• 【X線CT:受託計測】非破壊内部検査  製品画像

    【X線CT:受託計測】非破壊内部検査 

    PR非破壊による内部の欠陥・状態観察が可能! X線CTによる受託計測・解析…

    進和メトロロジーセンターでは、 カールツァイス社 計測X線CT ZEISS METROTOMを所有し、受託計測業務を実施しております。 これまでの受託実績を踏まえて お客様のご要望にお応えしていきます。 検査内容 〇内部欠陥解析 〇CAD比較 〇寸法測定/幾何公差評価 〇繊維配向観察 〇肉厚測定 ○接合状態の観察  【受託依頼 フロー】 1) お問合せ(IPROS, ホームページ、Eメール...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社進和 戦略営業推進室

  • 【品質管理・高品質要求対応】ステンレス鋼 / 突合せ溶接式管継手 製品画像

    【品質管理・高品質要求対応】ステンレス鋼 / 突合せ溶接式管継手

    PR[ISO9001認証&JIS表示認定取得]世界標準の厳しい品質…

    当社 MIEテクノでは、材料の受け入れ~製品完成まで、徹底した工程管理のもと、 品質にこだわった『ステンレス鋼/突合せ溶接式管継手』を製造しています。 入念な検査、品質保持のための資格、全てが満たされた場合のみ製品となります。 ≪  製造製品  ≫ 各種エルボ、ティー、レジューサ、キャップ、スタブエンド 等 ≪  取得認証資格(一部抜粋) ≫ ◆ISO関連  ・IS09001...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社MIEテクノ

  • 積層基板の斜めCT観察 製品画像

    積層基板の斜めCT観察

    積層基板では各層毎の情報を得ることが可能!測長ツールを用いることで長さ…

    斜めCTの最大のメリットは非破壊でCT観察できることです。 平面情報を取得することに適しており、積層基板では各層毎の情報を 得ることが可能。 また、測長ツールを用いることで長さを測定することもできます。 当社が行...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 発熱解析による電子部品の故障箇所特定 製品画像

    発熱解析による電子部品の故障箇所特定

    故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能!高精度な発熱箇…

    ーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇所を特定 ■サンプルを非破...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】MEMS部品の構造解析 製品画像

    【資料】MEMS部品の構造解析

    MEMS部品の構造を非破壊・破壊的手法を組み合わせ、総合的に解析!

    当資料では、MEMS部品の構造解析についてご紹介しています。 X線透視観察にて、パッケージ内部の構造を観察する“加速度センサーの 非破壊観察”をはじめ、“加速度センサーの機械研磨後、光学顕微鏡・ SEM観察”や“マイクロフォンの断面観察(CROSS BEAM FIB/SEM)” を掲載。 是非、ダウンロードしてご覧くださ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 機械研磨による3D構築 製品画像

    機械研磨による3D構築

    X線CTとFIBスライス断面による3D構築のメリット・デメリットや機械…

    【X線CTとFIBスライス断面による3D構築のメリット・デメリット(抜粋)】 ■X線CT ・方式:試料を回転させ360度の連続透視像を取得し、3D像を構築 ・メリット:非破壊による3D化が可能 ・デメリット:重金属や厚い試料はX線が透過できない為、撮影に向かない ■FIBスライス3D ・方式:FIBスライス加工にて複数の断面を作製し、都度、像を取得 ・メリット...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 超音波顕微鏡『SAM』 製品画像

    超音波顕微鏡『SAM』

    非破壊にて観察が可能!内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮!

    鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を ご紹介いたします。 半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の 不具合検出に大変威力を発揮します。 非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、 剥離等の検出ができます。 【仕様(抜粋)】 ■パルサーレシーバー:500MHz ■観察手法:反射法/透過法 両観察手法に対応 ■音響レンズ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • BGA・CSP はんだの評価 製品画像

    BGA・CSP はんだの評価

    はんだ内ボイドの面積率を測定!機械研磨を組み合わせることで総合的な評価…

    することができます。 さらに機械研磨を組み合わせることで総合的な評価が可能。 ご用命の際はお気軽にご相談ください。 【特長】 ■BGA(Ball Grid Array)はんだの非破壊評価  ・X線透過観察から得た画像より、非破壊ではんだ内ボイドの  ⾯積率(%)が測定可能 ■CSP(Chip Size Package)、BGA(Ball Grid Array)断面観察 ...

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  • 信頼性試験に伴う経時変化観察 製品画像

    信頼性試験に伴う経時変化観察

    変化観察に応用でき、追加解析も対応!時系列かつ非破壊で対象物を評価いた…

    点でクラックが入ったのか」「劣化の進行はどのように 進んでいくのか」「初期状態とどれくらい変化したか確認したい」 ということはございませんか? 信頼性試験と組み合わせることで、時系列かつ非破壊で対象物を 評価いたします。 【特長】 ■ウィスカ観察、マイグレーション観察、耐圧観察、はんだ評価、  薬品侵蝕試験、市場での経年劣化品などの変化観察に応用可能 ■環境試験、観察頻度...

