• 産廃費大幅削減、CO2白煙無し、磁力熱分解処理装置SWP-120 製品画像

    産廃費大幅削減、CO2白煙無し、磁力熱分解処理装置SWP-120

    PR燃料不要電気のみ、月額約10万円、有害ガス排出無し、産廃費大幅削減、プ…

    石油化学製品、プラスチック、樹脂製品、ウレタン、発泡スチロール、フィルム、シート、固化した塗装ゴミ、ゴム製品、プリント基板、電線、木材、梱包材、紙、売れ残った衣服、軍手、ウェス等ごみを燻焼処理しわずかな灰にしランニングコストが非常に低い、脱炭素社会に適した磁力有機廃棄物燻焼炭化炉装置SWP-120。従来のSWP-120に有った、排気ガスを水で洗浄するスクラバーが無くなり、水が必要なくなったため、屋...

    メーカー・取り扱い企業: カッティングエッジ株式会社

  • 電子機器トータルソリューション展2024出展のご案内 製品画像

    電子機器トータルソリューション展2024出展のご案内

    PR高品位微細印字で幅広い素材にも対応できる「新型基板マーキング装置」と「…

    「最先端クラスのプリント基板製造に提供する新たなソリューション」をテーマに 三菱電機株式会社様ブースにて「新型基板マーキング装置」と「基板分割機」の 実機を展示いたします。 「新型基板マーキング装置」はプリント基板のトレーサビリティに必要な二次元コードや 文字の高速微細印字および多様な素材に対応した高精細印字をご提案いたします。  ※ブースにご来場いただいたお客様へ先着順で記念品をプレゼント! ...

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    メーカー・取り扱い企業: 名菱テクニカ株式会社 三菱電機グループ

  • アイテス 装置一覧 製品画像

    アイテス 装置一覧

    アイテスの解析・評価・試験サービスに使用する装置一覧です

    アイテスは、最先端産業分野でお客様の課題に真摯に取り組む 解決提案型企業です。 各種保有装置を駆使し、最適なソリューションを提供します。 ■製品解析/不良解析/故障解析  形態観察・電気特性測定・不良解析・故障解析・試料加工 ■信頼性評価試験  信頼性評価試験・ESD/ラッチア...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 液晶材料分析 製品画像

    液晶材料分析

    豊富な装置と知見!化学機器分析で材料全般の分子構造を解明いたします!

    Dパネルに使用する低分子もあれば、 プリント基板や電装部品などに使用される高分子もあります。 それら低分子液晶、高分子液晶(LCP)の分子構造を解析した事例をご紹介。 当社では、豊富な装置と知見で、液晶材料のみならず、様々な素材の 信頼性試験、分析解析にご対応いたします。海外輸入品・素材の分子構造の 把握や不具合解明など、お気軽にご相談ください。 【事例内容】 ■FT-I...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【事例集】X線透視・CT検査装置 製品画像

    【事例集】X線透視・CT検査装置

    X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」「表面実装…

    当資料では、当社で行ったX線透視やCT検査装置のさまざまな解析事例をご紹介しております。X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」をはじめ、「表面実装LED」や「チップ抵抗の観察事例」などを掲載。 【掲載内容(抜粋)】 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計 製品画像

    【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計

    新しく装置を導入!試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法を…

    スクロマトグラフ質量分析計」を 導入しました。 試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法の一つで、 部品・部材・残存溶媒や添加剤など、揮発性有機物の定性・定量に 用いられる分析装置です。 測定対象がガス化することが必要条件(沸点300℃未満)となりますが、IRや RAMANに比べ感度が高い点、GC部での成分分離が可能な点から、混合物の 成分分析に向いています。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ 製品画像

    顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ

    太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

    PVX1000+POPLI-μは、太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...製品特長 1.シリコンウェハ(6インチ角以下) ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 透明素材の曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス 製品画像

    透明素材の曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス

    ガラス、ITOなどの透明素材に!各透明樹脂・紫外線照射前後の測定評価も…

    当社では、透明素材(透明フィルム/シート、ガラス、ITOなど)の 『曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス』を行っております。 曇り度合いや光の拡散度合いを測定するヘーズメーター装置を使用。 平行成分P.Tと拡散成分全てを含めた全光線透過率T.Tと平行成分を除いた 拡散透過率DIFの比で表されます。 当サービスのご提供とともに、分子構造視点のデータ解析考察も ご...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス 製品画像

    クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス

    高い加工精度と広い加工領域を実現!冷却機能でダメージを軽減しながらの加…

    CP法は、機械研磨法に比べ、研磨によるダメージがない状態で断面を 観察することが可能です。 当社の冷却機能付トリプルイオンミリング装置は、3方向から照射する イオンビームにより、高い加工精度と広い加工領域を実現。 熱に弱い材料の場合には冷却機能でダメージを軽減しながらの加工も可能です。 【特長】 ■加工幅約4mm/...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】高温GPC(SEC)による樹脂の分子量測定 製品画像

    【資料】高温GPC(SEC)による樹脂の分子量測定

    分析装置でもポリマーの分析評価にご対応!高温SECの装置構成と原理など…

    ます。 この分子量および分布を把握することで樹脂の特性や劣化などメカニズム理論の 理解に繋がります。 当資料では、常温で溶剤に溶解しにくいポリオレフィン系の測定に相応しい 高温GPC装置にて、ポリプロピレン樹脂(PP)で紫外線(UV)照射有無の 試料を測定しデータ解析を行った事例をご紹介いたします。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■高温SECの装置構成と原理...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーサイクル試験と特性評価 製品画像

    パワーサイクル試験と特性評価

    パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託!故障解析・分…

    株式会社アイテスでは、シーメンス製(メンター製)のパワーサイクル 試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。 試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。 また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。 パワーサイクル試験...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】信頼性試験、曇価測定、IR分析のセットメニューサービス 製品画像

    【資料】信頼性試験、曇価測定、IR分析のセットメニューサービス

    恒温恒湿試験前後の曇価測定、IR分析で素材の特性、分子構造変化が把握で…

    り変色、変質する場合があり、 透明素材は、その透明性、高い透過率が価値ある特性となりますが、 劣化変質によりその特性が低下することで、素材としての機能を失います。 当資料では、「信頼性試験装置例」をはじめ「曇価測定結果」や 「IR分析結果」を表とグラフを用いて解説。 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■信頼性試験装置例(恒温恒湿試験装置) ■曇価(ヘーズ)測定結果 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】ウィスカ観察~平面ウィスカ観察のコツ~ 製品画像

    【資料】ウィスカ観察~平面ウィスカ観察のコツ~

    装置による見え方の違いやサンプル角度による見え方の違いや光源などをご紹…

    ウィスカは、はんだ付け部や部品リード部に発生するものと思われがちですが、 平面部品のめっき表面からもウィスカは発生します。 観察するにはちょっとしたコツが必要なのです。 当資料では、装置による見え方の違いをはじめ、サンプル角度による 見え方の違いや光源やレンズ角度による見え方の違いについて掲載しています。 【掲載内容】 ■装置による見え方の違い ■サンプル角度による見え...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 高温ラッチアップ試験 製品画像

    高温ラッチアップ試験

    高温状態での動作が要求されるデバイスに!高温でのラッチアップ試験をご紹…

    デバイス等を熱風発生器で加温) ■制御方法: デバイス付近にセンサーを設置し温度調節器で制御(温度センサ:Pt100)  事前確認としてデバイス表面温度を測定し、ヒーターの出力値を調整 ■試験装置: ESD/ラッチアップテスタ M7000A-512EL ■装置仕様: VCC電源搭載数4台(VCC1:100V/0.5A、VCC2~VCC4:50V/1A)  電源過電圧印加法のVCC電圧+V...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ESD(CDM)試験受託サービス 製品画像

    ESD(CDM)試験受託サービス

    印加ピンの接触確認機能により確実に印加!直接チャージ法と電界誘導法にも…

    直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応。 また、ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も 可能です。(別装置を使用) 【特長】 ■各種規格条件JEDEC、JEITA(EIAJも可)、AECに対してユニット交換で対応 ■直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • プラスチック成形品の歪、複屈折評価 製品画像

    プラスチック成形品の歪、複屈折評価

    複屈折位相差(歪)や流れ方向・応力方向(主軸方位)の視覚化が可能です!

    その応力の指標である複屈折位相差(歪)や 流れ方向・応力方向(主軸方位)の視覚化が可能です。 例として、ポリスチレン(PS)成形品を加熱条件で比較した複屈折評価を ご紹介します。 【装置原理】 ■複屈折を持つ透明体に光を当てると、その偏光状態が変化する性質がある ■複屈折測定装置を使用することで、偏光情報を専用の偏光イメージセンサで  視覚化することが可能 ■523nm・5...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 発熱解析による電子部品の故障箇所特定 製品画像

    発熱解析による電子部品の故障箇所特定

    故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能!高精度な発熱箇…

    検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇所を特定 ■サンプルを非破壊の状態で解析したり、OBIRCHやエミッショ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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