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24件 - メーカー・取り扱い企業
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ブリックレジャパンホイール&キャスター株式会社 設立のご案内
PRBlickle・日本現地法人の設立!世界各国において事業拡大していきま…
日海KMO有限会社は、2024年4月11日をもって、ホイール・キャスター 関連事業を、ブリックレジャパンホイール&キャスター株式会社に 分割することとなりました。 Blickle社では、30,000を超える「Made in Germany」品質の 製品群を標準品として取りそろえ、様々な用途に適した製品を提供。 日本に新たなBlickleグループの販売会社を設立することで、世界的な...
メーカー・取り扱い企業: 日海KMO有限会社
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簡単導入!電子実験記録ノート『BIOVIA Notebook』
PR【使用開始にあたり特別な準備やトレーニングが不要!】シンプルな画面構成…
電子実験ノート 『 BIOVIA Notebook 』は簡単に導入・運用できるELN/電子実験ノートで、研究開発部門のDX化推進に好適なツールです。 実験業務において、研究開発のスピードUP、コスト削減、 組織間情報共有を実現することで研究開発でのイノベーションを促進します。 過去には数億円規模でのコストダウンや4,000ユーザの運用でも専任不要の実績がございます。 また BIOVIA Note...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ウェーブフロント 本社
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【分析事例】環境制御in-situXAFSによるRuO2触媒評価
着目のガス雰囲気・温度条件下での測定が可能
in-situ XAFSは、試料周りの環境を着目に応じたガス雰囲気・温度に制御した条件下で、試料の化学結合状態・局所原子構造が評価できます。そのため、触媒等、特殊な環境での状態評価が必要な場合に適しています。本資料では、in-situ XAFSを用いてRuO2粉末を還元雰囲気下で室温から400℃まで昇温させ、RuO2の状態変化を捉えた事例をご紹介します。スペクトルの形状から、100℃~200℃の間...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…
【要旨】 LIB正極活物質LiCoO2について、TPD-MSによるガス分析とin-situ 昇温TEM法の2つのin-situ 昇温手法を用いて、昇温時におけるLiCoO2粒子の発生ガスと形態・組織・構造変化の関係性を調査した。その結果、ガス発生は構造変化と密接な関係にあることが示された。充放電挙動と酷似した変化も認められ、温度をパラメータにした一連の測定結果は、実材料を解析する上でも重要な知見...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター
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技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…
【要旨】 近年、高感度ならびに低消費電力デバイスの需要が高まり、スピントロニクス分野では磁気メモリや磁気センサーなどが注目を集めている。これらのデバイスには、高い磁気抵抗効果が得られることからMTJ(magnetic tunnel junction)構造が広く用いられている。このMTJ構造は数nm程度の薄い積層膜から成り、原子レベルでの膜厚やラフネスおよび結晶性が特性を左右する。また、アニール温...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター
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技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…
【要旨】 in situ分析技術は、充放電中の電極活物質の構造変化解析や電池内での反応分布を直接観測するために不可欠であり、この技術を活用することで、材料開発やセル設計を進める上で、重要な知見を得ることができる。また、電池を駆動させながら、ということに限らず、電池材料の熱安定性や化学構造の温度依存性を知ることは、製品の性能改善のために有効である。本稿では当社で取り組んでいる、充放電や温度変化など...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター
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高調波センサにて測定!動力棟系統のケーブルに絶縁異常の兆候が見られた事…
当社の高調波診断器にて、ケーブル診断を実施した事例をご紹介します。 測定箇所は特高変電所側(IN側)、サブ変電所側(OUT側)。 ケーブルIN側、OUT側の各相を高調波センサにて測定。 ACモータのモードで計6回測定を行いました。 診断により、動力棟系統のケーブルに絶縁異常の兆候が見...
