SCCR対応バスバーユニット【UL508A認証制御盤】

PRプラグイン式なら標準シリーズラインナップからご希望の仕様に合わせた品番…

【バスバーユニット】は、UL508Aオープンパネルタイプとなります。 お客様の装置へ組み込むユニットやパネルの一部分のみをUL508A認証品とする事が可能です。 プラグイン式は標準シリーズから品番選定が可能！ フローチャートに沿ってご希望の仕様を選択するだけで幅広いラインナップからお選び頂けます。 弊社は現地要求の SCCR 50kAを満たすことが可能！ また、UL・ETLの制御...

メーカー・取り扱い企業： 布目電機株式会社

アルミ・銅ケーブル用圧縮工具不要　スクリューコネクター

PR銅とアルミも異径接続も標準品で対応、汎用工具でボルトを締付ける簡単な作…

セルパックの『スクリューコネクター』は、ヨーロッパの先進国が採用している 進化したケーブル導体接続方法です。銅とアルミ導体双方に適用し、サイズが共用化されています。 国内在庫をしています。 【特長】 ■圧縮工具やダイスを使わず。汎用のボルト締付工具で作業ができる ■規定トルクでボルトの頭がせん断し、適切な導体接続をおこないます ■トルクレンチなどでトルクを管理する必要はありません ■インパクトレ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社北海道ダイエィテック　 本社

高温ラッチアップ試験

高温状態での動作が要求されるデバイスに！高温でのラッチアップ試験をご紹…

【仕様】 ■温度範囲：50℃～150℃ ■加熱方式：温風による加熱 　（フィクスチャボード上のソケット･デバイス等を熱風発生器で加温） ■制御方法： デバイス付近にセンサーを設置し温度調節器で制御（温度センサ：Pt10...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

超音波顕微鏡『SAM』

非破壊にて観察が可能！内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮！

品等の内部状態、密着性状態の 不具合検出に大変威力を発揮します。 非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、 剥離等の検出ができます。 【仕様(抜粋)】 ■パルサーレシーバー：500MHz ■観察手法：反射法/透過法　両観察手法に対応 ■音響レンズ/反射法：15,25,30,50,80,100,230MHz ■音響レンズ/透過法：15,25,30,50,100MHz ※詳し...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス

高い加工精度と広い加工領域を実現！冷却機能でダメージを軽減しながらの加…

【装置スペック】 ■冷却機能付トリプルイオンミリング装置 ・最大試料サイズ：50×50×10mm ・最大加工幅：4mm ・ピンポイント位置精度：10～20μm ・冷却機能：-150℃まで ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

DMA（動的粘弾性測定）

両持ち梁曲げ、自由支持3点曲げなど多様な測定モードをご用意しております…

【測定モードと試料サイズ】 ■引張り ・長さ：25～55mm ・厚さ：0.001～3mm ・幅：～10mm ・適した材料：フィルム等、単一材料 ■両持ち曲げ ・長さ：50mm ・厚さ：～5mm ・幅：～16mm ・適した材料：板、複合材 ■3点曲げ ・長さ：55, 50, 45mm ・厚さ：～5mm ・幅：～16mm ■ずり（せん断） ・長さ：最大...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【受託分析】レーザー顕微鏡（観察＆測定）

広範囲での観察、計測も可能！レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

【仕様】 ＜対物レンズ倍率：観察測定範囲（横）＞ ■10x：1350μm ■20x：675μm ■50x：270μm ■150x：90μm ＜対物レンズ倍率：観察測定範囲（縦）＞ ■10x：1012μm ■20x：506μm ■50x：202μm ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】シリコンウエハ

測定したシリコンウエハは単結晶！IPFマップ、極点図、逆極点図は比較的…

EBSDで解析したシリコンウエハの事例をご紹介いたします。 ウエハから小片を切り出し、中央50×50μmの領域にてIPFマップを取得。 測定範囲内は、{001}面を表す赤色を示し、また、粒界が見られないこと から単結晶であることが確認できます。 測定したシリコンウエハは単結晶である...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

パワーデバイスの故障解析

ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

・広範囲の観察 ・拡散層観察：　TEM試料加工前に不良箇所近傍にて観察可能 　　　　　　　構造により前処理が必要な場合あり ・FIB-SEM観察：　クラック・形状異常・拡散層観察（～×50k） ・断面TEM観察：　ゲート酸化膜の破壊・転位（～400k） 　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計

新しく装置を導入！試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法を…

析装置：マルチショットパイロライザーPy-3030 ■仕様 ・検出下限：数ppm(測定対象により様々) ・ヘッドスペース：40～300℃　試料サイズ13mm×40mm以下 ・熱分解分析装置：50～1050℃(EGA測定対応可能)　試料サイズ～4mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』

試料の観察や元素分析が可能！半導体、電子部品分野のみならず、ライフサイ…

【仕様】 ■加速電圧：5kV(表面)、15kV(通常、分析) ■最大試料サイズ：70mm ■最大試料厚さ：50mm ■電子銃：タングステンフィラメント ■検出器 ・高感度半導体型反射電子検出器 ・高感度低真空二次電子検出器 ■観察モード ・導電体(分析モード) ・標準 ・帯電軽減(低真空) ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

動的光散乱法による無機粒子の粒径測定

粒径、粒子径分布を求める！水媒体中のシリカ粒子、アルミナ粒子の粒径測定…

【シリカ測定結果・考察】 ■強酸性側に等電点があると考えられる ■pH3～10の領域では、粒子の凝集が起こらない ■50nm以下の粒径を維持 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ラッチアップ試験受託サービス

CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性…

方式・電流定義方式） ■試験前後の保護ダイオード特性測定にも対応します。 ■ソケット、専用基板等の手配・試験ボード作製にも対応します。 ＊VCC電源搭載数：4台（100V/0.5A：1台、50V/1A：3台） 　　　　　　　　　多電源デバイスの対応が可能 ＊電源過電圧法の最大電圧：150V（VCC電圧＋VTパルス電圧⇒最大150V）...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

引張試験

加温環境下での万能材料試験機(オートグラフ)を用いたプラスチックフィル…

度環境下における材料物性試験の対応が可能です。 測定したい材料、物性に合わせて、条件を提案させて頂くことも可能です。 お気軽にご相談下さい。 【試験機仕様】 ■恒温槽温度範囲：-40〜250℃ ■ロードセル：50kN、1kN ■荷重精度：荷重指示値の±1％ ■試験速度：0.0005〜1000mm/min ■移動距離 ・引張試験部：1485mm ※詳しくはPDF資料をご覧...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EELS分析手法による膜質評価

元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です！

に使用するパラメータ：エネルギー損失電子 ■エネルギー分解能：1eV以下 ■長所：状態分析軽元素分析（Li,B） ■短所：広範囲の元素を同時分析が困難 ■測定時間：5s ■TEM試料厚：約50nm以下 <EDS> ■分析に使用するパラメータ：特性X線 ■エネルギー分解能：100eV前後 ■長所：全元素についての分析 ■短所：近接するエネルギーを持つ元素のピーク分離が困難 ■測...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ダイヤモンドのクラリティ観察

マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができま…

【マイクロスコープ　概要】 ■Keyence VHX-5000 ■レンズ：VH-Z50L/VH-Z00R ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス