法令違反にならない磁界測定器【新JIS規格に適合】

PRボタン1つで簡単に電力設備周りの磁界を高精度で測定でき、軽量かつ片手で…

3次元磁界測定器TMM-3は、電力設備等から発生する磁界の強度を計測できるポータブル測定器です。電気設備に関する技術基準を定める省令では、JISに適合した測定器で測定することを要求しています。そのJIS規格が、2017年にJIS C 1910-1に置き換えられたこと受け、新JISに対応するTMM-3を開発しました。2024年内に販売予定です。 このような方にオススメです！ ・電気設備を法令...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社電力テクノシステムズ

アルマイトなのに電気が通る！ 独自開発『導電アルマイト』

PRアルミの表面処理をしても電磁波シールド性と導電性を保持！硬さ、耐摩耗性…

電気は通したい…けど、マスキングは手間とコストがかかる…とお悩みの方は必見！ ☆当製品『導電マイト』は、マスキングなしで通電可☆ 導電性を必要とする部品や電磁波シールド性が必要な部品などお使いいただける電気が通るアルマイトです。 アルミニウム展伸材のみならず、鋳物やアルミダイカストにも対応できます！ 導電アルマイトは、「シールド効果」をはじめ、「カラー対応」「耐摩耗性」「帯電防...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アート１

車両基礎特性測定装置（K&Cテスター） 受託試験

サスペンション及びステアリング系のパラメータを台上測定受託試験。各種シ…

オートマックスは、サスペンション及びステアリング系のパラメータを台上で測定する『車両基礎特性測定装置（K＆Cテスター）』のメーカーであり、この度、本装置を弊社福島工場に新設し、受託試験サービスも開始いたしました。 シミュレーション精度は、モデルの精度に左右されます。 本装置は、その中でも重要なパラメータを測定することができる装置です。 【試験内容】 （1）目的・用途 　■サスペン...

メーカー・取り扱い企業： オートマックス株式会社 本社・工場

トリビュート5Gドングル・無線ネットワークの評価解析サポート

お客様のローカル5G環境の構築および検証、導入に貢献致します。

CREATIVE 5が提供する「トリビュート5Gドングル」は専用ドライバや設定を行わずにセットアップが可能な為、5Gを用いた開発の工数を抑えることが可能です。端末を5G化することにより、新たなソリューション/ビジネスを実現します。 ラズベリーパイ等のLinuxシステム端末にも対応しているため、パソコンだけでなく、組み込みシステムやサーバにも使用できます。 87.5 × 38.9 × 21 mm...

メーカー・取り扱い企業： 伯東株式会社 本社

NMR分析サービス

NMRで有機物から無機物まで、組成や分子構造を幅広く分析！ 検討から…

【分析事例】 ・電池/半導体：電解液の溶液 NMR や大気非曝露での多核・固体 NMR 測定 ・樹脂/ポリマー：樹脂成分やポリマーの組成・劣化解析が可能 ・食品/環境：食品・サプリメント中の成分の定量や劣化状態の分析 ・医薬/バイオ：薬物と受容体の相互作用の有無や強弱の測定が可能...○感度良く分析できます！ ・共鳴周波数600MHz (1H) での高感度測定により、不純物レベルでの分析...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【DL可：XPS/AES/GD-OES】表面分析に関する事例集1

Niめっきの膜厚や濃度測定、表面汚染レベル測定などXPS、AES、GD…

当事例集では、『表面分析』にかかる事例をご紹介します。 「めっき基板の洗浄評価（GD-OES測定）」の目的や手法と結果をはじめ、 「XPSによる表面汚染分析」の特長や分析事例、「鉄サビの分析 （ラマン分光分析）」の特長や分析事例など多数掲載。 他にも、解析結果や状態解析、組成測定などご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■めっき基板の洗浄評価（GD-...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【分析事例】半導体基板中軽元素の高感度分析

SIMS分析によりH, C, N, O, Fなどを1ppm以下まで評価…

他手法では評価が難しい半導体基板中のH,C,N,Oを1ppm(約5E16atoms/cm3)以下まで、Fを1ppb(約5E13atoms/cm3)以下の濃度まで検出可能です。実際のFZ-Si中における測定例（図1）とIII-V族半導体のバックグラウンドレベルを紹介します（表2）。III-V族半導体以外にも、金属膜・絶縁膜など各種材料で標準試料をとりえ揃えており、高感度な定量分析が可能です。半導体基...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】天然物の構造解析

13C-13C INADEQUATE測定により、13C-13Cの相関を…

13C-13C INADEQUATE測定は、13C-13Cの相関を直接観測する手法であり、 水素が結合していない炭素同士の繋がりを明らかにできる利点があります。 しかし、13Cの天然存在比が約1%であるため、13Cの隣に13Cが結合する確率は 約0.01%となり、多くの試料および長時間を要するといった弱点があります。 ここでは、クライオプローブ付き 700MHz NMRにより、天然...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社カネカテクノリサーチ 本社、東京営業所、名古屋営業所、大阪分析センター、高砂分析センター

