新光電子株式会社　創業50周年記念サイトオープン

PR50周年事業としてリ・ブランディングを行いました。次なる50年で「全て…

弊社は、2024年4月1日に創業50周年を迎える事となりました。 創業当初より「オプト世紀を追及する」というキャッチコピーを掲げさせていただき、 半世紀を送りました。 次の50年を胸を張って迎えることが出来るのも、ひとえにこれまで関わっていただきました お取引先様、従業員やご家族、関係各位のご助力があってのことと、改めまして、 深く感謝の意を胸に刻む次第です。 この場を借りて厚く御礼申し上げ...

メーカー・取り扱い企業： 新光電子株式会社

インパルスノイズ試験器 INS-S100

PR電源ラインからの侵入や通信線などへの誘導ノイズによる電子機器の性能評価…

インパルスノイズ試験器はスイッチングデバイスの接点間の放電、電子モーターから発生するアーク放電などによる立ち上がりの早い高周波ノイズを模擬的に発生させ、電子機器の耐性を評価する試験器です。 インパルスノイズ試験器INS-S100は、50Vからのパルス出力が可能で、製品開発時の回路基板や弱電部品などのノイズ耐性評価が手軽に行えるほか、市場での不具合発生時の解析などにも活用できます。 ○ ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ノイズ研究所（NoiseKen）

【電子機器修理】産業用PC

代替機販売もご相談ください！FAN回転不良などの不具合に対応！

アイテスは、40年来のパソコン・システムボード修理実績を活かし、 メーカーサポート・保証・保守切れの電子機器製品を対象に故障箇所の 特定・修理を行っています。 "制御パソコンが故障して早急な復旧が必要"となった場合、 修理で延命できる可能性がございます。 ご要望の際は、お気軽にお問い合...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ESD/ラッチアップ試験受託サービス

ESD/ラッチアップ試験受託サービス

半導体デバイスやそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD破壊およびラッチアップによる破壊に対する耐性を評価する試験サービスを提供します。 ■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応し...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

GC-MSによる香り成分の分析

GC-MSは低分子有機物質の定性定量分析に利用！線香と白檀にてデータを…

が起因であると推測する ■全般的に水酸基（OH）および二重結合を有することが特長であるが、 　その分子間力により香りを持続させていることが示唆される ■スパイス ・エーテル結合を有し酸素Oの電子供与（正のメソメリー効果）によるベンゼン環内の電子密度向上 　および、分極とn/nスタッキングが独特の香りと持続性を醸し出す所以であると推測する ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EPMAによる状態分析

標準スペクトルと比較することで結合状態を推定！EPMAによる状態分析を…

化（シフトや波形）が 生じることを利用し、標準スペクトルと比較することで結合状態を推定します。 2種類の銅酸化物の識別において、黒色CuOと赤色Cu2Oの色彩による識別が 困難な場合、特に電子顕微鏡が必要なミクロな対象物に対して、EPMAによる 酸化状態の把握が可能です。 また、Al表面の薄い酸化層の測定には最表面分析手法のXPSが有効ですが、 異物等の微小物や塊状物、バルク、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBSD法によるCu結晶解析

Cu板における圧縮前後での変化を観察！圧縮前後の結晶粒径の半化を比較で…

EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します！

過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装…

アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度解析」「モジュールの断面解析」など。具体的実績を元にご提案させていただきます。 キーワード：■パワー半導体全般（チップ、モジュールTIM素材など）■信頼性試験/評価　■構造解析（出来栄え・他社品...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EELS分析手法による膜質評価

元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です！

当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 EELS分析とEDS分析は、TEM試料に加速した電子を照射することで 元素同定を行う分析手法です。 「異なるカーボン膜」の事例では、状態分析が特長である EELS分析手法を用いてナノ領域での膜質評価を行いました。 EDS分析ではスペク...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBSD法による解析例

EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹…

EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBSD解析

結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能！EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターン の結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を 解析する手法です。 金属やセラミック等の結晶質のものは、立方体等の結晶格子が多数集まって 構成されていると考えられおり、当解析法では、それがどのような方向を 向いているのか(結晶方位)を解析。 IQマップ(イメージクオリティーマップ)を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EPMA分析

