• 顕微鏡用ナノ位置決めステージ『DOF-5』 製品画像

    顕微鏡用ナノ位置決めステージ『DOF-5』

    PR低コストで高性能!画像の安定性を維持しながら高速なステップと整定を実現…

    『DOF-5』は、光学イメージングアプリケーション向けに最適化された 低コストで高性能なナノポジショニングステージです。 移動量(5mm)と帯域幅(225Hz以上)が大きく、画像の安定性を維持しながら 高速なステップと整定を実現。 また、ボリュームディスカウントが利用可能です。 【特長】 ■高価な顕微鏡用ピエゾステージの代替品として登場 ■ボリュームディスカウントが利用可...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社キーストンインターナショナル

  • 電子顕微鏡の老舗メーカー日本電子に学ぶアフターサービス改革 製品画像

    電子顕微鏡の老舗メーカー日本電子に学ぶアフターサービス改革

    PR4万点に及ぶ部品の基本情報と関連情報をPIM/DAMで一元管理、 顧客…

    顧客サービスのフロントとなるアフターサービスシステムを刷新。 ContentservのPIM(商品情報管理)/DAM(デジタルアセット管理)を 活用して新たなシステムを構築し、それらを既存のERPやECサイトなどと 連携させることで、従来の課題を一気に解決した日本電子の事例を紹介します。 【掲載内容】 ■顧客サービスのフロントとなるアフターサービスシステムを刷新 ■等身大でより手軽...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社Contentserv

  • 半導体用電子顕微鏡産業調査レポート予測-2024-2036年 製品画像

    半導体用電子顕微鏡産業調査レポート予測-2024-2036年

    半導体用電子顕微鏡市場は2036年までに88億米ドルの収益を生み出す…

    当社の半導体用電子顕微鏡市場業界調査によると、半導体用電子顕微鏡市場規模は2036年までに約88億米ドルに達すると予測されています。2023年の登録市場価値は約30億米ドルになりました。 さらに、半導体用電子顕微鏡市場は...

    メーカー・取り扱い企業: SDKI Inc.

  • 【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察 製品画像

    【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

    金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

    走査イオン顕微鏡(Scanning Ion Microscope:SIM)は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIM...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 非破壊分析サービス 2018年4月より開始のお知らせ 製品画像

    非破壊分析サービス 2018年4月より開始のお知らせ

    樹脂やカーボン素材等、有機系の分析に強い装置を揃えました。

    。電子デバイス・医薬品・食品の製品開発・品質管理など幅広い分野を対象に分析サービスを提供します。 非破壊分析は、製品を破壊することなく内部の状態を可視化する技術です。 MSTはこれまで電子顕微鏡観察・質量分析等の破壊を伴う分析手法を主として受託サービスを展開しておりましたが、電子デバイスを破壊せず観察したいという顧客ニーズが近年増加しておりました。また、電子デバイス以外の分野においても、...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】貼り合わせウエハ内部の空隙調査 製品画像

    【分析事例】貼り合わせウエハ内部の空隙調査

    超音波顕微鏡による内部空隙の観察事例

    パワーデバイスやMEMSデバイスなどに用いられる、貼り合わせシリコンウエハを作成する際、貼り合わせ工程において界面に局所的に空隙が発生する事があります。 300mm貼り合わせウエハ内部を超音波顕微鏡を用いて観察しました。その結果、複数箇所にて1mm~20mm程度の複数の空隙があることを確認しました。本手法によって、貼り合わせウエハ内部の密着性評価が可能となります。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 微細組立・検査 製品画像

    微細組立・検査

    顕微鏡下で組立なければならない微細組立。 顕微鏡高倍率での外観検査を…

    顕微鏡での検査。クリーンルームでの組立・検査作業。など 小さな部品組立仕事、試作・量産も行います。...

    メーカー・取り扱い企業: ハヤシレピック株式会社 第3事業部

  • キョーユー株式会社「精密機械部品」 製品画像

    キョーユー株式会社「精密機械部品」

    光学顕微鏡向け部品や精密測定機器向け部品の加工を行っています。

    :±0.01mm →使用機械:YBM-Vi40 (YASDA) ○マシニング加工 →材質:S45C 加工精度:±0.01mm →使用機械:V22 (MAKINO) ○マシニング加工(光学顕微鏡向け部品) →材質:スーパーインバー 加工精度:±0.01mm →使用機械:MSA30 (MAKINO) ○マシニング加工(精密測定機器向け部品) →材質:KS20(純チタン) 加工精度:...