故障劣化予知診断　高調波を使用して電気設備の不具合箇所を特定！

2次から40次までの高調波を使用して診断！　モーター、機械、インバータ…

日本メカトロン株式会社は、計測、制御システムの開発を手がけ、 お客様に満足いただけるシステムをご提案させていただきます。 弊社の『故障劣化予知診断』は、高調波診断で行う予知保全システムです。 10年以上3万台以上の設備を測定　→　分解して検証した件を 設備機器の劣化箇所・劣化度合と強調は成分に高い相関関係を見出しました。 高調波診断(KS-2000)により、モーター、機械、インバ...

メーカー・取り扱い企業： 日本メカトロン株式会社 大阪事業所

【分析事例】XPSによるDLCの評価

C1s波形解析を使用したsp2/(sp2+sp3)比の評価

高硬度・高耐摩耗性等の特長から、幅広い分野で活用されてるDLC（ダイヤモンドライクカーボン）膜は、グラファイトとダイヤモンドの中間に位置した材料であり、膜中のsp2（グラファイト構造）とsp3（ダイヤモンド構造）を分離して求められるsp2/(sp2+sp3)比は、膜の特性を決定する重要な要因の一つとなります。 このsp2/(sp2+sp3)比について、XPSのC1sスペクトルを波形解析することで...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

スポット利用ができるAI画像解析サービスAiias

AIの知識や、アノテーション作業などは不要！ AIを活用した画像解析…

当社では、画像から得られる情報を可視化し、お客様だけの 「画像解析ソリューション」をご提案しております。 今回ご紹介させていただくAI画像解析サービスAiiasはスポットでの利用が可能です。 対象の画像を当社に送付いただくだけで、AIを活用した最先端の画像解析によるデータの「見える化」ができます。 サービスフロー 1.打合せ　：対象画像の確認、要望のヒアリングを行います ↓...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社メディノス

顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析

顕微ラマンを用いることにより微細な範囲(1μm～)の結晶化度評価が可能…

株式会社アイテスでは、分析解析・信頼性評価サービス「顕微ラマンによる 樹脂材料結晶化度分析」を行っております。 顕微ラマン分光光度計によって得られるスペクトルから、ピークの半値幅の 違いにより、微細な範囲で樹脂材料の結晶化度を求めることが可能。 PETボトル飲み口からボトル本体にかけての結晶化度変化を調べた 分析事例もございます。分析解析・信頼性評価は当社におまかせください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【機器の健康診断】機器の状態監視で故障の予知保全を確認しませんか

インバーターの突然の故障原因を事前にキャッチ！急な設備トラブルを回避し…

設備機器でこんな事に困ってませんか？ ・稼働を止めれない設備機器の故障に困っている… ・定期的な点検が難しい機器の保全に困っている… ・点検箇所が多く工数や費用が掛かり困っている… ・設備保全担当が高齢化し、技術者がいなくて困っている… ・効率的な点検で最終的には遠隔監視をしたが難しい… 弊社の『故障劣化予知診断』は設備機器の困りごとを全て解決！ 10年以上3万台以上の設備を測定...

メーカー・取り扱い企業： 日本メカトロン株式会社 大阪事業所

EELS分析手法による膜質評価

元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です！

当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 EELS分析とEDS分析は、TEM試料に加速した電子を照射することで 元素同定を行う分析手法です。 「異なるカーボン膜」の事例では、状態分析が特長である EELS分析手法を用いてナノ領域での膜質評価を行いました。 EDS分析ではスペクトルの比較からBottom膜のみN,Oを微量に検出。 EELS分析では2つの...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

高調波簡易診断

異常・劣化が診断可能！設備機器の困りごとを解決いたします

当社の故障劣化予知診断では、『高調波簡易診断』が可能です。 測定対象はモーター、機械。異常・劣化が診断できます。 診断対象は(A・B1・B2・B3・C)の5段階診断です。 また、電流不平衡・負荷モードも測定基準に含み、 モーターから一番近い制御盤で測定します。 【測定対象 モーター部】 ■回転軸・軸受・据付 ■巻線の絶縁・振動 ■軸受・ハウジングの損傷 ■エアギャップ...

