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27件 - メーカー・取り扱い企業
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PRミリ単位以下の微小な変化を検知！医療機器・電子機器への干渉、影響はあり…
株式会社日本ジー･アイ･ティーは、UWBをはじめとする先端技術の 開発・設計・製造・販売を専門とする企業です。 当社が取り扱う『UWBレーダー方式センサー』は、1mm以下の微小な 変化を検知します。 医療機器・電子機器への干渉、影響がなく、プライバシー保護にも寄与。 バイタルセンサーや、工程内異物検知などにも応用が可能です。 【特長】 ■1mm以下の微小な変化を検知 ■...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本ジー・アイ・ティー
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SEM/FE-SEMによる高倍率での表面形態観察を実施します。
走査電子顕微鏡観察サービスでは、SEMやFE-SEMを使用して、試料の表面の高倍率形態観察を行います。 SEM観察では表面の凹凸状態だけでなく、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。FE-SEM観察では走査型電子顕微鏡（SEM）より高倍率での観察が可能で、さらにEBSDによる結晶方位解析も実施可能です。また、SEM/FE-SEMに付属するEDXにて、元素分析を行うことも可能です。 J...
メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評…
DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評価することができます。 ・ 融点・結晶化温度・ガラス転移温度・キュリー点・比熱などを確認することができます。 ・ 結晶化度・純度・反応速度及び結晶化速度などの測定に応用が可能です。 ・ 氷点下から測定できるため、自由水・結合水の評価が可能です。...熱流束型DSCは基準物質とサンプルを同時に加熱した時の温度差を連続的に...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測
AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…
FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり（スパッタ）、特定領域に炭素（C）・タングステン（W）・プラチナ（Pt）等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するS...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能
固体試料にイオンビームを照射すると二次電子が発生します。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じます。この像を走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope： SIM）像といいます。 電子線照射によってもこのようなコントラスト像が得られますが、イオンビームの方が顕著に現れます。 金属多結晶...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得
TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能 ・ＦＩＢで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能 ・オプション機能を組み合わせること...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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高倍率観察(30万倍程度まで)が可能
SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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電子走査により、機械的走査が難しい箇所に対しても検査が可能！
搬方向や集束位置を 調査したい目的に合わせて設定する方法です。 受信された波形データは画像化されるため欠陥の有無を確認しやすく、 その寸法を精度よく測定できます。 【特長】 ■電子走査により、機械的走査が難しい箇所に対しても検査が可能 ■全ての探傷波形データを保存することにより、客観的且つ継続的な評価が可能 ■CAD図をPAUT画像に重ね合わせることで解釈の容易な結果を提供可...
メーカー・取り扱い企業： 住重アテックス株式会社
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OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗…
１.レーザを被観察領域に走査する。レーザ照射された配線部位は温度が上昇し、抵抗が変化する。 ２.レーザの走査に同期して電流値（または電圧値）を読み取る。 ３.ボイド・析出物等の欠陥は配線正常部とTCRが異なるため、抵抗変化...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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キャリア分布を二次元的に可視化
SCM/SNDMは、導電性の探針を用いて半導体表面を走査し、キャリア分布を二次元的に可視化する手 法です。 ・SCM：1015～1020cm-3, SNDM：1014～1020cm-3程度のキャリア濃度に感度がある ・半導体の極性（p型/n型）...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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有機・無機材料の局所分析はお任せください！
【主な機器】 ■Cs補正走査透過電子顕微鏡（Cs補正STEM） ■電界放射型透過電子顕微鏡（FE-TEM） ■電界放射型走査透過電子顕微鏡（FE-STEM） ■高分解能透過電子顕微鏡（HR-TEM） ■エネルギー分散型...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社UBE科学分析センター 名古屋営業所
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入射角が固定された従来の超音波探傷に比べ、最小限の走査範囲で検査が可能…
【その他装置の特長】 ■検査結果を画像化してデータ保存が可能 ■簡単な操作で誰でも正確に測定可能 ■狭空間でも作業しやすい携帯型装置 ■一方向走査の探傷で作業時間を短縮 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本工業試験所
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マーカー探索・メカニズム解析向け！脂質メディエーターを走査するHMTの…
『Mediator Scan』は、脂質メディエーターを走査するHMTの受託分析サービスです。 脂質メディエーターの代表的な物質群であるオキシリピン類やリゾリン脂質類、 ステロイド類を含む、計400種の脂溶性代謝物を網羅的に解析します。 特に炎...
メーカー・取り扱い企業： ヒューマン・メタボローム・テクノロジーズ株式会社
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タンク目視検査ロボットや配管連続板厚測定装置などについて掲載！技術紹介…
貢献することを使命とします。 当資料では、各種鋼構造物を自動走行カメラロボットで安全に目視検査 するタンク目視検査ロボット「i-ROBO(アイロボ)」をはじめ、 配管連続板厚測定装置や手動走査式連続板厚測定装置などを掲載しています。 【掲載内容（一部）】 ■タンク目視検査ロボット「i-ROBO(アイロボ)」 ■配管連続板厚測定装置「UDP-48(ユーディーピー)」 ■タンク底...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社ウィズソル 関西営業所
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高度なサンプル加工により微小混入異物等の鮮明なSEM写真や元素分析が得…
FIB（集束イオンビーム） は細く集束したGaイオンビームを試料表面に照射し走査することで試料表面の加工を行います。 FIBは狙いたい所の微細加工が可能で、数ミクロン程の微小な領域でも狙って断面化できます。 ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社巴川コーポレーション
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