• 異物混入リスクを低減できる減圧弁<FOOMA JAPAN出展> 製品画像

    異物混入リスクを低減できる減圧弁<FOOMA JAPAN出展>

    PR「FOOMA JAPAN 2024」にサニタリー減圧弁(接液部に摺動部…

    -サニタリー減圧弁- 当社では、ピュアスチーム・クリーンスチーム用の減圧弁を提供しています。 液溜まりの無い構造でサニタリー性が良いほか、 接液部には摺動性がないため、異物混入リスクを低減できます。 【仕様】 ■作動方式:直動式 ■本体材質:SUS316 ■接液部仕上げ:バフ#320~400+電解研磨 ■サイズ:15A~3S ■設計温度:158℃ ■設計圧力:0.5MPaG ■...

    メーカー・取り扱い企業: トーステ株式会社

  • SMT実装機(基板実装機)『SIPLACE TX micron』 製品画像

    SMT実装機(基板実装機)『SIPLACE TX micron』

    PR0201mサイズの極小部品に対応。サブモジュールやSiPなどの先端パッ…

    『SIPLACE TX micron』は、最小±10 μm (3σ)の精度に対応した 先端パッケージング用途に適した表面実装機です。 基板への接触を検出してから部品を離す“圧力制御”により 基板の反りや振動を抑えつつ、はんだブリッジといった不良も防止。 角度の誤差が少なく、狭隣接で実装できるほか 0201 mサイズの極小部品の実装に対応可能です。 【特長】 ■最大実装速度...

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    メーカー・取り扱い企業: ASMPT Japan株式会社

  • イオンミリング装置による受託サービス|JTL 製品画像

    イオンミリング装置による受託サービス|JTL

    機械研磨では潰れて観察できない構造をきれいに面仕上げします。

    イオンミリング装置とは試料の表面に非常に弱いアルゴンイオンビームを照射することで、観察・分析用の研磨・エッチングを行う断面研磨装置です。 従来の機械研磨では、銅やアルミ材などの軟質材では研磨面が潰れたり、ダレが発生し、セラミックやシリコンなどの硬質材では割れやクラックが発生しましたが、イオンミリング装置ではこれらの問題を解消し、きれいで損傷のない観察面が得ることができます。 イオンミリング装置...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • WDXによる元素分析サービス|JTL 製品画像

    WDXによる元素分析サービス|JTL

    材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の分析を実施します。

    EPMA、FE-EPMA、XRFの分析方法である波長分散型X線分析法(WDX)を用いて、微量元素・軽元素の受託分析サービスを実施致します。 WDX装置はエネルギー分散型X線分析装置(EDX)よりも波長分解能が優れており、微量元素や軽元素の検出感度が高い分析が可能です。 そのため金属材料の判別や微量元素の拡散状態の分析、異物の分析等の微量元素分析にご利用いただけます。...【優れたエネルギー分解...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • 受託観察・分析サービス|JTL 製品画像

    受託観察・分析サービス|JTL

    問題解決力で最適な観察・分析方法をご提案致します。

    断面研磨、表面・断面観察、非破壊検査、元素分析、化学分析をサービスの中心として、解析目的に合った各種の観察・分析方法をご提案いたします。 ■解析目的に合った観察・分析方法をご提案 試料の材質・状態、解析の目的など各種の条件によって、観察・分析の方法にも選択肢が数多く存在します。その選択肢の中からより適切な方法をご提案いたします。 ■短納期・低価格のご対応 観察・分析のアウトソーシ...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • FE-EPMAによる受託サービス|JTL 製品画像

    FE-EPMAによる受託サービス|JTL

    電界放出型電子プローブマイクロアナライザ(FE-EPMA)による微少領…

    FE-EPMA(電界放出型電子プローブマイクロアナライザ)を使用して、SEM像の撮影及びWDX(波長分散型X線分析装置)による元素分析を行います。 EDXによる元素分析よりも定量精度が良く(±数100ppm~数1,000ppm)、汎用型のEPMAよりも分析の空間分解能が良い(サブミクロンオーダー)ことが特徴です。 厚みが数100nmの薄膜の断面分析や、接合部分の微量元素の拡散状態の分析などにご...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • 蛍光X線分析(XRF)による受託分析サービス|JTL 製品画像

    蛍光X線分析(XRF)による受託分析サービス|JTL

    材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。

    蛍光X線分析装置(XRF)を用いて、微量元素・軽元素の高感度分析を実施致します。 弊社所有の蛍光X線分析装置(XRF)は波長分散型X線分析法(WDX)を採用しており、高精度な定性・定量分析を実施することが可能です。 WDXはエネルギー分散型X線分析法(EDX)よりも波長分解能が高く、微量元素や軽元素の検出感度にすぐれています。金属試料の材料分析(判別)やセラミック試料の材料分析、メッキの膜厚測...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • EDXによる元素分析サービス|JTL 製品画像

    EDXによる元素分析サービス|JTL

    試料表面に含有される元素(B~U)の定性・定量分析を実施します。

    エネルギー分散型X線分析(EDX)による元素分析サービスでは、EDX装置から電子線を試料に当てることで励起される特性X線のエネルギーを測定し、得られるスペクトルから試料表面の元素分析を実施致します。 試料表面のどこに、どのような元素が(定性)、どれぐらいの量(定量)含まれているかを分析することが可能です。 ...【数1,000ppmオーダーの定量精度】 定量精度は元素によって異なりま...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

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