• 【検査・研究・産業用】X線遮蔽防護BOX※組立式も可 製品画像

    【検査・研究・産業用】X線遮蔽防護BOX※組立式も可

    PR非破壊検査・X線検査等の装置製造・利用・研究ごとの目的に合わせた遮蔽ボ…

    当社では、病院・企業様向けのエックス線防護BOX(X線防護BOX)や X線装置を操作する作業従事者の安全を守る工業用防護衝立の 製作から設置までを自社で一貫生産、一貫管理で行っています。 基本的には装置とセットになっているX線遮蔽・防護箱ですが、 用途によっては既設の遮蔽ボックスでは対応ができず、困られたことはあるかと思います。 当社では、非破壊検査・X線検査等の装置の研究・製造場面や装置を利...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社高橋興業

  • 品質管理・保守向け。1から学ぶ計測器・測定器の『校正 基礎知識』 製品画像

    品質管理・保守向け。1から学ぶ計測器・測定器の『校正 基礎知識』

    PR今更聞けない「校正の基礎」を解説。校正とは?成立条件?なぜ必要?トレー…

    「ものづくり」の品質管理には、それに関わる機器の”校正”が必須です。 では、そもそも校正とは何?成立条件は?資格や校正周期は?トレーサビリティって何?など、 意味やルールを正しく理解していないと、正しい「校正」はできません。 ここでは「ものづくり」で避けて通れない「校正」についてまとめた資料を進呈中です。 後半では温湿度計・板厚計の校正事例や、校正や計測・測定関連の基礎用語も掲載しています。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社レックス

  • 非破壊解析技術 3D-CSAM 製品画像

    非破壊解析技術 3D-CSAM

    現象を把握し、解析精度を向上!高さ情報を確認し不具合箇所の詳細を確認

    当社で行っている「非破壊解析技術 3D-CSAM」についてご紹介いたします。 周波数分解機能および3D-CSAM機能により、現象を把握し、解析精度を向上。 超音波による解析は、広めにゲート範囲を設定して、波形およ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D) 製品画像

    非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D)

    2次元像が標準的ですが、より視覚的・立体的に状態を捉えるために3次元化…

    非破壊解析技術である「C-SAM(2D~3D)」についてご紹介いたします。 超音波顕微鏡では、主にA-Scanデータを基にして、外観上では確認できない 内部領域の空隙やクラック等の有無を評価しています。 検出データを選択的に用いて画像化できるため、対象の界面情報のみを抽出 できる点がメリット。取得した異物質界面での反射波(A-Scanデータ)を 時間分離することで任意界面の空隙やクラッ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 超音波顕微鏡(原理と特長)のご紹介 製品画像

    超音波顕微鏡(原理と特長)のご紹介

    超音波の性質を顕微鏡の観点から言えば、分解能の良い計測が可能なことを意…

    クオルテックでは、いずれの方式も対応が可能ですが、実用性の面から反射型を用いる場合が多いです。 【観察の特長】 ■試料の光学的な性質に左右されず、試料表面だけでなく、表面下の内部構造も非破壊で観察する事が可能 ■空気中の界面での反射が大きいことから、パッケージなどの空隙やクラックを高感度で観察できます。  また、異常箇所(空隙など)の判定は、各箇所における超音波の反射波の形状から...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 解析技術:静電気破壊 製品画像

    解析技術:静電気破壊

    SiC-MOSFET/ロックイン発熱解析/プラズマFIBの活用!IR-…

    当社で行った「静電気破壊」の故障解析をご紹介いたします。 破壊したサンプルの外観観察、及び非破壊検査においては異常は確認 されず、このことから、故障規模が微小であることを推察。レーザーと 薬液開封によりSiCチップを露出し、LITによる発熱解析を行うことで 微小な故障箇所を絞り込みまし...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ロックイン発熱解析装置『ELITE』 製品画像

    ロックイン発熱解析装置『ELITE』

    半導体単体から、モジュール、実装基板など幅広い製品の観察が可能!

    ラにより、大きな基板等のサンプルでも 解析可能。 また基板解析の経験は豊富にございますので、その経験を基に不良箇所の 特定や、断面解析による原因特定にも対応します。 【特長】 ■非破壊で不良解析ができ、サンプル加工などによる故障箇所喪失リスクがない ■半導体単体から、モジュール、実装基板など幅広い製品の観察が可能 ■一般的なマニュアル検査に比較して不良特定率が向上 ■赤外...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【故障解析事例】アバランシェ破壊の再現実験 製品画像

    【故障解析事例】アバランシェ破壊の再現実験

    内部に空洞が形成!Al電極、はんだを溶かした様子が確認できた事例をご紹…

    果、内部に空洞が形成され、Al電極、はんだを溶かした 様子が確認できました。 【事例概要】 ■再現実験サンプル ・RC-IGBT(Reverse-Conducting IGBT) ■非破壊解析 ・X線観察、超音波探傷 ■詳細解析 ・断面研磨、FE-SEM、EDS ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

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