• 超音波スキャニング装置 製品画像

    超音波スキャニング装置

    PR超音波探傷器とデータ処理パソコンでの構成!探傷条件の設定、結果の保存、…

    『超音波スキャニング装置』は、対象ワーク内の欠陥を全没水侵にて検出し、 リアルタイムでデータ収録・画像処理する自動超音波探傷装置です。 検査は、位置情報を基に超音波信号を画像処理し、平面図、 断面図に展開して欠陥の位置、形状をモニタに表示。 内部欠陥、肉厚(厚み)測定、溶接接合部、スパッタ材・ターゲット材などの内部・接合検査など色々な検査に使用できます。 検査結果画像は評価方法に合わせた色表...

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    メーカー・取り扱い企業: 有限会社エヌ・ケイ・システム

  • 超高画素 2億5000万画素/1億2700万画素 CXPカメラ 製品画像

    超高画素 2億5000万画素/1億2700万画素 CXPカメラ

    PR超高画素カメラによる広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好…

    Sony社製 CMOSセンサ(Pregius IMX661/3.6型)を搭載した、1億2700万画素のCoaXPressカメラ「VCC-127CXP6」と、Canon社製CMOSセンサ(Ll8020SAM/APS-H型)を搭載した、2億5000万画素のCoaXPressカメラ「VCC-250CXP1」。どちらも超高解像度を誇り、各種外観検査(液晶・基板・半導体ウエハ・建築物等の欠陥/異物/形状)、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス

  • 自動テーピング装置 Hexa EVO+ 製品画像

    自動テーピング装置 Hexa EVO+

    Hexa EVO+は半導体ICのパッケージの表裏側面を検査し、テーピン…

    Hexa EVO+は半導体ICのパッケージの表裏側面やボールアレイ、リードなどの3Dの外観欠陥も検査し、自動梱包するダイ、ICソータ、ハンドラ外観検査装置になります。 多様な検査項目と様々なパッケージに対応することが可能です。 【特長】 ● 100mm以下のパッケージの外観検査 ● スループット、90,000 uph ● デュアルテーピング出力対応 ● 自動位置補正 ● 欠陥部品...

    メーカー・取り扱い企業: CCTECH Japan CCTECH Japan(株)-  日本法人

  • 自動テーピング装置 AT468 製品画像

    自動テーピング装置 AT468

    半導体、ダイ、パッケージソーター。チューブ、トレイ、テーピング/リール…

    、ボールフィーダー、テーピング/リール対応 ● 対応パッケージ:SOIC,QFN、TSSOP、MEMS等 ● 検査項目  〇 銅などがむき出しになっているリード欠陥  〇 マーキング、外観欠陥検査  〇 2台のカメラによる5面、2D/3Dリード、パッド検査  〇 表裏外観検査  〇 装置内8か所のテストサイト...

    メーカー・取り扱い企業: CCTECH Japan CCTECH Japan(株)-  日本法人

  • コインスタック梱包・開梱装置『PT150/200/300』 製品画像

    コインスタック梱包・開梱装置『PT150/200/300』

    クリーン度はClass10対応!薄型ウェハー対応のコインスタック梱包・…

    ー間の保護紙、フィルムなど)に対応します。 【特長】 ■薄型ウェハー対応 ■メーカーを問わず、多種コインスタック(横置き)梱包ボックス、  インサートに対応 ■グラインダー、分析計、欠陥検査装置へのコインスタックローダー、  アンローダーとしての仕様も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: デリクソンテクノロジージャパン株式会社

  • 外観検査 テーピング装置、tSort 製品画像

    外観検査 テーピング装置、tSort

    ダイシング後のウェハーからダイを取り出し、ダイの検査をしながらテープ/…

    tSortは切り込みウェハー/フィルムフレームからダイを取り出し、ダイの検査をしながらテープ/リールに移し替える半導体ソーター装置になります。 可視光と赤外光の検査が可能です。 【特長】 ● 8”、12”、切り込みウェハー/フィルムフレーム(WLCSP,BGA,eWLB、QFN、COGなど) ● テーピング、JEDEC/キャニスタ対応 ● スループット:40,000 pph ● 検...

    メーカー・取り扱い企業: CCTECH Japan CCTECH Japan(株)-  日本法人

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