• 独自技術を採用したガラス加工用レーザー装置 製品画像

    独自技術を採用したガラス加工用レーザー装置

    PR高速かつ正確なガラス微細加工が可能。加工時の応力を抑えて、マイクロクラ…

    『LPKF Vitrion M 5000 Gen2』は、独自に開発した「LIDEプロセス」を採用し、±5μm以下の高精度でガラス微細加工が可能なレーザーシステムです。 加工時の応力を最小限に抑え、チッピングやマイクロクラックの発生を防止。 アドバンストパッケージングで標準使用される150×150mmから 510×515mmまでの大型パネルに対応し、基板のサイズや 形状に合わせて柔軟に対...

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    メーカー・取り扱い企業: LPKF Laser&Electronics株式会社

  • 制御盤・配電盤で銅加工品を内作されているお客様へ 製品画像

    制御盤・配電盤で銅加工品を内作されているお客様へ

    PR銅加工の外注化で工数削減とコストダウンをお手伝いします

    エイシンインターナショナルは銅加工で皆様のモノづくりをサポートいたします ■特長■ 商社由来のネットワークを駆使し、銅材を海外から直接輸入(国内材も調達可) 銅加工は国内のお客様のご要望にお応えし、短納期及びサービス強化のため エイシングループにて国内の2拠点(大阪府・愛知県)にて加工。 ドイツより最新の銅ブスバー加工の専用機を導入しており業界・お客様における 人材不足解消のた...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エイシンインターナショナル

  •  【動画】FIBによるめっき不良のSlice&View/3D構築 製品画像

    【動画】FIBによるめっき不良のSlice&View/3D構築

    FIBのSlice & View機能によりめっき不良の起点から広がる様…

    集束イオンビーム(Focused Ion Beam:FIB)装置は、集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行う装置です。 また、FIB-SEMは高解像度のFE-SEM(電界放出形電子顕微鏡)を搭載しており、高分解能での観察と加工が同時に行えるのが特長です。 本動画はFIB-SEM(サー...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【DL可/AFM】めっき済み接点部品表面の導電性評価 製品画像

    【DL可/AFM】めっき済み接点部品表面の導電性評価

    AFMでは極めて微小な表面形態(凹凸)を捉えて測⾧することが可能です

    物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性や絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 この分析装置を使い「めっき加工したコネクタ接点部品の表面処理」の調査を行いました。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本分析装置に加えXPS、AES、GD-OESなどの各種表面分析を行っております。 ...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【DL可/GD-OES分析・測定】めっき基板の洗浄評価 製品画像

    【DL可/GD-OES分析・測定】めっき基板の洗浄評価

    GD-OES(グロー放電発光分析)によりNiめっきの膜厚、濃度の分析状…

    グロー放電発光分析法(Glow Discharge OpticalEmission Spectrometry:GD-OES)は、スパッタリングにより試料表面から原子を弾き出し原子をプラズマ状態に励起し、生じた発光を測定することで試料の組成を分析する方法です。 この事例ではGD-OESによる「めっき工程前の基板洗浄効果調査」を紹介します。 ぜひPDF資料をご一読ください。 弊社では...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

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