『粉体・液体プラントの総合エンジニアリング』

PR作業負担の軽減、混合時間の短縮など様々な課題を解決。改善事例を掲載した…

当社では、設計から施工・管理、機器・部品の製造、販売までカバーする 『粉体・液体プラントの総合エンジニアリング』を行っています。 在庫管理システムと連携し、多品種の原料を自動で計量・供給するシステムや、 新しい素材や付加価値の高い原料の処理工程など、 様々なプラント設備の設計・施工が可能です。 ★当社による粉体設備の改善事例を掲載した資料を進呈中。 　詳細は「PDFダウンロード...

メーカー・取り扱い企業： アクトシステムエンジニアリング株式会社

検査・点検システム『See-Note』【図面上で検査・点検！】

PR図面上から検査・点検が可能に！図面とチェック項目の組み合わせで、点検・…

「See-Note」は、スマホ・タブレットを利用して検査・点検を行うシステム です。現場で紙に手書きで行っている点検業務を簡単に電子化できます。 従来はチェック項目一覧から選択し点検・検査を行う必要がありましたが、 図面上から検査・点検が行えるようになりました。図面とチェック項目を の組み合わせにより、点検・検査箇所が格段に分かり易くなります。 【特長】 ■スマホ・タブレットを利用...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＳＡＹコンピュータ

X線マイクロCTシステム『TESCAN UniTOM XL』

幅広い試料やアプリケーションに柔軟に対応！高速・マルチスケールシステム

『TESCAN UniTOM XL』は、複数の解像度でイメージング可能な X線マイクロCTシステムです。 高スループットイメージングや多様なサンプルタイプにも適用。 エネルギー変換・貯蔵や製薬、民生品とその包装など様々な分野の 材料研究・故障解析・品質保証に用いることができます。 【特長】 ■高スループット ■高い柔軟性を有するイメージング機能 ■その場観察/ダイナミッ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東陽テクニカ 慶應義塾大学理工学部中央試験所・ 東陽テクニカ産学連携室 ナノイメージングセンター

原子間力顕微鏡『LiteScope 2.0』

SEMとAFMを組み合わせた相関分析！材料表面の理解がより深化

『LiteScope 2.0』は、走査電子顕微鏡に容易に統合可能な 原子間力顕微鏡です。 SEMへの搭載は容易ですぐに使用可能、かつスタンドアロンAFM としても利用可能。 FIB、GIS、EDSやその他一般的なSEMアクセサリにも互換性が あります。 【特長】 ■SEMの機能拡張 ■非常に精密な相関イメージング ■迅速かつ容易な関心領域への位置合わせ ■サンプル汚...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東陽テクニカ 慶應義塾大学理工学部中央試験所・ 東陽テクニカ産学連携室 ナノイメージングセンター