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268件 - メーカー・取り扱い企業
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PR50周年事業としてリ・ブランディングを行いました。次なる50年で「全て…
弊社は、2024年4月1日に創業50周年を迎える事となりました。 創業当初より「オプト世紀を追及する」というキャッチコピーを掲げさせていただき、 半世紀を送りました。 次の50年を胸を張って迎えることが出来るのも、ひとえにこれまで関わっていただきました お取引先様、従業員やご家族、関係各位のご助力があってのことと、改めまして、 深く感謝の意を胸に刻む次第です。 この場を借りて厚く御礼申し上げ...
メーカー・取り扱い企業: 新光電子株式会社
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PRプリント基板設計での“ノイズ対策”のポイントが満載!ハンドブック無料進…
アート電子では、プリント基板を扱う電子回路の設計・開発者のための 『ノイズ対策 ハンドブック』を無料プレゼント中! そもそも「ノイズとは?」といった基本から、ノイズ対策の方法、 プリント基板の回路設計におけるポイントなど、 実践的な内容がたっぷり詰まった大充実の1冊です。 【掲載内容】 ■ノイズについて ■ノイズ対策の方法 ■プリント基板設計から行なうノイズ対策 ■プリン...
メーカー・取り扱い企業: アート電子株式会社 本社
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約2週間でメールにて速報をお届け!電子顕微鏡で可視化することによって形…
当社では、『エクソソームの電子顕微鏡解析』を行っております。 電子顕微鏡で可視化することによって形態やサイズの確認が可能です。 ご用意いただくものは、サンプル50μL程度。(サンプル量はご相談) 培養上清の場合はエ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所
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高倍率観察(30万倍程度まで)が可能
SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子(S...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得
TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定…
EELS分析とは、電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定する手法です。物質の構成元素や電子構造を分析することができます。 TEMに付属している元素分析装置(EDX)と比較して、下記の特徴...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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富士電子工業では、シミュレーション解析の専任スタッフがおり、高周波焼入…
富士電子工業のシミュレーション解析は、永年蓄積されたデータに基づいて選定された周波数・電圧などの条件入力からワークの温度分布・温度履歴・電力等を計算出力します。 焼入パターンの推測・最高温度・内部温度・コ...
メーカー・取り扱い企業: 富士電子工業株式会社
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透過型電子顕微鏡による安全性試験!長年積み重ねてきた経験と実績がありま…
花市電子顕微鏡技術研究所では、電子顕微鏡による『ウイルス安全性試験』の 受託を行っております。 GLP/GMPに準拠した厳正な管理の下、ウイルス安全性試験を実施。 例としてCHO細胞を使用して...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所
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試料内部の電界構造(半導体の接合構造)に関する情報を得ることができる手…
SEM装置内で電子線を照射することで、試料内で正孔電子対が発生します。 通常は再結合して消滅しますが、空乏層など内部電界を有する領域で正孔電子対が生じた場合はキャリアが内部電界でドリフトされることで起電流として外部...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TEM(透過型電子顕微鏡)は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…
TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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電子科学製のTDSを使用した受託測定!
TDS装置の製造・販売だけではなく、受託測定も承っております。 長年TDS専業メーカーとして培ってきたノウハウを活かし、常時良好な状態に維持された装置と、熟練した専任オペレーターによってお客様の材料トラブルの解決に努めます。 【保有装置】 ・赤外線加熱型 昇温脱離分析装置:2台 ・高周波加熱型 昇温脱離分析装置:1台...測定モード Bar (定性・定量測定) SIM (m/z...
メーカー・取り扱い企業: 電子科学株式会社
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容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能
EBSDを利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。 電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP:Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類・存在量の評価
AESは、電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面(深さ数nm)の定性・定量...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を…
EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です。 ・物質の結晶学的情報が得られます。 透過電子顕微鏡の場合、単結晶では規則正しく並んだ回折斑点(スポット)、多結晶で...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に
UPSは、紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面(数nm程度以下)の価電子状態に関する知見を得る手法です。その一方で、高いエネルギー分解能を利用して各種金属材料の仕事関数評価にも用いられています。 X...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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2017年ノーベル化学賞に輝いたクライオ電子顕微鏡に関する知見を体系的…
研究者、技術者のためのクライオ電子顕微鏡設置機関とそのサービス内容も紹介...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社エヌ・ティー・エス
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【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価
製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です
GaN系高電子移動度トランジスタ「GaN HEMT(High Electron Mobility Transistor)」は、AlGaN/GaNヘテロ構造によって二次元電子ガス層(2DEG)が得られ、電子移動度が...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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精電舎電子工業株式会社 本社、柏工場、営業所(仙台、北関東、東京、湘南、名古屋、大阪、広島、福岡)、室蘭事務所