インパルスノイズ試験器 INS-S100

PR電源ラインからの侵入や通信線などへの誘導ノイズによる電子機器の性能評価…

インパルスノイズ試験器はスイッチングデバイスの接点間の放電、電子モーターから発生するアーク放電などによる立ち上がりの早い高周波ノイズを模擬的に発生させ、電子機器の耐性を評価する試験器です。 インパルスノイズ試験器INS-S100は、50Vからのパルス出力が可能で、製品開発時の回路基板や弱電部品などのノイズ耐性評価が手軽に行えるほか、市場での不具合発生時の解析などにも活用できます。 ○ ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ノイズ研究所（NoiseKen）

輝烈（KITERETSU）製品紹介

PR輝烈が幅広く採用されている秘密を公開します！

輝烈は、一般看板はもちろん、LEDの不点灯が発生すると 非常に交換が大変な大型看板や、交換がすぐにできない、 高速道路内のトンネル、商業施設の天井や壁など、 「品質要求」の高い場所で多く採用されています。 電子機器製造で培った技術・品質管理基準を集約して、 LEDモジュール180万球の販売で、「不良０（ゼロ）」を継続しています。 ...LEDモジュール輝烈（KITERETSU） 標準...

メーカー・取り扱い企業： ヨーホー電子株式会社

エクソソームの電子顕微鏡解析

約2週間でメールにて速報をお届け！電子顕微鏡で可視化することによって形…

当社では、『エクソソームの電子顕微鏡解析』を行っております。 電子顕微鏡で可視化することによって形態やサイズの確認が可能です。 ご用意いただくものは、サンプル50μL程度。（サンプル量はご相談） 培養上清の場合はエ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子（S...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法

ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

大日電子株式会社　事業紹介

最先端技術を主体とする、日本有数の製造（EMS)会社をめざして

大日電子株式会社は、1985年に設立以来、電子機器、情報通信機器などの基板実装・ユニット組立・検査を主に行っている、兵庫県尼崎の企業です。設立当初は、官公庁向け特殊機器の配線組立を中心に行っておりましたが、...

メーカー・取り扱い企業： 大日電子株式会社 大日電子株式会社

［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法

電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定…

EELS分析とは、電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定する手法です。物質の構成元素や電子構造を分析することができます。 TEMに付属している元素分析装置（EDX)と比較して、下記の特徴...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

シミュレーション解析

富士電子工業では、シミュレーション解析の専任スタッフがおり、高周波焼入…

富士電子工業のシミュレーション解析は、永年蓄積されたデータに基づいて選定された周波数・電圧などの条件入力からワークの温度分布・温度履歴・電力等を計算出力します。 焼入パターンの推測・最高温度・内部温度・コ...

メーカー・取り扱い企業： 富士電子工業株式会社

医薬品業界向け！電子顕微鏡による『ウイルス安全性試験』

透過型電子顕微鏡による安全性試験！長年積み重ねてきた経験と実績がありま…

花市電子顕微鏡技術研究所では、電子顕微鏡による『ウイルス安全性試験』の 受託を行っております。 GLP/GMPに準拠した厳正な管理の下、ウイルス安全性試験を実施。 例としてCHO細胞を使用して...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

［EBIC］電子線誘起電流

試料内部の電界構造（半導体の接合構造）に関する情報を得ることができる手…

SEM装置内で電子線を照射することで、試料内で正孔電子対が発生します。 通常は再結合して消滅しますが、空乏層など内部電界を有する領域で正孔電子対が生じた場合はキャリアが内部電界でドリフトされることで起電流として外部...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

電子部品・精密部品・医療機器部品等　検査・組立

電子部品・通信機器・精密機器・小型の医療機器等！外注管理にかかるご負担…

当社では、電子部品・精密部品・医療機器部品等の検査・組立を行っております。 良品率・生産効率等の進捗状況をデータで管理・報告。 治具製作も行います。また、ISO9001・ISO13485に基づく 徹底し...

メーカー・取り扱い企業： コニシセイコー株式会社

大日電子株式会社の特色

高品質なモノ造り、作業改善・効率化によりコストダウンを実現。お客様の負…

大日電子株式会社は、実装技術を主体に、加工から出荷まで対応できる 一貫ラインを構築しています。 超量産から量産、中量産、多品種・少量製品まで様々なニーズに対応。 総合的なトータルシステムによってコ...

メーカー・取り扱い企業： 大日電子株式会社 大日電子株式会社

TEMによる電子部品・材料の解析

TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…

TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

TDS装置 受託測定

電子科学製のTDSを使用した受託測定！

TDS装置の製造・販売だけではなく、受託測定も承っております。 長年TDS専業メーカーとして培ってきたノウハウを活かし、常時良好な状態に維持された装置と、熟練した専任オペレーターによってお客様の材料トラブルの解決に努めます。 【保有装置】 ・赤外線加熱型 昇温脱離分析装置：2台 ・高周波加熱型 昇温脱離分析装置：1台...測定モード 　Bar (定性・定量測定) 　SIM (m/z...

メーカー・取り扱い企業： 電子科学株式会社

EBSD分析（電子後方散乱回折法）

容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

EBSDを利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。 電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP：Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

X線光電子分光分析によるステンレス鋼の不動態皮膜分析

不動態皮膜の厚さや濃度を調べることが可能！当社のX線光電子分光分析をご…

ステンレス鋼は耐食性に優れることが知られています。耐食性の優劣には、 不動態皮膜の厚さや濃度が深く関わっており、それらをX線光電子分光分析 （XPS）で調べることができます。 SUS430 製部品を機械研磨して使用し、短期間で錆が発生した例では、 錆発生品と正常品について深さ方向の元素分析を実施。結果、不動態⽪膜に ...

メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社

富士電子工業株式会社 事業紹介

確かな技術で信頼に応える！富士電子工業株式会社

富士電子工業株式会社は、1966年の創立以来、顧客に信頼される サービス(非破壊検査・調査・試験・熱処理工事)等を提供し、 設備及び製品を安心して使用いただくことモットーとした会社です。 「確かな...

メーカー・取り扱い企業： 富士電子工業株式会社

電子顕微鏡解析受託サービス※解析事例紹介！

ワンストップサービスできめ細かく対応！

【技術力】日本顕微鏡学会認定、電子顕微鏡技師が実施します。 【対応力】ワンストップサービスできめ細かく対応します。 【スピーディー】高度な解析もスピーディーに対応します。 【コストダウン】弊社に委託頂くことで、お客様の経費削減...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

［AES］オージェ電子分光法

試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類・存在量の評価

AESは、電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面（数nm程度の深さ）に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面（深さ数nm）の定性・定量...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［ED］電子回折法

EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を…

EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です。 ・物質の結晶学的情報が得られます。 透過電子顕微鏡の場合、単結晶では規則正しく並んだ回折斑点(スポット)、多結晶で...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［UPS］紫外光電子分光法

試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に

UPSは、紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面（数nm程度以下）の価電子状態に関する知見を得る手法です。その一方で、高いエネルギー分解能を利用して各種金属材料の仕事関数評価にも用いられています。 X...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

クライオ電子顕微鏡ハンドブック

2017年ノーベル化学賞に輝いたクライオ電子顕微鏡に関する知見を体系的…

研究者、技術者のためのクライオ電子顕微鏡設置機関とそのサービス内容も紹介...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エヌ・ティー・エス

【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価

製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です

GaN系高電子移動度トランジスタ「GaN HEMT（High Electron Mobility Transistor）」は、AlGaN/GaNヘテロ構造によって二次元電子ガス層（2DEG）が得られ、電子移動度が...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】高電子移動度トランジスタの評価

Csコレクタ付STEMにより結晶整合性および組成分布の評価が可能

GaN系高電子移動度トランジスタ「GaN HEMT（High Electron Mobility Transistor）」は、AlGaN/GaNヘテロ構造によって二次元電子ガス層が得られ、電子移動度が高くなります...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

電子プローブマイクロアナライザ分析

電子プローブマイクロアナライザ分析

金属材料、鉱物および各種材料の表面観察、成分分析および 元素分布を測定するのに有効な電子プローブマイクロアナライザ分析 【特徴】 ○分析対象：金属、鉱物、汎用電子部品、ガラス等 ○試料大きさ：実質 60×60×厚さ15(mm) まで。分析試料調整も適宜実施 ○分析種類：組成...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＩＨＩ検査計測

電子機器評価サービス

24時間365日対応！1日から貸出できます！

当社では、恒温槽、恒温室など、検査機器を備え、さまざまな環境で 電子機器他のテストを行い、評価・報告いたします。 また、ソフトウエアに欠陥が無いか、効率良く機能を発揮するか、 シュミレーションを行い評価いたします。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせくだ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ファースター

【分析事例】電子回折の種類と特徴

TEM：透過電子顕微鏡法

透過電子顕微鏡での電子回折法は、試料への電子線の入射の仕方によって3つに分類されます。それぞれの特徴とデータ例を示します。評価対象物のサイズや分析目的に応じて、適切な手法を選択する必要があります。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

走査電子顕微鏡観察の受託サービス｜JTL

SEM/FE-SEMによる高倍率での表面形態観察を実施します。

走査電子顕微鏡観察サービスでは、SEMやFE-SEMを使用して、試料の表面の高倍率形態観察を行います。 SEM観察では表面の凹凸状態だけでなく、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。FE-...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

破面分析に　走査型電子線マイクロアナライザ

分析試料の表面状態をリアルタイムに映像化する走査型の電子顕微鏡

【走査型電子線マイクロアナライザ　主な特長】 ●細く絞った電子線を分析試料に照射し、その部分から発生する「特性X線」を収集します。特性X線は元素によって波長が異なることを利用し、X線検出器で波長分析を行うこと...

メーカー・取り扱い企業： 日本カタン株式会社

研究開発を強力サポート　「受託分析サービス」

お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

ても、ご相談承ります。 『測定法』 ○質量分析法 SIMS　二次イオン質量分析法 TOF-SIMS　飛行時間型二次イオン質量分析法 ICP-MS　誘導結合プラズマ質量分析法 ほか ○光電子分光法 XPS　X線光電子分光法 UPS　紫外光電子分光法 ○電子顕微鏡観察・分析 AES　オージェ電子分光法 SEM　走査電子顕微鏡法 EBIC　電子線誘起電流法 ほか ○振動分光...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

発熱解析による電子部品の故障箇所特定

故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能！高精度な発熱箇…

、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇所を特定 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法

極小に絞った電子ビームを試料に照射！試料内部の原子像分布・形態などを画…

当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について ご紹介いたします。 原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、 明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・ 元素情報を得るこ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック