デバイス | イプロスものづくり

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【車載・EV】デバイス用テストソケット

PRADAS(先進運転支援システム)において欠かせない車載カメラ用ソケット…

自動車の信頼性や安全性を支える大切な要素になる為、開発時や量産時など各工程で適切な検査が必要です。当社ではカメラモジュールをはじめセンサー/LED/車載・EVデバイス用の検査治具をカスタムで設計・製作致します。【特徴】・モジュールの光学中心に合わせる「位置補正機構」の搭載が可能・多様なモジュールや形状に対応可能・PCB・FPC・BtoB等のコネクタへの適切なコンタクトをご提...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ＳＤＫ
パワーデバイス向けの最新アプリケーションをご紹介！

PR5月の接着・接合 EXPOに出展！パワーデバイス向けの新たなアプリケー…

パワーモジュール端子接合や異種金属の接合など、様々な分野で使用されている、超音波接合装置。ニーズの多様化が進み、より高度な接合が求められることも増えています。アドウェルズでは、Ｒ＆Ｄから量産まで幅広い用途で独自技術による安定した接合を実現する『超音波接合・切断装置』をラインアップしています。 24年5月開催の接着・接合 EXPOでは、弊社装置で加工した様々な分野のサンプルを多数展示いたしま...
メーカー・取り扱い企業：株式会社アドウェルズ
技術情報誌 202001-01 in-situ STEM

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】近年、高感度ならびに低消費電力デバイスの需要が高まり、スピントロニクス分野では磁気メモリや磁気センサーなどが注目を集めている。これらのデバイスには、高い磁気抵抗効果が得られることからMTJ（magnetic tunnel juncti...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター
【分析事例】撥水箇所の成分分析

TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です

密着不良などの不具合の原因を探るためには、ウエハやデバイスの表面の知見を得ることは重要です。今回、シリコンウエハ上に撥水箇所が確認されたため、TOF-SIMSで広域イメージングを実施しました。その結果、撥水箇所からはシリコーンオイル、CF系グリース、パラ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価

製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です

GaN/GaNヘテロ構造によって二次元電子ガス層（2DEG）が得られ、電子移動度が高くなります。その特性を用いて急速充電器などで活用されています。本資料では、ノーマリーオフ型のGaN HEMTデバイスを解体・評価しました。分析手法を複合的に活用し、試料の総合的な知見を収集した事例をご紹介いたします。測定法：SIMS・TEM・SCM・SMM 製品分野：パワーデバイス 分析目的：微量濃...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
電界センシング受託計測サービス

レーダーやアンテナなどの計測、設計や評価における困り事は当社まで！

布計測と放射パターン推定　・バンパーの配置や塗料、凹みや傷などが近傍界分布と放射パターンへ　　与える影響の計測　・近傍界計測によるミリ波レーダのエイミング ■波源に信号を入力できないデバイスの近傍界分布計測と放射パターン推定　・アンテナと回路が集積化されたオンチップアンテナデバイスの評価　・アンテナ端子を持たない5G 基地局からの放射パターン計測　など ※詳しくはPDF...

メーカー・取り扱い企業：シンクランド株式会社
SLAM技術を活用！【歩きながら3D受託サービス】

ウェアラブル型計測デバイスを身につけ歩きながら3Dスキャン。短時間で広…

当社では、ウェアラブル型計測デバイス「NavVis VLX」を用いて短時間で広範囲の空間情報を取得できるサービスを行っています。歩きながら点群データを取得していくため、従来の地上型3Dレーザースキャナーを用いる方法に比べ...

メーカー・取り扱い企業：大浦工測株式会社［東京本社・横浜支店・九州支店・関西支店・仙台営業所］
技術情報誌 202102-04 新規RBS装置の導入

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】近年、各種デバイスの高集積化に伴い、局所領域における評価が製品開発、機能向上のために極めて重要と考えられている。この度、東レリサーチセンターに導入した新規RBS装置では、高速イオンビームを最小1 μmφまで収束可能...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター
ESD(CDM)試験受託サービス

印加ピンの接触確認機能により確実に印加！直接チャージ法と電界誘導法にも…

『ESD(CDM)試験受託サービス』は、半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要なデバイス帯電モデルのESDによる破壊に対する耐性を評価します。直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応。また、ダイオード特性...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス
［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法

ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

■長所・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能・ＦＩＢで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能・オプション機能を組み合わせることにより、局所領域の組成・状態分析なども可能 ■短所・試料を薄片化する必要がある（一部の試料において薄片...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
ロックイン発熱解析法

ロックイン発熱解析法は、電流経路中の僅かな温度上昇を検出します

デバイスの内部で発生する熱を検出し、故障箇所を特定する半導体故障解析装置となります。高感度赤外検出器にて検出した発熱画像と、IRコンフォーカルレーザ顕微鏡で取得した高解像度なパターン画像を重ね合わせて表示することにより、高感度かつ高い位置精度で故障箇所を迅速に特定します。...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
EMS分析（エミッション顕微鏡法）

故障箇所を迅速に特定

EMSは、半導体デバイスの異常動作に伴い発生する微弱な発光を検出することで、故障箇所を迅速に特定できる手法です。EMMS、PEM、EMIとも呼ばれます。・測定波長領域（可視域から近赤外域）に対して透明な材料のみ評...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】半導体パッケージのはんだ濡れ性試験_C0699

劣化加速試験後の電極のはんだ濡れ性試験が可能です。

今回は疑似的に試料を劣化させ、はんだの濡れ性がどうなるかを検証しました。恒温恒湿試験後、電極表面の濡れ性が変化することが分かりました。測定法：恒温恒湿試験,はんだ濡れ性試験製品分野：パワーデバイス,LSI・メモリ,電子部品分析目的：劣化調査・信頼性評価詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】リチウムイオン二次電池バインダの成分分析｜受託分析

熱分解GC/MSによる有機成分の同定

リチウムイオン二次電池は、金属、無機から有機物質、固体から液体と多種多様な材料が使用されています。各材料の物性や組合せはデバイスの特性・信頼性に大きく反映されますので、材料の正確な解析・評価が必要となります。今回、リチウムイオン二次電池の負極を熱分解GC/MS（pyro-GC/MS）で測定した結果、本バインダ材料はSBR（...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
EV関連分析事例

分析でEV開発のEVolutionを！

車載電池、デバイスをはじめとするEVに不可欠な部材に対して、好適な分析メニューをご提供します。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
X線透過観察サービス｜JTL

X線透過により製品・部品の内部構造状態を非破壊で観察します。

X線透過観察サービスでは、X線での非破壊観察により試料の内部構造を観察・検査・計測を行うことができます。電子部品や実装部品などの不具合解析によく用いられる手法です。 JTLでは、電子デバイスの他に各種素材、部品・製品形状の試料について、内部構造観察から不具合の多数個検査まで幅広いニーズにご対応します。【X線透過装置の構造】 X線は電波や太陽の光と同じ電磁波の一種です。電...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社本社
技術情報誌 202303-02 イオンモビリティ質量分析計

東レリサーチセンターで導入したイオンモビリティ質量分析計の特徴と、ジス…

ビリティ質量分析計の特徴と、ジスルフィド結合位置解析及び糖鎖構造解析の実例を紹介する。【目次】１．はじめに２．分析法の概要３．分析実例４．おわりに【図表】図１　TIMSデバイスの概略図図２　断片化された抗体のヒンジ部図３　ペプチド2種類のモビログラム図４　同一質量の糖鎖標準品2種類の混合物のモビログラム図５　クリーンナップ処理によるバックグラウンドの低減...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター