EMI（エミッション）トータル試験システム　MR2300

PR手近なところでノイズ対策！EMIは事前試験で効率アップ。

MR2300は当社のスペクトラムアナライザ技術、電波暗箱技術およびアンテナ技術を結集した統合システムです。 EMIトータル試験システム ＭR2300の特長 ■追加設備のいらないEMIトータル試験システム アンテナ、EMI用スペクトラムアナライザ、LISN、EMI用PCソフトウェアのみならず、電波暗箱まで全てが揃ったトータル試験システム ■自社開発の小型・広帯域アンテナ 30M...

メーカー・取り扱い企業： マイクロニクス株式会社

VPI成形工程～B型セットから脱型～

PR材料ロス、工数、廃棄物などを大幅に削減！新しい成形法のご紹介

「真空プレス成形」は、材料ロス、工数、廃棄物などを大幅に削減し、 成形サイクルの短縮、寸法安定性の向上、より高品質な外観（又は、より滑らかな積層表面）の形成などを もたらすことが可能なHLU/SPU/L-RTM成形法などに代わる新しい成形法です。 作業者の熟練度に関わらず同じ品質の生産が安定して出来る事だけでなく 昨今、労働安全衛生法第28条第3項改正により、管理措置対象物質となっているスチレン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社GRPジャパン

EDXによる元素分析サービス｜JTL

試料表面に含有される元素(B～U)の定性・定量分析を実施します。

2,000ppmになります。 【カラーマッピングの実施】 分析試料のどこに、どんな元素が、どれだけ存在しているかをカラーマッピングにて表示することが可能です。 【多元素の同時測定】 B～Uの元素が同時に測定ができるため、含有される元素が未知な場合でも検出が可能です。 【短時間での分析】 多元素の同時測定が可能なため、定性定量分析・カラーマッピングが短時間で実施できます。 ...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

WDXによる元素分析サービス｜JTL

材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の分析を実施します。

す。 【微量元素・軽元素の高感度検出】 微量元素は100ppm（0.01％）程度の検出限界になります。（※元素によって異なります。） 軽元素の高感度分析用の分光結晶も装備されていますので、B～Uまでの元素の高精度な定量が可能です。 【微小領域（サブミクロンオーダー）の分析空間分解能】 FE-EPMAは電解放射（FE）型電子銃を採用しており、低加速電圧、WDX分析電流範囲 (10...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

蛍光X線分析（XRF）による受託分析サービス｜JTL

材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。

す。 【微量元素・軽元素の高感度検出】 微量元素は100ppm（0.01%）程度の検出限界になります。（※元素によって異なります。） 軽元素の高感度分析用の分光結晶も装備されていますので、B～Uまでの元素の高精度な定量が可能です。 【多彩な分析手法】 X線による非破壊分析 多元素同時分析（※SQX法） マッピング表示 金属試料の材料判別（SUS、アルミ合金、銅合金） メ...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社