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  • 太陽光発電設備の不具合調査 製品画像

    太陽光発電設備の不具合調査

    太陽電池モジュールや太陽光発電設備でのお困りごとの解決策を、故障検出の…

    ●太陽電池モジュールの評価/分析 太陽電池モジュールの故障解析や性能評価を実施します。 ・非破壊検査:製品出荷検査と同等のEL測定や出力測定にて、故障状態を顕在化します。 ・破壊検査:不具合部分の断面成分解析等にて、故障原因を特定します。 ●現地調査 自然災害等による太陽光パネルの...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【受託分析】レーザー顕微鏡(高精度3D測定&カラー観察) 製品画像

    【受託分析】レーザー顕微鏡(高精度3D測定&カラー観察)

    試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です!

    コープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。 レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定ができ、透明体の膜厚形状や 透明体越しの表面形状測定が可能です。 【特長】 ■試料表面の凹凸形状の3D測定が可...

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  • アルミ溶接部の観察 製品画像

    アルミ溶接部の観察

    アルミ溶接部の観察事例をご紹介。X線透視・CT検査による内部観察から、…

    ことを確認。 また、同試料の断面を作製、機械研磨と薬液エッチング処理を組み合わせることで、溶接部の状態をより鮮明に観察することが出来ました。 【概要】 ■X線透視による内部観察 ・非破壊検査・X線透視観察を実施 ・溶接部の内部にボイドが観察された ■X線CTによる内部観察 ・非破壊検査・X線CT観察を実施 ・ボイドは、溶接中央部付近に位置していることを確認 ■光学顕微鏡...

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  • スイッチ接点不良の解析事例 製品画像

    スイッチ接点不良の解析事例

    外観確認、電気的な確認、X線での内部観察を実施!解析事例のご紹介

    す。 X線での内部観察を行い、スイッチ内部の接点端子が溶融、 ⾶散し消失した事によるオープン不良と判明しました。 最終的には原因考察も含め報告書として提出させていただきます。 また非破壊検査後の解析相談も承っておりますので、お気軽にご相談ください。 【非破壊観察の基本】 ■その1:外観確認 ■その2:電気的な確認 ■その3:X線での内部観察 ※詳しくはPDF資料...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【不良解析事例】ACアダプターのX線観察 製品画像

    【不良解析事例】ACアダプターのX線観察

    非破壊で行えるX線観察は初期観察に有効!不良解析事例をご紹介します

    VO) により観察したところ、断線部位が発見されました。 透視観察で、内部の部品や実装はんだ部に異常は確認されませんでしたが、 配線の付け根に断線が疑われる個所が確認できました。 非破壊で行えるX線観察は初期観察に有効です。 【不良解析事例】 ■対象:ACアダプター ■使用装置:X線観察装置(YXLON社製Cheetah EVO) ■断線部位:ワイヤー付け根 ※...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】太陽電池の不具合と解析事例 製品画像

    【資料】太陽電池の不具合と解析事例

    様々なアプローチにより不具合解析・分析を行った事例を掲載しています!

    当資料は、太陽電池モジュールの不具合の紹介と、その解析に当たって 様々な断面加工を行い、観察・分析を行った事例を劣化要因とともに 掲載しています。 「太陽電池の基本構造」をはじめ「非破壊解析と破壊解析」について 図や写真を用いてご紹介。 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■はじめに ■太陽電池の基本構造 ■非破壊解析と破壊解析 ■種々の不具合モード ■...

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  • LEDのトータルサポートサービス 製品画像

    LEDのトータルサポートサービス

    LEDをあらゆる角度から徹底評価、検証します

    動作中の電圧モニターを実施可能  ・信頼性試験   LEDの使用環境を考慮した信頼性試験評価の実施  ・点灯試験   単体のLEDデバイスから1200mm蛍光灯管サイズまで試験可能  ・非破壊検査   X線によるLED内部構造の透過観察を実施  ・ESD試験   HBM(人体モデル)とMM(機械モデル)の2種類 ■LEDの分析・解析  ・LED不良モードの切り分け   不具...

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  • パワーデバイスのトータルソリューションサービス 製品画像

    パワーデバイスのトータルソリューションサービス

    パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します

    ャネル数 120チャネル ■パワーデバイスの分析・解析 ・パワーチップの故障解析 ・はんだ接合部の解析 ・極低加速特殊SEMによるAlワイヤーのグレイン観察 ・半導体・パッケージ剥離部の非破壊観察...

