半導体後工程用治具(治工具) ～マガジン・ダイシングリング・他～

PR４０年で約１００社を超える採用実績とノウハウでオーダーメイド提案します…

当社はＵＡＣＪグループで「材料調達」から「製品完成」までを担う会社です。 電子部品や半導体製造のダイシングからワイヤーボンディング、モールドまで一連の工程で使用される治工具を様々なお客様へご提供しております。４０年に亘る【国内生産】の安定した品質・ワンストップ供給、蓄積してきたノウハウを用いお客様の困りごとに対してご提案させて頂きます。 【採用事例】 ・マガジンのコストダウン（組立タイプのマガジ...

メーカー・取り扱い企業： UACJグループ　泉メタル株式会社　

工場内設備の挙動を一括管理！バーチャル工程解析ツール

PR現場の生産システムに接続して稼働状態の可視化とPLCからのメッセージを…

生産設備の全ての稼働データを収集し、プロセス分析する情報基盤を構築でます。 ボトルネックを見つけたり、各設備・装置の運転状況を評価して、負荷度合いから依存度分析、リスクの低減や生産効率の改善に向けた指標を提供します。 複数のロボット間の予期せぬ衝突を検出したり、ロボットプログラムに内在しているインターロック動作の不具合を事前に分析するツールです。 仮想ロボットコントローラーと実機ロボ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テックスイートジャパン　（旧セニット・ジャパン）

不良発生を抑える！鋳造シミュレーションで欠陥の種類・箇所を予測！

好適な鋳造方案！不良発生率を限りなく抑えた高品質な鋳物造りを目指してい…

当社では『鋳造シミュレーション』を行っています。 鋳造シミュレーションソフトにて、事前に解析し、欠陥の種類・発生箇所・ 程度などを予測。 試作回数等の工程数を減らしつつ不良発生率を限りなく抑えた高品質な 鋳物造りを目指しています。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■好適な鋳造方案 ■鋳造シミュレーションソフトに...

メーカー・取り扱い企業： 前橋橋本合金株式会社 本社･工場

成分分析

クレームや工程トラブルに対し付着物、混入異物等の分析を行っております。

成分分析とは、製品における様々なクレームや工程トラブルに対し、高精度解析装置を導入し、製品トラブルの原因解析、品質管理のための分析など、テクノリサーチ業務を行っております。製品の付着物の分析や加工食品中の混入異物の分析、製品中の異物の分析などと...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社コーエキ

パワーサイクル試験（パワーモジュールの信頼性評価）

パワーサイクル試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で実…

【その他の特長】 ■破壊の初期状態を検知し、後工程となる故障解析が容易なサンプルの作製が可能 ■MOSFET、IGBT、SBD、FWDなど、全てのパワー半導体に対応可能 ■同時に16素子までの試験が可能（ただし、試験サンプル・試験条件による） ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

プラスチック成形品の歪、複屈折評価

複屈折位相差（歪）や流れ方向・応力方向（主軸方位）の視覚化が可能です！

射出成形法によるプラスチック成形品は樹脂の溶融、金型への充填、 冷却・保圧といった工程を経ていますが、これらの条件が適切でない場合、 内部に応力が残り（残留応力）、成形不良の原因となります。 二次元複屈折測定システムは、その応力の指標である複屈折位相差（歪）や 流れ方向・応...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

簡易測定を用いた各種の現場管理支援【活用マニュアルを進呈】

簡易測定を活用した現場管理ならお任せください

定技術の開発を行ってきました。また、多種の簡易測定技術やキットを現場管理等で利用し、メーカーとも連携しながら活用に関する情報発信を行ってきました。 簡易測定は上手く使いこなせれば、現場の安全管理や工程管理、製品品質管理、あるいは試験室でのスクリーニングなど判断の迅速化が可能となります。 弊所の知見を活用のポイントとして取りまとめた資料を作成いたしましたので、ご活用ください。 活用の支援が必要で...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社環境資源システム総合研究所

日邦産業（株）商事本部 設計機能のご紹介

お客様へより高い付加価値をご提供！「受託設計」なら日邦産業にお任せくだ…

広くお客様のニーズに対応させて頂く事を可能としています。 お客様へより高い付加価値を提供致しますので、お気軽にご相談ください。 【受託設計 項目（一部）】 ■VA/VE提案 　・量産工程治具設計製作／材料、形状、製法のご提案 ■製品・ユニット設計 　・製品デザイン／機構設計／樹脂化設計 ■試作ソリューション 　・rapid prototyping（3D 造形）／デザイン性、...

メーカー・取り扱い企業： 日邦産業株式会社

【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査

TOFーSIMSによる剥離面の汚染源の特定

ことで、剥離原因を調査することが可能です。 TOF-SIMSは有機物の構造を保ったままイオン化した二次イオンを検出し、剥離面に存在した成分が何由来なのかの情報を得ることができるため、剥離原因、及び工程の調査に有効です。 測定法：TOF-SIMS・ピーリング・解体 製品分野：LSI・メモリ・製造装置・部品 分析目的：化学結合状態評価・故障解析・不良解析 詳しくは資料をダウンロード、また...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】結晶Si太陽電池の不純物評価

金属元素および大気成分元素の極微量分析

結晶Si太陽電池の基板成長からセル形成までの各工程で必要とされている不純物量制御のための評価法として、高感度分析による元素濃度測定をご提案します。金属元素はppb以下、Hを含む大気成分元素についてはppm以下の濃度まで計測可能です。 測定法：SI...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】粘着シートによる電子部品の汚染評価

有機汚染の定性・定量・分布を複数手法の組み合わせで評価

半導体デバイスの製造工程では、ダイシング用テープなど様々な粘着シートが使用されます。粘着シートは異物・汚染の原因となることがあります。そこで、本事例ではTOF-SIMS・SWA-GC/MSを用いて複合 的に評価した結果を...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】緑茶中カテキンのLC/MS/MS分析

熱異性化体を含むカテキン8種類の一斉分析事例

中コレステロール低下作用等の機能が知られており、特定保健用食品（トクホ）に指定されています。天然の緑茶には4種類のカテキン（EC、EGC、ECG、EGCG）が含まれていますが、市販のお茶には加熱殺菌工程でそれぞれが熱異性化したカテキン（C、GC、CG、GCG）も多く含まれます。本資料では、市販の緑茶をLC/MS/MSで分析し、熱異性化体を含むカテキン8種の分離・定性を行った事例を紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】TDSによる銅板・はんだの同時加熱分析

部材同士を接触させ、実プロセスに近い環境での脱ガス評価が可能

はんだを用いた金属の接合は、エレクトロニクス分野において欠かすことのできない工程のひとつです。 金属とはんだが接触した状態で加熱した際の脱ガスは、ボイドの原因となることが知られています。 以下に、銅板にはんだを乗せた状態でTDS分析(昇温脱離ガス分析)を行った事例を紹介しま...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】有機成分洗浄効果の評価

300mmウェハをそのまま測定できます

TOF-SIMSには有機物、無機物を同時評価、微小領域に対応、最表面を感度よく分析できる、300mmウェハのまま評価可能という特徴があり、洗浄工程での残渣調査などに力を発揮します。 Si表面の有機汚染の除去効果の分析事例をご紹介します。XPSでアミン系有機物は極微量であることが確認されている試料について、TOF-SIMS分析を行いました。微...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】ウエハ表面の微小異物分析

加工無しで30nmサイズの組成分析が可能

AES分析は最表面から数nm深さまでの組成情報を得る手法であり、製造工程において表面に生じた汚染や異物の組成を調べる際に有効な分析です。基板などの母材の情報を検出することが少ないため、異物など異常箇所のみの情報を前処理加工などを行わず簡便に調べることが可能です。また面分...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】繊維の変色原因調査

繊維表面の有機・無機成分の評価が可能です

TOF-SIMSは、着目の箇所を局所的に分析し、得られる質量スペクトルにより元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできるため、各工程における異物・汚れ・変色の原因究明に非常に有効な手段です。また、イメージ分析も可能なため、有機物の分子情報の可視化も可能です。 本資料では、繊維製品であるクリーンスーツの変色の解析結果をまとめま...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶 Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが 知られています。 高分...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST