<PDF資料DL可＞【XPS】XPSでのポリイミド表面の汚染分析セイコーフューチャークリエーション

X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られるため表面汚染・変色の分析や表面処理その他の評価に最適です

ポリイミドフィルムの表面が疎水性になるという不良が発生しましたが、SEM/EDX分析では得られる情報深さが深いため、最表面に存在する特異な元素は検出できませんでした。
そこで表面に敏感な手法であるX線光電子分光分析(XPS)による表面分析を実施しました。

この事例では「XPSによるポリイミド表面汚染分析」を紹介いたします。

ぜひPDF資料をご一読ください。

また、弊社では本WPSに加えGD-OES、オージェなどの各種表面分析を行っております。

お気軽にご相談いただければ幸いです。
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基本情報<PDF資料DL可＞【XPS】XPSでのポリイミド表面の汚染分析

●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面汚染・変色
の分析、表面処理の評価に有効です。
●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。

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