【無料トライアル公開中】NCマクロ作成検証を劇的に効率化する方法

PRもっと早く知っていれば良かった…というお声多数。無料トライアルで今スグ…

【　NCマクロプログラムで、こんなお悩みはありませんか？　】 　●プログラム編集画面だけでは動作が確認できず不安… 　●マクロの前任者が退職してしまい、詳細な検証ができない… 　●以前からあるマクロを応用したいが、どう調整すべきかわからない… ⇒これらのお悩み、工作機械NCシミュレータNCVIEWのデバッグ機能『マクロデバッガ』が解決します！ ＊マクロデバッガとは？ https://www.c...

メーカー・取り扱い企業： シンプルテック株式会社

【治具導入事例集資料】組立作業バラつきと品質安定化の改善

PR「ポカヨケ」や組立作業の簡素化、加工後の変化の確認など様々な用途の治具…

当社の様々な「治具」を導入した事例集をご紹介します。 【導入内容】 ・作業の簡素化 ・製品を固定し、作業の安定性の向上 ・製品の加工後に起こる寸法や形状の変化の確認 ・組付け対象部品側でピッキングランプの点灯 ・ピッキングのレバースイッチによる数量カウント 【作業の注意点】 ■工程設計の見直しが発生する場合があります。 ■サイクルタイムによって必要台数の検討 ■作業スケ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社イーズ 本社

クリーンチェックライト「クオンタム」

作業工程のゴミ・ブツを簡単視認！持ち歩き便利なホコリがみえるスーパーラ…

「クオンタム」は作業工程での粗大粒子（ゴミ・異物）や製品の傷を、簡単に目視で確認できるようになります。バッテリー内臓でコンパクトなので気軽に持ち歩け、必要なときにすぐに使うことができます。 ※2022年4月よりクオンタムグリーンの販売を終了し、ホワイト光・グリーン光両色を...

メーカー・取り扱い企業： NCC株式会社

マップフレーム用　レーザーマーキング装置　『MK621』

マップフレーム対応　レーザーマーキング装置

トマガジン 　　スタックマガジンローダー　アンローダー　　　各　１マガジン 　　スリットマガジンローダーアンローダー　　各2マガジン 多品種に対応可能。 画像構成上方向　または　下方向からの確認位置確認　品種確認　 上方向からの確認マーク確認...

メーカー・取り扱い企業： 綜和機電株式会社

解析支援サービス(断面解析)

製品構造確認など幅広いニーズに対応！不良品解析に役立つサービスをご紹介

当社では、半導体素子実装状態の確認や不良品解析に役立つ、 「解析支援サービス(断面解析)」を行っております。 半導体素子などの接合部評価、封止品の内部確認、製品構造確認など、 幅広いニーズに対応。 また、当社の他のサ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社佐用精機製作所

アバランシェ試験/連続アバランシェ試験

パワー半導体の定格限界での信頼性評価や、定格オーバー条件でパワー半導体…

当社で行う『アバランシェ試験/連続アバランシェ試験』をご紹介いたします。 Tj(接合温度)をリアルタイムに測定しながら、エンジンルームなど 実使用に近い環境下で挙動を確認可能。 また、独自開発した水冷制御システムを用いて、試験中に発生する熱を 冷却しながら、連続で試験を行うことにより、アバランシェ耐性を 確認する事も可能です。 【特長】 ■シングル...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

2500万画素、150fpsの高速カメラ

2500万画素、150fpsの高速フレームレートの小型CoaXPres…

液晶・基板・半導体ウェハなどの外観検査用途、計測やロボットビジョン、ドローン搭載、研究・観察など長距離伝送を要する用途に好適です。 NIR(近赤外)モデルは、果物の打痕、不透明な容器内の容量確認、サングラスの下の顔貌確認等、可視光下では検知できないものの検査用途への応用が期待されます。 【特長】 ■2500万画素・最大150fps高速出力に対応 ■グローバルシャッタ方式、CMOS...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

最大2100万画素 SWIRカメラ

高画素(5M・12M・21M)SWIR帯域の撮影や各種検査用途に応用可…

の違いにより異なる色に映り、素材や内容物の違いを判別。 ■液体の種類により光を吸収/透過するので、内容物の有無や量、異物の混在を判別。 ■ボトルのラベルや、プラスチックの菓子袋を透過して内容物を確認。 ■葉脈や果物の打痕が強調して見えるようになり、鮮度確認や品質検査に有効。 これまではSXGA解像度の”VCC-SXCXP1SW”をご用意していましたが、この度、最大21Mの高解像度な画素...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

gds2streamViewer GDS2ストリームデータ表示プログラム

低価格レイアウト高速ビューア　半導体／液晶設計データ検証用

使用頻度の高いレイアウト設計CADプログラムを使用せずに、確認作業が行え、マスクデータ検証時に従来プロッター出力していたものを身近にあるPCマシン上で確認ができる為、プロセス⇔設計間のペーパレス化が可能です。会議にて使用するドキュメントの作成、又はノートパソコ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アストロン

