAによる分析は、PET、PETH分光結晶で検出することができ、1…

EPMAはEDXと比較すると検出分解能が優れています。 EDXでは元素の検出位置が近く、ピーク分離が困難な場合であっても、 EPMAであればピーク分離が可能な場合があります。当資料は、47Agと17Clのピーク分離についてご紹介。チップ抵抗器の断面観察や、47AgのX線スペクトル、マッピング比較などを掲載しております。【掲載内容】 ■47Agと17Clのピーク分離...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察

微細なクラックが見やすい！導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ま…

可能性がある微小なクラックもSEM観察では明確に確認することが可能です。しかも卓上SEMなら、導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ます。【特長】 ■蒸着不要 ■簡易的に結晶粒が見える ■微細なクラックが見えやすい ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【EBSDによる結晶解析】はんだ接合部における金属間化合物

はんだ接合部における金属間化合物の結晶解析例をご紹介いたします

SEM像、Phaseマップ、結晶粒ごとにHigh lightするCu6Sn5のIQマップ、粒界の回転角をHigh lightするCu6Sn5のIQマップを用いて、 EBSD法による結晶を解析しました。 Cuパッド/はん...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【EBSDによる結晶解析】BGA

EBSD法により、結晶状態や残留応力の推測が可能！BGAの解析例をご紹…

BGA(Ball Grid Array)の解析例をご紹介いたします。顕微鏡による観察では、光学顕微鏡とSEMを使用。 EBSD法による結晶解析では、Phaseマップ、SnのGrainマップ、 SnのIPFマップ、SnのGRODマップを使用し、結晶状態や残留応力の推測が可能です。【概要】 ■EBSD法による結晶解析・...