メーカー・取り扱い企業: 日本メカトロン株式会社 大阪事業所
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サンプル内部の形状変化をin situで測定・解析
試料に応力(引っ張りもしくは圧縮)をかけた状態でX線CTによる内部構造分析を行うことが可能です。 本資料では、発泡ゴムを例として、通常状態と伸ばした状態においてin situ X線CT測定を実施し、取得したCT像から気泡の体積変化を解析しました。 in situ X線CT測定と画像解析技術を組み合わせることで、従来では評価が困難であった実使用条件下での評価や応力による製品への影響の評価が可能で...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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PICWave (Photonic IC/Laser /SOA)
PICWave は、アクティブデバイスを含む(半導体レーザ・SOA)光…
PICWave is a photonic integrated circuit (PIC) design tool which brings together: an advanced laser diode and SOA model, a powerful photonic integrated circuit (PIC) design and simulation tool, a f...
メーカー・取り扱い企業: CTflo株式会社
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【展示会出展】ドローンなどの新技術による橋梁点検支援技術のご案内
【ブースにてプレゼン資料進呈】12/7に出展者セミナー講演!新技術を用…
性能カタログ」「NETIS」掲載技術である「非GNSS環境対応型ドローンやポールカメラを用いた近接目視点検支援技術」や、建築構造物における外壁調査の新しい技術として「外壁点検昇降ロボット~NOBORIN~」など、弊社技術・現場事例をご紹介させていただきます。 また、12月7日(木)15時20分~15時40分に、「現場導入事例から見る。新技術を活用した構造物点検~点検支援技術性能カタログ、NE...
メーカー・取り扱い企業: 三信建材工業株式会社 本社、豊橋支社、岡崎支社、浜松支店
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技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…
【要旨】 TEMベースの結晶方位解析システム“ASTAR”を用いると、SEMをベースにしたEBSDよりも高い空間分解能が実現可能である(各種EBSD法の空間分解能が数十 nm程度に対してASTARを用いたACOM-TEM法では2~5 nm)。また、識別できる結晶構造が多いことも特長である。通常のTEM解析では取得困難な結晶方位マップ、結晶相マップおよび粒径分布などを得ることで定量的な解釈が可能で...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター
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低価格・高精度・正確な非破壊検査 15万円~/1 検体
15万円(税別)~/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-鋳巣分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名:汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管: 190-300kV 送信...
メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社
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『X線・超音波を用いた非破壊分析の基礎と事例』※希望者全員に進呈
非破壊分析の手法(超音波顕微鏡法・X線CT法)の基礎的な解説や、代表的…
MSTは、非破壊検査の受託分析サービスを行っています。 実際の分析事例や、分析手法の基礎的な解説を掲載した冊子を ご希望の方全員に無料でプレゼント中です。 【掲載内容(一部)】 ■X線・超音波を用いた非破壊分析の手法紹介 ・超音波顕微鏡法 ・X線CT法 ・in situ X線CT測定 ■分析事例 ・炭素繊維強化プラスチック(CFRP)内部の繊維配向解析 ・発泡...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円~/1 検体
5万円(税別)~/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名:汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管: 190-300kV 送信ターゲット X...
メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社
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FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。
半導体デバイス、MEMS、TFTなどナノスケールの精度で製造される エレクトロニクス製品の構造解析を行うための新たな手法: クロスビームFIBにより断面観察をご提案いたします。 ...半導体デバイス、MEMS、TFTトランジスタなど ナノスケールで製造されるエレクトロニクス製品の構造解析を クロスビームFIBによる断面観察で行います。 1)FIB加工をリアルタイムで観察できるため目...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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サンプル表面の形状変化をin situで評価
高分子には、温度や湿度・溶媒等の環境によって形状が変化する素材があり、評価する際の環境条件を変化させることで物性の知見を深めることができます。 今回は生分解性プラスチックで知られているポリカプロラクトン(PCL)を用いて加熱・冷却実験を行いました。ポリカプロラクトンは融点が約60℃であり、加熱により結晶状態からアモルファス状態へと変化する様子を、また冷却により再結晶化する様子を連続測定により動画...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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昇温過程での相転移・結晶性変化を追跡評価
Pt をSi 基板にスパッタ蒸着させた試料に対して、昇温させながらOut-of-plane XRD, In-plane XRD 測定をそれぞれ行いました。両測定で、Pt(111) は500℃より高い温度ではピーク強度が増加し、半価幅が小さくなり、結晶化が進行していることが分かりました。 また、温度が上昇するにつれ、熱膨張によりピークが低角度側(格子間隔が広がる方向)にシフトしていることを確認でき...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ITO表面プラズマ処理後のUPS分析
半導体デバイスでは、構成される各種材料の仕事関数の組み合わせにより、その性能が大きく左右されます。このため、表面処理や表面修飾等によって仕事関数を制御しようとする試みがなされており、それらの効果を検証することは重要です。 本資料では、有機ELや太陽電池等の電極材料として用いられるITO(SnドープIn2O3)について、表面プラズマ処理前後での仕事関数変化をUPS分析により評価した例をご紹介します...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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昇温しながらXRD測定が可能
材料が昇温に伴って化学反応・相変化を経て結晶構造に変化が起こる場合、昇温しながらXRD測定を行うことが有効です。高温XRD測定を行うことで、硫酸銅五水和物の熱分解生成物の同定を行った事例を紹介します。測定の結果、熱分解が起こる温度で回折ピークが変化し、結晶構造が変化する様子を明瞭に確認できました。 MSTでは昇温しながらOut-of-plane XRD測定・In-plane XRD測定を行うこと...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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近縁微生物間でのでゲノム配列やアミノ酸配列の違いを提示するサービスをお…
ノム株間比較サービス』は、PacBioにより得られたほぼ完全長のコンティグ配列を使用して比較を行うサービスです。 構造を外観してどの程度の違いがあるのかを確認し、 その上で違いのある領域(SNP、IN/DEL、Inversion、translocation)の遺伝子を提示し、 さらに、アミノ酸配列の違いなどを提示します。 遺伝子予測情報は、2種類の予測パイプラインの結果をマージしたものを納品し...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社メイズ
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【分析事例】PtRu触媒の雰囲気・温度制御下での金属価数評価
ガス雰囲気・温度を制御した条件での化学状態評価が可能
カーボン担持PtRu(PtRu/C)触媒は燃料電池のアノード(燃料極)触媒として使用されています。低コスト化を目的にPt使用量の削減が求められており、盛んに研究開発が進められています。燃料電池駆動条件下の触媒の状態を評価するためには、試料のガス雰囲気・温度を制御したままその場観察をするin-situ XAFSが有効です。本資料では、in-situ XAFSを用いて実際に燃料電池として用いられるガス...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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XRDその場測定により、充放電過程の結晶構造評価が可能です
in-situ XRD測定を行うことで、充電前後および充電中の正極活物質の結晶構造を評価することができます。正極活物質として現在注目されているLiFePO4についてin situ-XRD測定を行いました。充放電過程における、LiFePO4相がFePO4相に可逆的に変化する様子を捉えました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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表面の凹凸の影響を受けない高精度な測定が可能です
太陽電池では太陽光を有効に吸収するために表面凹凸を活用しています。SIMS分析を行う上で、表面の凹凸は深さ方向分解能の低下を招きます。表面からの測定では表面凹凸及びノックオンの影響により、CIGS中へCd, Zn, Oなどが拡散しているように見えます(図3)が、基板側(裏面側)から測定することにより、Cd, Zn, OなどのCIGS層中への顕著な拡散がないことがわかります。(図4) 相互拡散の他に...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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GaN系LEDの主成分元素の組成を深さ方向に評価可能
一般的にSIMSでは含有量が%を超える主成分レベルの元素の定量性は低いとされていますが、一次イオンにCs+を用いたMCs+(M:着目元素)検出モードを用いることで、主成分元素の深さ方向の組成分布を求めることが可能です。 GaN系LED構造におけるAl,Ga,Inについて、深さ方向の組成評価を行った例を示します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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