• 約1秒で結果を出す!高圧1500Vの太陽光発電のIV計測 製品画像

    約1秒で結果を出す!高圧1500Vの太陽光発電のIV計測

    PR約1秒で結果を表示する短時間計測が可能!発電システムの竣工点検・定期点…

    『イプシロン1500V』は、高圧化する太陽光発電システムの メンテナンスに対応したI-Vカーブトレーサーです。 PVアナライザ「イプシロン400/1000」の特長を引き継ぎながら、 1500[V]計測を実現しました 【特長】 ■短時間計測(結果表示まで約1秒・日射や影の急変の影響を受けにくい) ■シンプルな操作性(事前設定が必要なくワンボタンで計測可能) ■本機と計測ユニット...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カーネルシステム株式会社 本社

  • 【様々な設備でも手軽に電力計測】センシングパッケージ 製品画像

    【様々な設備でも手軽に電力計測】センシングパッケージ

    PR「簡易電力計測パッケージby C-BOX」で古い設備、複雑配線な装置の…

    【ポイント】 ・オールインワンでパッケージ化されて税別16万円~の低価格 ・すぐに電力削減活動への取り組みを開始 ・簡単に持ち運びできるため計測箇所の変更が自由 【簡易計測パッケージby C-BOXとは】 センサとC-BOXで1対1の通信を行い、電源とモニタに接続するだけで簡単に無線センシングが始められる商品となっています。工場/オフィスに関わらず、設備・センサを繋ぐIoTを安価に導...

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    メーカー・取り扱い企業: 新東工業株式会社

  • 原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』 製品画像

    原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

    自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット!正確な原子間力顕微鏡をご紹…

    『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000%向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • 原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX20』 製品画像

    原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX20』

    故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール

    ップがより鋭く、 かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。 【研究およびFAラボにおける大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■低ノイズZ検出器を備えた正確なAFM形状イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードし...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • 原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-3DM』 製品画像

    原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-3DM』

    NXテクノロジーを導入した完全自動化産業用AFM

    ハファブ用で必須なツール】 ■高度で正確なPark NX技術を用いた完全自動産業用AFM ■アンダーカットやオーバーハング構造のためのチルトヘッドデザイン ■サンプル前処理不要で正確な側壁粗さ計測 ■完全非接触モード(TM)により、装置とサンプルにダメージを与えずに  高品質のイメージが得られる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • 原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-Hivac』 製品画像

    原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-Hivac』

    故障解析アプリケーションに適した真空環境スキャニング

    高真空原子間力顕微鏡(AFM)です。 高濃度ドープの半導体の正確な故障解析が可能。 また、当社のすでに認められた技術を用いることによって、高分解能で 高い再現性と操作性による低ノイズ計測を可能にした製品です。 【故障解析の為の高真空計測】 ■高速スキャンのための進化したStepScan自動機構とレーザーアライメント機構 ■マルチサンプルチャック ■Park独自の容易なチ...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

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