• 管路曲り測定装置  孔曲り測定 削孔曲り測定 レンタルOK 製品画像

    管路曲り測定装置 孔曲り測定 削孔曲り測定 レンタルOK

    PRアンカー工事、地盤改良工事等のボーリング孔の曲り測定や埋設管(水道、通…

    『NEMONAVI』は、管路内にセンサーユニットを通すことにより、管路の真直度や位置を測定することができる装置です。 主にアンカー工事で地中に挿入埋設された外管の真直度の計測や、埋設物直下での自在ボーリング工法のロッドの位置計測に使われています。 ~デモンストレーション(無償)ご希望される方はご連絡下さるか、カタログをダウンロード下さいませ!~ 【特長】 ◎測定の開始から...

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    メーカー・取り扱い企業: 根本企画工業株式会社

  • 品質管理・保守向け。1から学ぶ計測器・測定器の『校正 基礎知識』 製品画像

    品質管理・保守向け。1から学ぶ計測器・測定器の『校正 基礎知識』

    PR今更聞けない「校正の基礎」を解説。校正とは?成立条件?なぜ必要?トレー…

    「ものづくり」の品質管理には、それに関わる機器の”校正”が必須です。 では、そもそも校正とは何?成立条件は?資格や校正周期は?トレーサビリティって何?など、 意味やルールを正しく理解していないと、正しい「校正」はできません。 ここでは「ものづくり」で避けて通れない「校正」についてまとめた資料を進呈中です。 後半では温湿度計・板厚計の校正事例や、校正や計測・測定関連の基礎用語も掲載しています。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社レックス

  • [TOC]全有機体炭素測定 製品画像

    [TOC]全有機体炭素測定

    TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量(IC:を…

    nic Carbon)、無機体炭素量(IC:Inorganic Carbon)を評価することができる装置です。 ・有機成分含有量を全有機炭素量(TOC)として評価可能 ・液体試料と固体試料の測定が可能 ・全炭素量(TC:Total Carbon)、無機体炭素量(IC:Inorganic Carbon)の測定が可能...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    [RBS]ラザフォード後方散乱分析法

    固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱され…

    RBSは固体試料にイオンビーム(H+,He++)を照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱されてくるイオンのエネルギーおよび強度を測定する手法です。 散乱されたHeイオンの運動エネルギーを測定し、衝突した原子の質量数を調べることで分析サンプルの成分や層構造を評価することができます。 また、固体試料にHeイオンを入射して前方...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    [XRF]蛍光X線分析法

    照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光する…

    蛍光X線分析(XRF: X‐ray Fluorescence)は照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です。 ・測定範囲の全エネルギー(Na~U)が同時に短時間で測定可能 ・未知試料の分析に適している ・非破壊分析 ・特殊な試料を除き、前処理不要、大気中での分析が手軽に行える ・ハンドヘルド型の装置で動か...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    [PL]フォトルミネッセンス法

    PL:PhotoLuminescence

    発光スペクトルから、様々な情報を得ることが可能です。 ・バンドギャップ約3.5eVまでのサンプルを励起することが可能 ・マッピング機能により、広範囲の情報を得ることが可能 ・約10Kまでの測定が可能 ・一般的に非破壊の測定であり、特殊な前処理が不要 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [TDS]昇温脱離ガス分析法 製品画像

    [TDS]昇温脱離ガス分析法

    真空加熱/昇温により発生したガスを温度毎にモニターできる質量分析法。水…

    ■加熱部 試料をステージ上に置き、ステージ下部から赤外線を照射することにより試料を加熱します。 温度制御は、ステージ側にある熱電対にて行ないます。試料上部側の熱電対により試料表面側の温度を測定することも可能です。 ■質量分析部 加熱により発生したガスは加速した電子の衝突よりプラスイオン化され、質量電荷比に応じて分離されます。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    [C-SAM]超音波顕微鏡法

    C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です…

    表面だけでなく、表面下の内部構造も非破壊で観察する事が可能です。空気との界面での反射が大きいことから、電子部品のパッケージ内部などに存在する空隙やクラックを高感度で観察できます。空隙箇所の判定は、各測定箇所における超音波の反射波形から判定します。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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