• エルコメーター456 膜厚計&ウルトラ・スキャンプローブ 製品画像

    エルコメーター456 膜厚計&ウルトラ・スキャンプローブ

    PR膜厚の超高速読み取り機能とBluetooth(R)による測定データの転…

    「エルコメーター456 膜厚計&ウルトラ・スキャンプローブ」は、 広い面積、多くの測定箇所で膜厚管理を要求される工事仕様で 素早く膜厚を測定し、データ編集・作成することができる膜厚計です。 毎分140回の速度で膜厚を測定することが可能で、測定値は膜厚計本体に保存。 保存されたデータはBluetooth(R)を使って、モバイル端末、PCに リアルタイムで転送、測定数値を編集アプリで管理することが...

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    メーカー・取り扱い企業: Elcometer株式会社 エルコメーター

  • 『アルマイト処理/加工』※アルマイト処理に関する技術資料を進呈 製品画像

    『アルマイト処理/加工』※アルマイト処理に関する技術資料を進呈

    PR当社の高精度なアルマイト処理技術により、 アルミニウム製品へアルマイ…

    試作から量産まで、幅広いご要望に対応いたします。 【特長】 ■耐食性・耐摩耗性・熱放射性などの特性が向上 ■高い電気絶縁性 ■シュウ酸アルマイトは、硫酸アルマイトに比べて表面の粗化を抑制  また、高Si含有のアルミダイカスト部品に対し膜厚均一性が高い ■低反射率化(光学機器・センサー等で不要な反射を抑制) ■抗菌作用の付与 ■アルマイト条件を高精度に管理することで、 膜厚・皮膜...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社豊田電研

  • EELS分析手法による膜質評価 製品画像

    EELS分析手法による膜質評価

    元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です!

    当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 EELS分析とEDS分析は、TEM試料に加速した電子を照射することで 元素同定を行う分析手法です。 「異なるカーボン膜」の事例では、状態分析が特長である EELS分析手法を用いてナノ領域での膜質評価を行いました。 EDS分析ではスペクトルの比較からBottom膜のみN,Oを微量に検出。 EELS分析では2つの...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【受託分析】レーザー顕微鏡(観察&測定) 製品画像

    【受託分析】レーザー顕微鏡(観察&測定)

    広範囲での観察、計測も可能!レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

    当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚測定等の各種、測定ができ、対象の サイズや求める精度により、適した対物レンズを選択し、観察や測定を実施。 範囲はレンズに応じて異なりますが、連結機能を有しているため、広範囲での 観察、計測...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【受託分析】レーザー顕微鏡(高精度3D測定&カラー観察) 製品画像

    【受託分析】レーザー顕微鏡(高精度3D測定&カラー観察)

    試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です!

    観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。 レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定ができ、透明体の膜厚形状や 透明体越しの表面形状測定が可能です。 【特長】 ■試料表面の凹凸形状の3D測定が可能 ■透明体の膜厚形状や透明体越しの表面形状測定が可能 ■408nmレーザーを用いて観察、計測...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーデバイスの故障解析 製品画像

    パワーデバイスの故障解析

    ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

    あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理-裏面研磨-  各種サンプル形態に対応します。  Siチップサイズ:200um~15mm角 ■不良箇所特定-裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析-  IR-OBIRCH...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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