設計データを高速表示するプログラム

低価格レイアウトビューア　液晶／半導体設計、検証用

使用頻度の高いレイアウト設計CADプログラムを使用せずに、確認作業が行え、マスクデータ検証時に従来プロッター出力していたものを身近にあるPCマシン上で確認ができる為、プロセス⇔設計間のペーパレス化が可能です。会議にて使用するドキュメントの作成、又はノートパソコ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アストロン

レーザーマークハンドラー『MK625』

半導体フレームへレーザーマークする装置。独自のグリップ搬送機構により、…

『MK625』は、工具不要の簡単なパーツ交換で多数の品種に対応可能な レーザーマークハンドラーです。 マガジンに収納されるICストリップフレームを一枚ずつ取り出し、方向、 表裏の確認後レーザーマーキングし、マーク確認の後マガジンへ収納します。 各種レーザー発振器を搭載でき、マーキング前のフレーム方向、表裏確認機構を 標準装備しております。 【特長】 ■簡単なパー...

メーカー・取り扱い企業： 綜和機電株式会社

パワーサイクル試験：空冷システム

恒温槽を使用することで、より強い付加を加える事が可能！信頼性試験をご紹…

繰り返すことで、IGBT等パワー半導体に熱ストレスを与える試験です。 恒温槽を使用することで、さらに強制的な冷却が行えるため、より強い 付加を加える事が可能。試験期間の短縮や高い信頼性の確認ができます。 関連リンクでは、試験条件事例や、空冷パワーサイクル Tj温度制御事例 について画像付きでご紹介しておりますので、ぜひご覧ください。 【パワーサイクル試験原理】 ■試験期...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価

STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜…

●STEM観察によりPoly-Siおよび絶縁膜の形状に異常が無いことが確認可能 ●EDS分析によりPoly-Si間の絶縁膜(Si酸化膜-Si窒化膜-Si酸化膜)の層構造も問題ないことが確認可能 ★詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

遠隔作業⽀援・録画システム「アイちゃん」プロフェッショナル版！

国⼟交通省「建設現場における遠隔臨場の試⾏⽅針」基準をクリア 遠隔作…

o.jp/apc-aichanlp/ ◼︎⾼解像度・強⼒な⼿ブレ補正機能付きウェアラブルカメラ搭載 　現場作業者⽬線の映像が 1280pix×720pix の⾼解像度※1 でリアルタイムに確認可能。強⼒⼿ブレ防⽌機能を搭載した Xacti 社のウェアラブルカメラを標準装備。 ◼︎国⼟交通省「建設現場における遠隔臨場の試⾏⽅針」基準クリア 　国⼟交通省が定めた「建設現場における遠隔臨場...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社APC

ＩＣ.プログラマー　LP-456

『台湾・リープ社』製、世界の主要半導体メーカーから認定を受けたICプロ…

４個の独立したピンドライバーを１ユニットに装備したプログラマーです。 DUTは75MHzの帯域幅で、信号スキューは±2.5nS以下です。 高速処理に加えて処理周波数が仕様を満たしているかどうかを確認することができます。 高速処理に加えて、動作中のデバイスがそれぞれの仕様を満たしているかどうかを確認することができます。 ハンズフリー操作を提供します。 オペレータが終了したデバイスを入れ替え...

メーカー・取り扱い企業： 三友電子工業株式会社

非接触式シート抵抗測定機『LEI-1510シリーズ』

広い範囲で優れた測定直線性！三次元グラフィックマップとしてPCモニター…

よる再現性の問題を解決 ■多数枚を迅速に計測処理する事が可能 ■0.035～3200ohm／sq.という広い範囲で優れた測定直線性 ■計測データを三次元グラフィックマップとしてPCモニター上で確認可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

結晶欠陥検査装置『EnVision』

非破壊/非接触！nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリン…

ミクロン）と密度（E6～E10/cm3）の両方で ハイダイナミックレンジを提供。 ウェハー深さ方向の検出感度を大幅に向上させ、幅広い密度とアプリケーションを カバーすることで、表面近傍では確認ができない深さ方向の応力起因転位欠陥の 検出感度を、従来の手法よりも大幅に向上させています。 【特長】 ■非破壊/非接触 ■従来の検査装置では確認できない欠陥を可視化 ■対象領域：活性...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社