    メーカー・取り扱い企業: キョーユー株式会社

  • ダイシング加工 製品画像

    ダイシング加工

    ダイシング加工。ダイシングからチップトレイ詰め、外観検査まで。

    グ加工 【特徴】 ○超スリムチップIC、軽薄短小用IC、異物対策用IC等の高難易度加工が得意 ○ステップカットによる高品質加工 ○自動選別機によるチップトレイ詰め ○金属顕微鏡による高信頼検査 ○ウエハーサイズ 4インチ、5インチ、6インチ、8インチ ●詳細は、お問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 佐原テクノ工業株式会社

  • 株式会社プロシード 事業紹介 製品画像

    株式会社プロシード 事業紹介

    ニーズにあわせ、高品質、高精度、低コストな製品を提供します!

    株式会社プロシードは、半導体試験装置に関わる基板、電装機器、 ケーブルの組立・製造を行なっております。 高性能実装機に加え高精度検査装置をさらに導入。 顕微鏡のファインダー越しに行う超精密な作業、高精度を要求される組立 作業、クリーンルーム内でのマイクロソルダリング作業など、単に仕様書 通りの作業を機械的にこなすだけでなく、プロフェッショナルとして...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社プロシード

  • TEMによる電子部品・材料の解析 製品画像

    TEMによる電子部品・材料の解析

    TEM(透過型電子顕微鏡)は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…

    TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。...■エミッション発光にて特定した故障部位は  FIBにより薄片化しながら観察します。 ■電子の透過力の大きい加速電圧400kVのTEMにて  故障部位を試料厚内に閉じ込めた状態での透過観察とFIB加工を繰り返し  最適な像を得ることができ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EDS(エネルギー分散型X線分光法)による元素分析のご紹介 製品画像

    EDS(エネルギー分散型X線分光法)による元素分析のご紹介

    SEMでの高倍率観察中に試料の特定箇所をピンポイントで評価できるため、…

    電子顕微鏡(SEM)にて画像観察する際、電子線を物質に照射すると蛍光X線が発生します。 その中には元素固有の情報を持った特性X線が含まれています。 これを半導体検出器のようなエネルギー分散型検出器に...

    • 図5.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ウエハーケース(衝撃緩和クッション付ウエハー保管/搬送ケース) 製品画像

    ウエハーケース(衝撃緩和クッション付ウエハー保管/搬送ケース)

    衝撃や振動による破損防止!!

    などでウエハーのセットや取り出しが簡単にできる構造です。 フタの開閉が簡単に行なえ、容易にウエハーを取り扱うことができます。 ウエハーの裏表を選ばすセットできます。 フタを取り外し、本体ごと顕微鏡などの装置にセットできます。 積み重ねができ、作業スペースを有効に活用できます。...

    メーカー・取り扱い企業: サカセ化学工業株式会社

  • 【分析事例】AFMデータ集 製品画像

    【分析事例】AFMデータ集

    AFM :原子間力顕微鏡

    AFMは微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 金属・半導体・酸化物などの材料評価だけでなく、毛髪やコンタクトレンズなどのソフトマテリアルまで幅広い材料を測定可能です。 本資料では、様々な材質のAFM像をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • <試作・少量・土日可>バックグラインド、ダイシング加工、外観検査 製品画像

    <試作・少量・土日可>バックグラインド、ダイシング加工、外観検査

    以下対応可能!・試作品・小ロット・短納期・遠方(東北、九州、四国)・土…

    ■半導体加工・検査  ・バックグラインド、マーキング  ・ポリッシュ  ・テープマウント  ・ダイシング、レーザーダイシング  ・トレイ詰め  ・外観検査(顕微鏡、自動検査)...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ニチワ工業

  • セラミック部品 開発・製造サービス 製品画像

    セラミック部品 開発・製造サービス

    お客様のニーズに合わせた豊富な商品開発!

    ・メガプレス  ・射出成型機 他 ■加工  ・NC旋盤  ・CNC精密成形研削盤 他 ■焼成  ・高温大気炉  ・真空雰囲気炉 他 ■品質管理  ・CNC三次元測定機  ・工具顕微鏡 など ※詳しくはお気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社トウゴクセラミック

  • 【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価 製品画像

    【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価

    STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜…

    STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型X線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報(原子番号を反映したコントラスト像)が取得できます。 加えて以下の特長もあります。...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

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