非接触赤外線放射温度計　 L−1000シリーズ

PRガラス越しの温度測定が可能。操作簡単。シンプル且つ特別な光ファイバー式…

簡単操作のなかで、その瞬間の温度を設定値に捕らえようとするアラーム機能が搭載された、赤外線放射温度計です。通常の操作による変更はもちろん、L-1000の特徴とも言えるＤ・ＳＥＴキーによりダイレクトに設定値（アラームＨｉ）を登録することができます。変更の煩わしさから解放されます。(ビーム機能を除いてＬＯＣＫ状態で設定値を保護します。) 140～3000℃をシリーズで測定可能。 【特長】 ■ガラ...

メーカー・取り扱い企業： レック株式会社

非接触心拍・呼吸センサー『miRadar 8 Handy』

PR手のひらサイズですぐに利用OK！日々の健康状態を監視する必要がある介護…

『miRadar 8 Handy』は、単体動作が可能なディスプレイ付きの バイタルセンサーです。 122×78×43mmの手のひらサイズ。対象者のバイタル情報(心拍・呼吸・体動)をリアルタイムに計測しグラフ表示します。 日々の健康状態を監視する必要がある介護・看護用途のほか、 ウェルネス・フィットネスなどにおける体の状態チェックにご活用ください。 【特長】 ■単体動作可能 ...

メーカー・取り扱い企業： サクラテック株式会社

非接触式シート抵抗測定機『LEI-1510シリーズ』

広い範囲で優れた測定直線性！三次元グラフィックマップとしてPCモニター…

『LEI-1510シリーズ』は、旧リハイトン社製の非接触式シート抵抗測定機です。 ロボットを取り付ける事により、多数枚を迅速に計測処理する事が可能。 四探針方式で起こる、探針の接触汚染や接触具合による再現性の問題を 解決します。 2イン...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

結晶欠陥分析装置 SIRM-300は、非接触、非破壊にて結晶欠陥測定が可能な光学測定器です。 様々なバルク特性解析(バルク/半導体ウェハーの表面付近の酸素、金属　堆積物、空乏層、積層欠陥、スリップライン、転位)が可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

結晶欠陥検査装置『EnVision』

非破壊/非接触！nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリン…

『En-Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の 結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。 欠陥サイズ（15nm～サブミクロン）と密度（E6～E10/cm3）の両方で ハイダイナミックレンジを提供。 ウェハー深さ方向の検出...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

比抵抗測定器

渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵…

比抵抗測定器 RT-1000は、ベストセラー機 RT-1000の後継機種となり、渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵抗を瞬時に測定いたします。(測定範囲: 0.001〜100 Ωcm)...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

PN判定器

シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます

シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます。 非接触／非破壊にてＰ／Ｎ判定ができる持ち運びにも便利なペンタイプの判定器です。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

Junction Photo Voltage(JPV)

JPV法により、非接触で、PNジャンクションのジャンクション・リーク、…

JPV法（ジャンクション・フォト・ボルテッジ法）を用いているため、高速で再現性の良いマッピング測定が可能です。 【特徴】 - 非接触、非破壊測定 - プローブの調整は不要 - 測定のための特別な試料準備は不必要 - 表面に酸化膜やコーティングが存在しても測定可能 - 空間分解能の高い分布測定（マッピング）が高速で可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社