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PRT560 ディレイ/パルス発生器で時間差を作り、MCS8A マルチスト…
◆T560 ディレイ/パルス発生器 ・ディレイ時間とパルス幅が4チャンネル個別に指定でき、10ps刻みで最大10 秒まで設定可能 ・入出力遅延(インサーション・ディレイ):21ns ・最大トリガ・レート:16MHz ◆MCS8A マルチストップTDC/TOF ・複数のイベントタイムを記録できる8入力のデジタイザ ・STARTとSTOPの間の時間差を、80psの分解能で最大8....
メーカー・取り扱い企業: 大栄無線電機株式会社
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OGP マルチセンサー三次元測定機 スマートスコープシリーズ
PR画像処理・接触式・レーザーの3つの測定センサーで、「多用途」にして「高…
・多様なアプリケーションに対応する複数センサの併用と選択 ・測定スピードと繰り返し精度を向上 ・20機種以上の豊富なラインナップ 創立75年以上に渡り、非接触三次元測定機を全世界市場に提供してきた米国OGPのベストセラー機です。 プログラム作成はマウス操作中心のため、初心者でも直感的に操作をすることができます。 画像測定をベースとして、接触式測定(タッチプローブ)、レーザー測...
メーカー・取り扱い企業: YKT株式会社
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ソーラーウエハー
太陽光パネルに使われるウエハーです 【特長】 ◆125mm〜156mm(モノ)、156mm(マルチ)のウエハーをお客様のご要望に応じて ご提供いたします ◆各種ウエハーのスペックはカタログダウンロードにて ご覧になれます ■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□ ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ベクトルジャパン
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ウェハ膜厚・表面粗さ測定機 SemDex A32, M1, M2
完全自動化!マルチセンサ技術を備えた高速ウエハ計測・選別システムをご紹…
『SemDex A32』は、ウェハ単層及び多層厚さ・反り・歪み・粗さの 完全自動化・高精度測定機です。 基板層の厚さ・TTV・積層ウエハの全体厚さ・ウエハ反り・歪み・平坦性は、 単一の測定ランにおいてsub-μm精度で測定可能で、nmレベルまでの表面粗さ、 更にTSV・RST、およびミニバンプのパラメータも同様に測定することができます。 その他に、半導体計測の幅広い用途に対応する...
メーカー・取り扱い企業: 伊藤忠マシンテクノス株式会社
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多機能・高精度・ 微細レーザー加工機
高精度ガルバノスキャナーと高精度ステージの組み合わせによる 高速で高精度な微細加工を実現。同軸観察やマルチヘッド化も対応します。...
メーカー・取り扱い企業: サンインスツルメント株式会社 本社
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