• 磁気選別機『異物除去用 格子型マグネット 両端固定』 製品画像

    磁気選別機『異物除去用 格子型マグネット 両端固定』

    PR食品・粉粒体に混入した金属片を強力に吸着。1ミリ単位のオーダーメイド製…

    『格子型マグネット 両端固定』は、食品・加工食品・工業材料などに混入した金属片・微細な鉄粉を吸着除去するマグネット・フィルター。最大1,200mTの直径25mmの高磁力マグネットで微細な鉄粉を吸着捕獲。 格子型にすることでマグネットバー単体よりも大量の金属異物の除去がで可能。主にハウジング内や配管中に設置。マグネットの棒とフラットバーの接合部分は食品用のR付全周溶接、マグネットの棒を固定する...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サンギョウサプライ

  • 「廃プラスチックリサイクル用 押出成形設備」 製品画像

    「廃プラスチックリサイクル用 押出成形設備」

    PR混合廃プラスチックも再商品化が可能。不純物除去・搬送・射出・プレスなど…

    『1ステップ1ステーション 廃プラスチックリサイクル押出成形設備』は、 供給・不純物除去・搬送・射出・プレスなどを行う複数の装置で構成された、 軟質・硬質廃プラスチックを使って様々なプラスチック製品を製造できる設備です。 複数の材料が混ざった「混合廃プラスチック」をもとにした再商品化も可能。 低価格で設備を導入でき、廃棄物処理コストやCO2排出量の削減に活用できます。 【要件・仕...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社太和ホールディング

  • 研究開発用FT-IR VERTEX 70v/80/80v  製品画像

    研究開発用FT-IR VERTEX 70v/80/80v

    VERTEX は、世界中の最先端研究機関で使われているハイエンドリサー…

    分解能 0.07cm- 1(80シリーズ オプション) ○ 高感度 S/N 50000:1 以上 ○ ネットワーク接続(Ethernet) ○ 遠赤外から紫外領域まで拡張可能 ○ パージでは除去しきれない水蒸気等を真空により除去(70V 80V) ○ 自動アクセサリ認識・設定機能 ○ 自己診断機能 ○ マルチ光学アクセスポートによる優れた外部拡張性 ○ 複数の外部アクセサリを同時装...

    メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

  • 【軽元素測定可】携帯型レーザー分光分析機※デモ可 製品画像

    【軽元素測定可】携帯型レーザー分光分析機※デモ可

    低合金鋼中やステンレス鋼中の炭素測定が可能 蛍光X線分析機では検出で…

    ) 独自の特許技術によるアルゴンガスパージを搭載。 高純度のアルゴンガスを使用します。 また、グラインダー等によるサンプル表面の前処理とプレバーンによる サンプル表面の前処理の汚れを除去。 さらに、狭小部の多点分析が可能(6箇所)で、約50μmのスポットを照射します。 【特長】 ■独自の特許技術によるアルゴンガスパージ ■高純度のアルゴンガスを使用 ■グラインダー...

    メーカー・取り扱い企業: 日本エリーズマグネチックス株式会社

  • 分光測色計/品番 M396M-2600DK 製品画像

    分光測色計/品番 M396M-2600DK

    測定すべきターゲットを的確にとらえます

    ●いろいろなアングルで測定可能 ●高信頼性と長寿命 ●SCI(正反射光含む)とSCE(正反射光除去)の同時測定可能 ●いろいろなアングルで測定可能 ●円滑な色彩コミュニケーションが可能...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シロ産業

  • 瞬間変動検知 高速マルチチャンネル分光分析システム 製品画像

    瞬間変動検知 高速マルチチャンネル分光分析システム

    いつ起こるかわからない瞬間的な変動を見逃さない!かつてない高速・長時間…

    ネル型分光器は他にありません。 しかも、プロセスモニタに大変便利な機能もご用意しています。  ・信号出力機能  ・プロセス終了後の再生機能  ・プラズマ発光のリアルタイムバックグラウンド除去 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クレブ

  • 高分解能フーリエ変換赤外分光装置 nano-FTIR 製品画像

    高分解能フーリエ変換赤外分光装置 nano-FTIR

    赤外イメージング、分光測定が可能 10nmの空間分解能を実現します

    より高空間分解能が必要とされる科学分野や半導体技術、高分子化学やライフサイエンスに至る様々な分野に最適です。 【特長】 ■attocube systems社 特許 バックグラウンドノイズ除去技術 ■高空間分解能10nmでのイメージングと分光測定を実現 ■高い再現性と高感度検出を可能にする専用AFMを開発 ■AFM測定に適したサンプル準備でバルク断面の測定が可能 ■サンプルの薄...

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    メーカー・取り扱い企業: 日本カンタム・デザイン株式会社

  • ARL iSpark Plus 固体発光分光分析装置(OES) 製品画像

    ARL iSpark Plus 固体発光分光分析装置(OES)

    信頼性が高くハイクオリティな金属分析を実現!さまざまなニーズに対応する…

    スパークスタンド設計  – メンテナンス性の向上  – ほぼ全ての元素の安定性を向上  – メモリー効果の極少 • PMTシグナルの高度な取得技術とアルゴリズム処理 • 散乱性スパークの強度データを除去するアルゴリズムを持つシングル・スパーク・データ収集機能により、PMTの精度を向上 • 非金属介在物の最先端OES分析 • アルゴンガス節約モードによる高性能なアルゴンガス管理 ...

    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • レーザー誘起ブレークダウン分光分析計『Z-900シリーズ』 製品画像

    レーザー誘起ブレークダウン分光分析計『Z-900シリーズ』

    独自の特許技術によるアルゴンガスフラッシング!炭素検出限界0.008%…

    『Z-900シリーズ』は、炭素測定が可能な新しいハンドヘルド型の 分析計です。 グラインダー等によるサンプル表面の前処理に加え、本体の プレバーン機能で試料の表面汚れを除去。 高純度のアルゴンガスを使用しており、約50μmのスポットを 照射可能です。 【特長】 ■配管の端部測定も可能 ■独自の特許技術によるアルゴンガスフラッシング ■高純度のアルゴ...

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    メーカー・取り扱い企業: 日本エリーズマグネチックス株式会社

  • 真空型赤外分光システムを用いたIRRAS法による有機単分子膜解析 製品画像

    真空型赤外分光システムを用いたIRRAS法による有機単分子膜解析

    【無料プレゼント】SAM修飾基板に関する解析について掲載しています。

    子膜、SAMに関する 研究が注目されています。 当社製品は、試料の設置後、2~3分で分光内部を真空にすることができ、 短時間で測定を開始することが可能です。 当資料では、大気の影響を除去できる真空型FT-IRを用いたIRRAS法 による、SAM修飾基板に関する解析について掲載しています。 【掲載内容】 ■はじめに ■試料 ■装置 ■結果 ■参考文献 ※詳しく...

    メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

  • DXR3 Smartラマン 製品画像

    DXR3 Smartラマン

    マクロサンプル用の高性能なラマン分光装置

    、633 nm、785 nmの4種類です。 ・自動蛍光補正機能、自動強度補正機能搭載(装置間および異なる励起レーザー間でも比較可能なスペクトルを生成可) ・波長校正機能 ・特許取得済みの宇宙線の自動除去アルゴリズム搭載 その他の性能: ・偏光解消レーザーによりサンプルそのものの結晶方位によるスペクトルへの影響を回避。 ・レーザー出力制御機能により出力をアクティブにコントロールし、レーザーが寿命に...

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    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • 小型NIR分光器センサー 『NIR Meter』【デモ機あり】 製品画像

    小型NIR分光器センサー 『NIR Meter』【デモ機あり】

    近赤外分光器としては破格の50万円で、900~1700nmの対象波長の…

    トニクス社製InGaAsを採用 ■S/N比6000:1の低ノイズ ■電源供給はUSBバスパワー ■反射測定用ランプ内蔵 ■入射口はSapphireウィンドウ/SMAコネクタ切替え式 ■迷光除去用の885nmロングパスフィルター内蔵 【使用アプリケーション】 ■拡散反射測定 ■光フィイバーを介した各種近赤外分光測定 さらに、別モデルとして1350~2490nmを対象とした分...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社スペクトラ・コープ

  • 量子効率測定システム『OP-QUANTUM』 製品画像

    量子効率測定システム『OP-QUANTUM』

    サンプルからの蛍光発光を全て計測可能!低量子効率も高精度に測定!

    からの蛍光発光を全て計測可能 ■電子冷却式分光器の採用で低量子効率も高精度に測定 ■NIST準拠校正光源でシステムを任意に感度校正 ■サンプルホルダ類の吸収補正が可能 ■2次励起による発光を除去 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...

    メーカー・取り扱い企業: オーシャンフォトニクス株式会社

  • ピコ秒過渡吸収分光システム picoTAS 製品画像

    ピコ秒過渡吸収分光システム picoTAS

    RIPT(リプト)法に基づいた革新的過渡吸収分光システム

    <特長> ・空白時間帯(1ns~20ns)を完全にカバー ・100 ピコ秒からミリ秒の過渡吸収測定 ・可視~近赤外の広い測定波長領域 ・蛍光除去を解決 ・コンパクト設計、光学ベンチ不要(-ns モデル) ・お手持ちのパルスレーザーにも対応可能...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニソク

  • 側面出射光ファイバ 製品画像

    側面出射光ファイバ

    光ファイバの側面から光を出射します。側面の照射や光ファイバのクラッドモ…

    光ファイバの側面を加工し光を側面から出射させます。使用波長は可視領域から近赤外(400~1700nm程度)です。光ファイバへの入射パワーは1W程度まで可能です。加工部分はガラス管等で光ファイバを保護します。 光ファイバのサイズは、φ200µmからφ1000µm(1mm)の実績があります。...光ファイバ材質:石英系光ファイバ サイズ:200µm~1000µm(コア径) 発光部長さ:10~20...

    メーカー・取り扱い企業: ファインガラステクノロジーズ株式会社

  • 分光測色計/品番 M396M-2600DK 製品画像

    分光測色計/品番 M396M-2600DK

    測定すべきターゲットを的確にとらえます

    ●いろいろなアングルで測定可能 ●高信頼性と長寿命 ●SCI(正反射光含む)とSCE(正反射光除去)の同時測定可能 ●いろいろなアングルで測定可能 ●円滑な色彩コミュニケーションが可能...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シロ産業

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