メーカー・取り扱い企業： 日本メカトロン株式会社 大阪事業所

【分析事例】TDSによるSiN膜の昇温脱離ガス分析

薄膜の表面吸着ガス、膜中からの脱離ガスを評価可能

Si基板上SiN膜に関するTDS分析結果を示します。 100℃近傍までの低温域では脱ガスが少なく、試料の表面に吸着成分が少なかったことが分かります。 一方、試料の温度が上昇するに従い、m/z 2（H2）、m/z 18（H2O）、m/z 27（C2H3：有機物のフラグメント成分）が脱離しているのが分かります。高真空下（1E-7Pa）で分析を行うTDSは膜表面の吸着ガス成分や膜中の微量ガス成分の評...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】燃料電池等の窒素ドープカーボン材料窒素の置換位置評価

ケミカルシフトを利用して窒素の置換位置の同定や定量的な分離が可能です

燃料電池の電極触媒であるPtに替わる材料として、窒素（N）原子を導入したカーボン材料が注目を集めており、その触媒活性にはカーボン材料中に存在するNの置換位置が大きく関わっています。XPS分析では、Nの結合状態や置換位置の違いによりケミカルシフトが生じるN1sスペクトルの評価を行うことで、Nがどの位置のCと置換されたのかの同定や定量的な分離が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SXES］軟X線発光分光法

SXESは、物質から発光される軟X線を用いて化学結合状態を評価する手法…

・試料中の特定元素（特にB,C,N,O等の軽元素）に着目した化学結合状態の評価が可能 ・スペクトル形状は価電子帯における着目元素の部分状態密度を反映 ・X線吸収スペクトル（XAS）との同時測定によってバンド構造の評価も可能 ・バルクの情報が得られるため、表面近傍数nmの影響を受けにくい ・絶縁物に対しても帯電の影響を受けずに評価が可能 ・検出下限が低く（＜1atomic%）、微量成分であ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

熱分解 GC/MS法による製品の発生ガス定性分析

高度な分析と”考察力”でお客様の問題解決！製品の発生ガス定性分析

製品の製造には、焼成や乾燥などの加熱工程が存在します。どの温度帯で どんなガスが発生するか分析することにより、発生ガスの対策につなげます。 「EGA分析」とは、Evolved Gas Analysisの略で、専用のカップに入れた試料を、 加熱炉の付いた専用装置に投入して力加熱し、発生したガスを直接GC-MSに導入します。 得られたデータは、サーモグラムと呼び、ピーク強度はその温度で発生...

メーカー・取り扱い企業： イビデンエンジニアリング株式会社 環境技術事業部

【資料】CELLCYTE Xによるアプリケーション解析の例

簡単なmix-and-readワークフローを掲載！アポトーシスや生細胞…

当資料では、細胞培養実験からの洞察を最大化するための高い ソリューション『CELLCYTE X』によるアプリケーション解析の例を ご紹介しています。 「CELLCYTE Xのシンプルなワークフロー」ではSTEP1からSTEP5までを掲載。 写真や図を用いて分かりやすく解説しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■C.LIVE Tox試薬による細胞毒性アッセイ...

メーカー・取り扱い企業： セルインク株式会社

【分析事例】SiC中ドーパント元素の深さ方向分析1

SiC中B,Al,N,P,Asについて、高感度で深さ方向分布の評価が可…

SiCはその物性からパワーデバイス材料として用いられていますが、Siとは異なりイオン注入後の熱処理によるドーパントの拡散が困難なため、多段イオン注入により深さ方向への分布を制御する必要があります。SIMS分析は高感度（ｐｐｍ以下）で深さ方向の不純物濃度を評価することができるため、SiC中のドーパント元素の分布評価に適しています。また、軽元素（H,C,O,Fなど）の分布についても評価可能です。評価し...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価

低加速STEM観察とEELS測定による有機材料の分布状態評価

低加速STEM観察とSTEM-EELS面分析により、バルクへテロ接合型太陽電池の活性層の混合状態の評価を行いました。評価にはITO上に活性層のみを成膜した試料を用いました。 低加速STEM像（写真1）のコントラストはSTEM-EELS像のS, Cの元素分布(写真2, 3)と対応しており、バルクヘテロ構造を反映していることが確認できました。また、Sの分布に偏りが認められ、表面側にP3HTが偏析して...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】軟X線発光分光によるGaNの評価

価電子帯・ギャップ内準位について元素別の情報が得られます

放射光を用いた軟X線発光分光（SXES）は材料を構成する各元素について、フェルミ準位近傍の部分状態密度（pDOS）を直接的に得られるため、材料の電子状態を評価する手法として幅広く用いられています。さらに本手法の特長として、1.バルクの情報が得られる 2.絶縁物に対しても帯電の影響を受けず評価可能 3.検出下限が低い（＜1atomic%）などが挙げられ、特に軽元素(B,C,N,O等)を含んだ材料の評...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【DL可/XPS】XPSによる撥水膜の分析

X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られる…

XPSナロースペクトルを取得し、それぞれC1sスペクトルの状態解析を行うことで炭素の結合の種類と定量値がわかりました。 接触角測定と併用することで撥水性や親水性評価に活用可能です。 この事例では「XPSによる撥水膜の分析」を紹介します ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本XPSに加えGD-OES、オージェなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社