広帯域振動計測・判定システム

PR超音波領域の振動に対応し、多彩な判定機能を標準装備した振動計測システム

VIT-200Rは、200KHzまでの広帯域振動を解析判定可能な、計測ユニットです。 2chのピエゾ振動センサ入力のほか、アナログ信号入力2chを有し、 複合的判断をすることにも対応可能です。（ソフトカスタイマイズ） 設備の異常や予兆検出、構造物の状況測定、製造作業結果判定など、 多くの分野への応用が可能です。 標準機能の使用手順は次のようになります。 １．PCと接続し、複数パターンの振動デー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アローセブン

【納入事例】X線計測実験真空容器用高真空排気システム

PRドライ真空ポンプは排気流路に油を用いず、オイルフリーでクリーンな排気を…

関西光量子科学研究所(木津)に、「X線計測実験真空容器用高真空排気 システム」を納入した事例をご紹介いたします。 本排気ユニットは、真空容器に直接取り付けられる300L/sクラスの磁気軸受形 ターボ分子ポンプTG390Mと、ピラニ型と冷陰極電離真空計の複合型真空計、 そしてそれらのコントローラと補助ポンプ等を載せたカートから成ります。 真空容器に取り付けるターボ分子ポンプは磁気軸...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大阪真空機器製作所

光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能！

『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光 モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く 対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。 光学系は当社の高機...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできま…

『M-Scope type HS』は、1～10Wクラス高出力レーザのNFP・ 発光ビームプロファイル計測用光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束は、対物レンズを通過後、 2段ビームサンプラーにて約99.99%程度に減光、結像レンズにて 2次元画像検出器に結像する方式を採用しています...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

高出力レーザ用FFP計測装置

～10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置

『高出力レーザ用FFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布（ファーフィールドパターン）を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFと2...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』

複数の光計測を実現！多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光…

『M-Scope type I』は、光照射計測・受光計測・光ビームプロファイル計測 等の多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光学系です。 光計測用光ファイバポートと画像処理・解析用画像検出器用ポートを搭載し、 複数の光計測...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエハレベルで解析・ データ収集を行うシステムです。 また、セミオートプローバとの組み合わ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光…

『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル 計測用のNFP計測光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を 反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像 する方式を採用して...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ハイパワーレーザ用FFP計測光学系M-Scope type HF

【※デモ測定対応可能】高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減…

『M-Scope type HF』は、1～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布(ファーフィールドパターン)計測用光学系です。 専用設計のハイパワーレーザ対応FFP計測光学系＋2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せを採用。 高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの放射角度分布 (FF...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光ビーム解析モジュール『AP013』

さまざまな光ビーム解析に対応する高機能画像処理解析システム

『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル 計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を 目的とした画像処理・解析用モジュールです。 当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズ・2次元光検出器ISAシリーズ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ウエハレベル発光素子光学特性測定装置

VCSEL等の発光素子の各種光学特性をウエハレベルで測定・検査！

『ウエハレベル発光素子光学特性測定装置』は、VCSEL等各種発光素子の 電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステムです。 VCSELの特性計測に必要な電気的特性測定のほか、発光ビームプロファイル計測・ FFP計測（放射角度分布計測）・IVL計測・偏光計測等の光学的な特性測定を ウエハレベルで行うことが可能です。 【特長】 ■マ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置

シリコンフォトニクス導波路等の微細構造導波路デバイスの挿入損失を高速・…

『光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置』は、当社の簡易型光計測用光学系 M-Scope type Jを使用した光学系方式挿入損失自動測定装置です。 光ファイバ計測ポートと同軸観察画像検出器により、被測定光導波路の 入射側・出射側コア端面画像を直接観察...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

IVL測定モジュール『PMD002/IVL』

18mm角大口径フォトダイオードのセンサを使用！広い放射角をカバーでき…

PMD002/IVL』は、半導体レーザやVCSEL等発光素子のIVL特性を 簡単に測定可能な測光モジュールです。 小型軽量のIVL測定センサヘッドは、単体での使用の他、 当社製高機能NFP計測光学系M-Scope type Sの 対物レンズレボルバにも装着が可能です。 また、プローバへの搭載・組合せによって、 VCSEL等のウエハレベルIVL測定にも使用できます。 【特長...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光テスター（光配線導波路高速導通検査装置）

光配線基板用多チャンネルポリマー光導波路の量産検査用光導通検査装置

【応用】 ■ポリマー光配線導波路の量産検査（相対損失測定・導通のOK/NG判定等） ■ポリマー光配線導波路のコアピッチ・コア位置の量産検査 ■ポリマー光配線導波路内蔵45度ミラーの傾き計測 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

高出力レーザ用高機能NFP計測装置

～10Wクラス高出力レーザ用高機能型光ビームプロファイル計測・NFP計…

『高出力レーザ用高機能NFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザのNFP計測に 対応した光ビーム形状計測装置です。 光学系は、当社製ハイパワーレーザ用高機能NFP計測光学系M-Scope type HS、 高パワー耐...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社