【三球温度計】気温計測用システム センサー・データロガー

PR測温データをPCで簡単管理！放射の影響を取り除き、高精度な測温が可能

当システムは、感温部のサイズが異なる3本の熱電対の出力値から 放射の影響を理論的な計算で測定する“三球温度計”を活用することで、 省電力で精度の高い測定を実現したシステムです。 強制通風の必要がなく電源が不要で省電力。3チャンネル以上の 熱電対入力可能なデータロガーがあれば測定できます。 また、センサーはコンパクトに折りたたみが可能で、運搬設置が簡単です。 【特長】 ■三...

メーカー・取り扱い企業： 名古屋科学機器株式会社

【仕組み解説】小型軽量3次元超音波風速計

PR米国特許取得済み！独自の技術を搭載し「小型・軽量」＋「3次元計測」を実…

当社で取り扱うLI-COR社製 TriSonicaセンサは、小型軽量が魅力の3次元超音波風速計です。 従来の大きな風速計では適応が難しかった、ドローン搭載や狭所での気流計測など、屋内外問わず幅広い用途で活躍します。 【特長】 ★ コンパクト 　 ― 手のひらサイズ 91.9 × 91.9 × 53.6 mm ★ 軽量 　 ― ゴルフボールほどの重量 わずか50-67g ★ 低消費電力 　 ― ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジェピコ 本社、大阪支店、名古屋支店、練馬支店

蛍光Ｘ線式　膜厚測定器　微小部測定用『 XDV-μ 』

ポリキャピラリX線光学系を採用。微小部の薄膜メタライズ、高機能めっきの…

【サンプル試測定実施中】 『XDV-μ』は、ポリキャピラリX線光学系を採用した汎用性の高い エネルギー分散型蛍光X線測定装置です。 当製品は、非常に小さい部品や構造部分を非破壊で膜厚測定・ 素材分析に適した測定器です。 【特長】 ●最小10µmの集光レンズを搭載可 　　従来では測定できなかった微小部の薄膜メッキでも測定が出来ます。 ●検出器には半導体検出器の中でも最高性...

メーカー・取り扱い企業： アンリツ株式会社 環境計測カンパニー

蛍光Ｘ線式　膜厚測定器　　汎用測定器『 XDLM 237 』

汎用性が高く、電子部品やさまざまな形状のめっき加工品などの膜厚測定や素…

電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能です。 『XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 操作性も簡単に膜厚測定と素材分析...

メーカー・取り扱い企業： アンリツ株式会社 環境計測カンパニー