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  • 実装部品のインク浸漬試験(dye and pry) 製品画像

    実装部品のインク浸漬試験(dye and pry)

    着色液や蛍光液を浸透させることにより、破断・剥離層の観察を行うことがで…

    当社が行う『実装部品のインク浸漬試験(dye and pry)』についてご紹介です。 パッケージや実装部品の破断・剥離の確認方法として、非破壊検査(透過X線、CT) や断面観察等がありますが、これらは破断した層に対する剥離の広がりを「面」 でとらえることが困難です。 インク浸漬試験(dye and pry)では、着色液や蛍光液...

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  • AFM(原子間力顕微鏡) 製品画像

    AFM(原子間力顕微鏡)

    微小プローブによる高分解能でのイメージング!ナノレベルの構造解析を実現…

    れをマッピングし、形状には 現れない物性の違いを可視化します。 【特長】 ■微小プローブによる高分解能でのイメージング ■導体、半導体、絶縁体を問わず測定可能 ■微小な触圧によりほぼ非破壊で測定できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 真贋調査(比較観察) 製品画像

    真贋調査(比較観察)

    正規品又は標準品と調査対象品を比較!サイレントチェンジされていないか等…

    (比較観察)』を行っています。 正規品又は標準品と調査対象品を比較し、構造などの差異や サイレントチェンジされていないか等を調査。 外観観察をはじめ、開封観察や電気的特性測定、破壊・非破壊観察、 信頼性試験、材料調査などに対応しています。 【特長】 ■正規品又は標準品と調査対象品を比較 ■構造などの差異やサイレントチェンジされていないか等を調査 ※詳しくはPDF資...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【X線透視・CT検査装置】装置外観と主なスペック 製品画像

    【X線透視・CT検査装置】装置外観と主なスペック

    YXLON製マルチフォーカスCheetah EVO導入!電子部品など、…

    X線観察は、非破壊検査の1手法であり、解析・分析を行う上で始めに行う検査で、 実装基板、電子部品を始め、様々な部品、部材の初期観察に有効です。 またCT検査では、3次元的に構造を捉えることができるため、視覚...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します! 製品画像

    電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します!

    過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装…

    造解析(出来栄え・他社品RE)■故障解析(故障箇所特定、原因究明、改善提案) 【試験一覧】 ■パワーサイクル試験 ■液槽熱衝撃試験 ■ゲートバイアス試験 ■半導体・パッケージ剥離部の非破壊観察 ■パワーチップの故障解析 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • X線透視・CT検査装置『インダクタコイルの観察事例』 製品画像

    X線透視・CT検査装置『インダクタコイルの観察事例』

    【比較画像あり】内部の形状異常も非破壊観察可能!X線CTと断面SEMを…

    インダクタコイルの観察(直交CT観察+断面観察)事例をご紹介します。 動作不良が発⽣したインダクタコイルの中をX線CTで観察。 螺旋状に形成された配線の所々に異常形状が発⽣している様⼦が 確認されました。 X線CT観察では、3次元的に観察できるため、異常個所の状態がよく分かります。 また、異常個所を含む断⾯を機械研磨によって作製し、SEMによる観察を 実施しました。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析 製品画像

    XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析

    非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能!分析事例もご紹介いたし…

    ます。 通常のイオンエッチング法では測定が困難な表面付近nmオーダーの、 均一な薄膜の深さ方向分析を実現します。 HDD磁気面の深さ方向を分析した事例もございます。 【特長】 ■非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能 ■均一な薄膜の深さ方向分析を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 信頼性のトータルサポートサービス 製品画像

    信頼性のトータルサポートサービス

    環境試験をはじめ、非破壊観察や電気特性測定などを行っております

    アイテスでは、JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じた環境試験装置を使用し、 様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価受託試験を承ります。 電気試験をはじめ、非破壊観察やパワーサイクル試験 などがございます。 【環境試験】 ■高度寿命加速試験 ■恒温恒湿試験 ■冷熱衝撃試験 ■液槽冷熱衝撃試験 ■In-Situ常時測定信頼性評価試験サービス...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【X線透視・CT検査装置】BGAはんだクラック解析事例 製品画像

    【X線透視・CT検査装置】BGAはんだクラック解析事例

    X線透視観察・斜めCT観察・直交CT観察など!BGAはんだクラック解析…

    が、はんだボールやボイドのような 球形は斜めCT特有の要因により、上下方向に延びたような形状になります。 はんだ接合界面に発生しているクラック情報を断面的に得ることは困難ですが、 基板を非破壊で観察できるというメリットがあります。 【解析事例】 ■X線透視観察 ■斜めCT観察 ■直交CT観察 ■断面観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さ...

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