サイクロン式クーラント液浄化装置　※デモ機有り

PR【SDGsに貢献】省電力ながらスラッジを効率的に除去！フィルタレスと液…

「液の入れ替えやタンクの清掃が面倒だ」 「フィルタのランニングコストを下げたい」 「産廃排出量を低減したい」 「液の温度管理がしたい」 「製品の不良率を低減したい」 現場ではこの様な声をよく聴くことがあります。 弊社では省電力ながらスラッジを効率的に除去するサイクロン式クーラント液浄化装置を提供することで、 SDGｓに貢献できると考えております。 スラッジを除去することで液を循環して使用でき、...

メーカー・取り扱い企業： 日本スピンドル製造株式会社 環境事業部

コーティング剤検査装置『Sonar』

PRUVライトを使った2Dコーティング剤検査装置。独自開発AIを使った気泡…

『Sonar』は、弊社が持つ画像処理検査技術とUVライト＋RG照明を組み合わせたコンフォーマルコーティング剤検査装置です。 コーティング領域の全面検査とコーティング不可領域の任意検査に加え、自社開発AI技術を使った気泡検出機能が標準装備されています。また、レーザー変位センサを使った膜厚測定（オプション）を搭載することでワーク毎のコーティング厚のバラつきを記録することが可能になります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジュッツジャパン

シエンタオミクロンSPM（走査型プローブ顕微鏡）超高真空排気装置

走査型プローブ顕微鏡用の様々な超高真空排気装置をご用意しております

各種SPM用超高真空排気装置、ボルトオン型SPM用超高真空排気装置（後日前処理室拡張可能／試料前処理室付き）、LT-SPM用超高真空排気装置（試料前処理室拡張可能）、Cryogenic型SPM用超高真空排気装置など、様々なタイ...

メーカー・取り扱い企業： シエンタ オミクロン株式会社

シエンタオミクロン　複合型分析装置

様々なタイプの複合型分析装置をご用意しております

角度分解分析用超高真空排気装置、HREELS用超高真空排気装置、MBE用超高真空排気装置、複合型分析用超高真空排気装置、UHV NANOPROBEなど、様々なタイプの複合型分析装置をラインナップ。 また、大型複合装置として、成...

メーカー・取り扱い企業： シエンタ オミクロン株式会社

低速電子線回折装置『LEED』

直径10mmの電子銃が、影面積を最小限に抑えてLEEDパターン像を取得

『LEED』は、OCI社製の低速電子線回折測定が出来る装置です。 当製品の電子銃は直径10mmで、スクリーンの視野が広く、電子銃による 影面積を最小限に抑えてLEEDパターン像を取得することができます。 また、レンズ部分をシリンダー構造にすること...

メーカー・取り扱い企業： シエンタ オミクロン株式会社

シエンタオミクロン　表面分析装置　ESCA

X線光電子分光分析装置

X線光電子分光分析装置をご用意しております。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...

メーカー・取り扱い企業： シエンタ オミクロン株式会社

【基礎研究者向け】表面分析についてはお任せください！

光電子分光関連装置～超高真空技術を駆使した走査型トンネル顕微鏡(STM…

光電子分光(PES)の黎明期からその重要性に着目し、世界のトップブランドとして、多くの関連装置を開発し、市場に導入してきました。 その他、超高真空技術を駆使した走査型トンネル顕微鏡(STM)、原子間力顕微鏡(AFM)など、卓越した製品群を通じて市場に提供し続けています。 【紹介製品※...

メーカー・取り扱い企業： シエンタ オミクロン株式会社

Custom MBE Systems（真空蒸着装置）

真空蒸着装置の紹介です。

ers ●III-N MBE system for 3 inch substrates with additional in situ VT SPM ●MBE & Catalysis ※各装置の詳細はお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： シエンタ オミクロン株式会社

HiPP-Lab（環境制御型X線光電子分光分析システム）

大気圧レベルの圧力での測定を可能にしたXPS分析装置！

HiPP-Labは、大気圧レベルの圧力での測定を可能にしたXPS分析装置をさします。 差動排気システムを用いて大気圧に近いレベルでの測定環境下で試料の測定が可能となり 今まで測定出来なかった環境制御下における次世代のXPS装置です。 【用途】 環境制御下...

メーカー・取り扱い企業： シエンタ オミクロン株式会社

シエンタオミクロン　SPM（走査型プローブ顕微鏡）用アクセサリ

走査型プローブ顕微鏡用の様々なアクセサリをご用意しております

【ラインナップ】 ○探針加熱クリンーニング装置 →取付フランジ：ICF70 →電源：15V/3A DC、+1kV、2mA ○探針作製装置　W-TEK ○スポット溶接機　OM97 →UHV部品などを溶接する際などに使用 →出力：20W...

メーカー・取り扱い企業： シエンタ オミクロン株式会社

LT STM（極低温走査トンネル顕微鏡）

極低温環境における走査トンネル顕微鏡の紹介

LT STM（極低温走査トンネル顕微鏡）とは、極低温環境における走査トンネル顕微鏡をさします。 多数の販売実績のある装置で、5K以下の極低温でのSTM測定が可能な装置です。 【用途】 極低温環境におけるナノ領域のSTM観察・測定 【特長】※英語表記です。 ●Increased hold time to...

メーカー・取り扱い企業： シエンタ オミクロン株式会社

ARPES-Lab　（ARPES光電子分光分析システム）

ARPESでのXPS観察・測定に！次世代のARPES測定装置の紹介です…

ARPES-Lab　（ARPES光電子分光分析システム）、XPS観察・測定に使用される装置です。 【用途】 ARPESでのXPS観察・測定 ―‐‐以下英文による紹介です。 The ARPES-Lab brings together the world leading in...

メーカー・取り扱い企業： シエンタ オミクロン株式会社

シエンタオミクロン　走査型プローブ顕微鏡

お客様のご要望に応じた多種多様な顕微鏡をご提供しております

か、これらのご要求で基本オプションを装備している顕微鏡が分かれます。 ”機能”は、トンネル顕微鏡（STM）だけで良いのか、原子間力顕微鏡（AFM）を含める必要があるかどうかです。この機能は納入後で装置をアップグレード（変更や改造）することはできません。初めの機能を維持することになります。豊富なオプションはご用意しておりますが、基本性能を変更するオプションはご用意しておりませんのでご注意ください。...

メーカー・取り扱い企業： シエンタ オミクロン株式会社

HAXPES-Lab（ラボ型硬X線光電子分光分析システム）

放射光施設でのみ可能であった硬X線光電子分光がラボでも使用可能に！

今までの汎用XPSでは到達できなかった深さを分析できる次世代のXPS装置です。 これまで放射光施設でのみ使用可能だった硬X線の使用が可能になりました。 Ga ka単色化線源により９．２５keV励起による高分解能硬X線光電子分光を実現いたしました。 【用途】 ...

メーカー・取り扱い企業： シエンタ オミクロン株式会社

Cluster Systems（真空蒸着装置）

真空蒸着装置の紹介です。

SA ○FW Dresden Cluster ○ Materials Innovation Platform Materials Innovation Platform ※各装置の詳細はお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： シエンタ オミクロン株式会社