品質管理・保守向け。1から学ぶ計測器・測定器の『校正 基礎知識』

PR今更聞けない「校正の基礎」を解説。校正とは？成立条件？なぜ必要？トレー…

「ものづくり」の品質管理には、それに関わる機器の”校正”が必須です。 では、そもそも校正とは何？成立条件は？資格や校正周期は？トレーサビリティって何？など、 意味やルールを正しく理解していないと、正しい「校正」はできません。 ここでは「ものづくり」で避けて通れない「校正」についてまとめた資料を進呈中です。 後半では温湿度計・板厚計の校正事例や、校正や計測・測定関連の基礎用語も掲載しています。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社レックス

【ＯＤＭ・ＥＭＳ受託】無線機器、電子機器、装置の設計・製造・修理

PR有線機器の無線化、改版設計、試作など、お気軽にご相談ください。確かな経…

新日本電子は、東京都町田市の無線関連機器メーカーです。 当社では、創業以来３６年培った無線技術をコアに 無線応用機器をはじめ、各種電子機器・装置の設計・製造・修理を承っております。 【特長】 ■試作のみや、少量・単発の生産にも柔軟に対応 ■はんだ付けや電子機器組立ての資格保有者による、高品質なものづくり ■既存有線機器の無線化設計（リモコン、センサー、カメラなど） ■部品のＥ...

メーカー・取り扱い企業： 新日本電子株式会社 本社

ガス透過法細孔径分布測定器『POROMETER 3G』

高いメンテナンス性！バブルポイント法に準拠した非水銀・ガス透過法細孔径…

プロセスが大幅に簡単になります。 また、幅広い膜やろ過媒体の透気率や細孔径特性に応じた、 3種類の異なるモデルを用意しています。 【特長】 ■シート状サンプルの細孔径分布測定 ■非破壊試験により、再測定が可能 ■短時間測定（バブルポイント含め約20分以内） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アントンパール・ジャパン

固体表面ゼータ電位測定装置SurPASS 3　半導体ウェハ用

表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢…

液の流路を挟んで同一のサンプル表面を向かい合わせ、そのサンプルのゼータ電位を求める構成と、リファレンス表面を使用する非対称構成の2つの異なるサンプルアレンジメントが可能 ・異なる厚さのサンプルの非破壊測定が可能 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アントンパール・ジャパン

固体表面ゼータ電位測定装置SurPASS 3　平面形状サンプル用

表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢…

液の流路を挟んで同一のサンプル表面を向かい合わせ、そのサンプルのゼータ電位を求める構成と、リファレンス表面を使用する非対称構成の2つの異なるサンプルアレンジメントが可能 ・異なる厚さのサンプルの非破壊測定が可能 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アントンパール・ジャパン

固体表面ゼータ電位測定装置SurPASS 3　ガラス用

表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢…

液の流路を挟んで同一のサンプル表面を向かい合わせ、そのサンプルのゼータ電位を求める構成と、リファレンス表面を使用する非対称構成の2つの異なるサンプルアレンジメントが可能 ・異なる厚さのサンプルの非破壊測定が可能 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アントンパール・ジャパン

固体表面ゼータ電位測定装置　SurPASS 3　コアサンプル用

表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢…

外周面におけるゼータ電位分析が可能になります。岩石表面の掘削流体などの相互作用について研究することができ、この情報はEORプロセスの改善に用いられます。 EOR試験で使用されるコアサンプルの非破壊分析 ・コアサンプルの断面と外周面におけるゼータ電位分析 ・岩石表面と相互作用する掘削流体などの特性を評価する接線測定モード ・代替技術に比べて非常に効率的: ゼータ電位分析のためにコアサン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アントンパール・ジャパン