100×100mmサイズも対応！ステージ可動により広範囲のマッピングが…

【装置仕様】 ■日本電子（株）製 Jeol-8200 ■分析方式：波長分散型X線分析（WDX） ■分析可能元素：B～U ■エネルギー分解能：20eV（EDXは約130eV） ■検出限界：0.01％～ ■最大試料寸...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ウィスカ評価

検査員が逃さず観察！信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能で…

鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生 する金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。 当社では、信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です。 基板中のどの部品、どのピンにウィスカが発生しているか検査員が 逃さず観察します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

断面研磨・加工・観察・分析のトータルサポートサービス

さまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します

アイテスでは電子部品、実装基板、半導体、化合物半導体、パワーデバイス、 フィルム、樹脂成形品、太陽パネル、液晶ガラスなど さまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します。 また作製した断面の観察や分析を行...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】ウィスカ観察

信頼性試験から観察、3次元測長まで支援！輸送リスクを排除したウィスカ評…

鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生する 金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。 当社では、深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープによりウィスカを 観察するとともに、3次元測長を行い、ウィスカ成長を評価します。 信頼性試験グ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

FIB-SEMによる半導体の拡散層観察

他手法より短納期！FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実…

作製とSEM観察によって半導体の拡散層を可視化、 形状評価を行いました。 SEMのInlens 検出器によって内蔵電位の違いを可視化した事例では 内蔵電位によりN型とP型領域で発生する二次電子のエネルギーに差が発生。 それによって生まれる軌道の差をSEMの検出器で検出します。 【特長】 ■FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実施することが可能 ■他手法より短...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察

SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに…

拡散層の 形状観察、さらにTEMによる配線構造、結晶構造までのスルー解析が SiCパワーデバイスでも対応できます。 「LV-SEM拡散層観察」では、PN接合の内蔵電位に影響を受けた 二次電子（SE2）をInlens検出器で検出。 FIB断面でのSEM観察で拡散層の形状が可視化できます。 【EBICを用いた解析手法】 ■PEM/OBIRCH 不良箇所特定 ■FIB断面加工...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

CCDカメラモジュールの断面加工観察

当社の高い技術で、難易度の高い試料の断面も作製できます！

CCDカメラモジュールは、小さな筐体の中にセンサや制御素子、AF駆動機構など 電子技術と機械技術を融合した複雑な構造で構成されています。 また材料も金属、ガラス、樹脂など多数使用されており、断面作製は困難な 部類となります。 当社では、高い技術で、このような難易度の...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

接合・接着・実装部の不良解析をはじめとした解析技術のあり方

分析・解析技術をどのような観点から進めるべきかをご紹介！

当社では、電子部品ばかりではなく無機・有機素材をはじめ、多くの製品、 部品、素材を故障・不良解析、構造解析、良品解析、信頼性評価といった面で お客様の課題・問題解決に向けてサポートしています。 当資料は...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【電子機器修理】パネルコンピュータ

代替機販売もお任せください！液晶表示不良・破損などの不具合に対応！

アイテスは、40年来のパソコン・システムボード修理実績を活かし、 メーカーサポート・保証・保守切れの電子機器製品を対象に故障箇所の 特定・修理を行っています。 "パネコンが故障して生産装置が使えない"といった場合、 修理で延命できる可能性がございます。 ご要望の際は、お気軽にお問い合わ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【電子機器修理】サーボアンプ・サーボモーター

その他の産業機器もご相談ください！電解コンデンサ不良などの不具合に対応…

アイテスは、40年来のパソコン・システムボード修理実績を活かし、 メーカーサポート・保証・保守切れの電子機器製品を対象に故障箇所の 特定・修理を行っています。 "サーボモーターが動かない"といった場合、修理で延命できる可能性がございます。 ご要望の際は、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EPMAによる微量元素の検出

検出感度が良好！特に微量成分の定量分析やマップ分析等に優れています

実施しました。 EPMAでは分解能、検出下限、P/B（ピークバックグラウンド）比が、EDXより 優れているため、微量のCl分布が明瞭に把握することができました。 【装置仕様】 ■日本電子（株）製 Jeol-8200 ■分析方式：波長分散型X線分析（WDX） ■分析可能元素：B～U ■エネルギー分解能：20eV（EDXは約130eV） ■検出限界：0.01％～ ■最?試料寸...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス