非接触式伸び歪み計『Strainscope2』

PR破断する前に伸び計を取り外す必要がなく、作業時間を短縮。他メーカーの試…

非接触式伸び歪み計『Strainscope2』は、試験片にマーキングされた標線を CCDカメラで撮影し、伸びや歪みを計測する装置です。 非接触式のため、破断が発生する前に伸び計を取り外す必要がなく、 着脱作業にかかる時間を短縮でき、効率を高められます。 【特長】 ■リアルタイムで波形を画面に表示して確認可能 ■標線を自動追尾して専用のデータ処理ソフトで計測 ■金属・プラスチック・ゴムなど様々な...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東京衡機試験機

MANNER社製『テレメータ』

PR自動車、航空機、船舶、タービン、押出機等の回転体で、様々な計測技術を提…

-　回転体のトルク、測温、振動等の計測に -　標準パッケージからカスタムパッケージまで豊富な選択肢 -　誘導式、中距離伝送タイプ等、様々な機種展開 -　タービンのような高速回転、エンジン、トランスミッション内の耐熱等、優れた環境負荷性能 -　1~124chまで用意でき、カスタムハウジングも用意 -　高応答周波数、高サンプリングレート -　短い遅延時間で信頼性あるリアルタイム計測 -　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツイ 東京本社

FFP計測装置【※デモ測定対応可能】

専用光学系＋画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用シス…

『FFP計測装置』は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール 等のFFP(ファーフィールドパターン：遠視野像)を計測する装置です。 専用光学系＋画像処理方式により、様々な光デバイスのFFP計測...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできま…

『M-Scope type HS』は、1～10Wクラス高出力レーザのNFP・ 発光ビームプロファイル計測用光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束は、対物レンズを通過後、 2段ビームサンプラーにて約99.99%程度に減光、結像レンズにて 2次元画像検出器に結像する方式を採用しています...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』

複数の光計測を実現！多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光…

『M-Scope type I』は、光照射計測・受光計測・光ビームプロファイル計測 等の多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光学系です。 光計測用光ファイバポートと画像処理・解析用画像検出器用ポートを搭載し、 複数の光計測...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエハレベルで解析・ データ収集を行うシステムです。 また、セミオートプローバとの組み合わ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光…

『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル 計測用のNFP計測光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を 反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像 する方式を採用して...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社